浅析正态分布在计量学中的现实意义

正态分布是一个在数学、物理及工程等领域都非常重要的概率分布，有极其广泛的实际背景，在统计学的许多方面有着重大的影响力。生产与科学实验中很多随机变量的概率分布都可以近似地用正态分布来描述。在计量学中，正态分布经常用于表述测得数据在数值区间内的分布情况。本文通过分析生活实际中的概率学和统计学的实例，简要概述正态分布在计量学中的现实意义。     

面目标打击精度分析方法研究

针对面目标打击中的水平攻击和垂直攻击两种情况,分析了导弹落点分布的特点,给出了导弹落点服从二维正态分布的推导过程和认为导弹落点纵向、侧向(或高度方向、侧向)独立分布的原因,并结合模型分析了随机因素对脱靶量的影响.推导了当导弹落点服从二维正态分布时圆概率和圆概率偏差的理论计算公式.     

槽轮机构的误差分析

作者运用概率论和数理统计方法.分析了槽轮机构本身的加工精度与其分度误差的关系,推出了按分度误差值确定槽轮机构尺寸公差的计算公式.     

基于激光雷达和特征地图的车辆智能定位研究

针对激光雷达采集行驶车辆的三维点云数据中包含过多畸变数据，影响车辆定位效果的问题，本文研究一种基于激光雷达和特征地图的车辆智能定位方法。激光雷达利用基于飞行时间的激光测距法，采集车辆及其行驶环境的三维激光点云数据，去除激光点云数据中的畸变数据。利用正态分布变换方法，优化删除畸变数据的点云集的正态分布概率值，配准三维激光点云数据。从完成配准后的三维激光点云数据中，提取柱状物体的圆形特征，构建车辆行驶的自然柱状特征地图。利用卡尔曼滤波算法，结合自然柱状特征地图信息，实现高精度的车辆智能定位。实验结果证明：该方法可以精准定位车辆目标，车辆智能定位精度较高，最高可达到97%,定位效率较好，最短可在5 s时间内完成定位，具有一定应用价值。     

计算机在正态分布教学中的应用

以正态分布为例，论述利用计算机的模拟功能和图解功能进行概率统计教学，不仅能使繁杂费时的数据处理和画表作图变得简单易行，还能模拟试验，将一些概念定理的抽象过程具体细致地再现出来，增强学生的感性认识，收到良好的教学效果。     

小人的正态分布

有朋友幸识一大师，请他帮忙查查牛年运程，回话日：犯小人，须当心；但亦有贵人相助，应无大碍。听罢不禁哑然失笑，想这十几年来，哪一年没有个把小人，但又有哪一年没有遇到贵人呢？     

水文变量系列小概率数据的处理与判定方法

为了提高水文变量经验频率分析估算的精度,从水文变量系列分析的基本情况出发,充分考虑到在连续系列中出现小概率数据的情况,可采用数理统计中的假设检验和误差分析理论,对连续系列中可能存在的小概率数据进行验证,进而判定其重现期。     

刍议工程质量控制的统计分析

针对工程建设的施工质量特点,重点分析工程质量中涉及数据统计推理的依据,对具体特征值定性分析,从而得出概率数理统计归纳总结分布类型,体现特征值的各自作用。     

尘埃粒子计数信号幅度的对数正态分布

对尘埃粒子计数器计数信号幅度统计分布进行了研究,试验表明粒子光散射脉冲信号幅度分布并不具有严格的对称性.在光电传感器检测阈值附近,单径粒子脉冲信号幅度分布半宽度与信号幅度平均值相近时,与均匀划分电压通道对应的信号幅度服从对数正态分布.计算结果证明,在相对于平均值的离散度σ1的条件下,对数正态分布将趋近于正态分布.     

基于对数正态分布参数判别加速实验中失效机理一致性

The failure mechanism stimulated by accelerated stress in the degradation may be different from that under normal conditions, which would lead to invalid accelerated life tests. To solve the problem, we study the re- lation between the Arrhenius equation and the lognormal distribution in the degradation process. Two relationships of the lognormal distribution parameters must be satisfied in the conclusion of the unaltered failure mechanism, the first is that the logarithmic standard deviations must be equivalent at different temperature levels, and the second is that the ratio of the differences between logarithmic means must be equal to the ratio of the differences between reciprocals of temperature. The logarithm of distribution lines must simultaneously have the same slope and regular interval lines. We studied the degradation of thick-film resistors in MCM by accelerated stress at four temperature levels （390, 400, 410 and 420 K）, and the result agreed well with our method.