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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
当前的防病毒产品主要包括桌面级、服务器级和网关级三种.对于网关级防病毒产品来说,如何提升大流量下的病毒扫描速度是目前面临的主要挑战.网络安全公司CP Secure推出一种"串流扫描技术",能在安全网关接收到一部分数据包的时候就开始进行内容扫描.使得接收、扫描、发送三个步骤同时进行,有效缩短了病毒扫描的时间.  相似文献   

2.
本文主要介绍PRS-82型图象处理(模式识别)系统中的飞点扫描装置和图象处理软件.高 分辨率飞点扫描装置的图象输入可信灰级为64级,输出图象可信灰级大于32级.图象软件 包括十类图象处理命令、多种格式的图象输入/输出命令及工具命令等120余条.  相似文献   

3.
赵民谈飞机测试的关键技术研究1)推进关键技术的深化研究.建立适应二级维修体制的测试与计量保障技术体系,针对目前的弱势环节重点抓好关键技术的深化研究工作。测试基础支撑技术.子系统/成品级测试和验证;全机系统级测试和验证。2)边界扫描测试技术研究.建立复杂电子系统基于边界扫描的层次型可测试性模型,为新一代飞机航空电子系统的测试性设计和故障诊断提供支持,主要参考联合测试行动组JTAG(joint testaction group)起草的边界扫描测试BST(boundary  相似文献   

4.
随着嵌入式测试概念的产生,边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌入式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新研究方向;嵌入式边界扫描是电路板级故障检测的必然发展趋势;文中首先介绍了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种嵌入式边界扫描测试数据压缩及合成方法,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成及下载,最后以某数字电路板为对象进行了嵌入式边界扫描测试验证,并给出结论;总体上,嵌入式边界扫描测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本.  相似文献   

5.
针对场景扫描深度图数据量大、匹配误差累积导致重建结果漂移以及耗时高的问题,提出一种场景级目标的稀疏序列融合三维扫描重建方法.首先,对深度图序列采样以筛选支撑深度图;其次,在支撑深度图子集上划分扫描片段,各扫描片段内执行深度图匹配融合生成表面片段;再次,利用表面片段几何特征执行局部多片段间的连续迭代配准,优化各扫描片段的相机位姿;最后,融合支撑深度图序列生成场景目标三维表面.在消费级深度相机采集的深度图序列和SceneNN与Stanford 3D Scene这2个公开数据集上进行测试,将稀疏序列融合与稠密序列融合方法进行比较.实验结果表明,该方法可将配准过程的均方根误差降低16%~28%,使用8%~54%的数据量即可完成稀疏序列融合,运行时间平均缩短56%;同时,增强了扫描过程的有效性和鲁棒性,显著地提高了扫描场景的重建质量.  相似文献   

6.
本文将从边界扫描路径,测试体系结构,测试状态定义,测试指令安排与板级测试策略五个方面,介绍VLSI电路可测试性设计的JTAG方式.  相似文献   

7.
为提高电路的调试性并降低逻辑资源消耗,提出一种用于硬件模拟平台的扫描链插入方法,利用FPGA中未被完全使用的逻辑资源实现了扫描逻辑.首先在网表中找出所有连接到D触发器输入端的部分使用查找表;然后采用逻辑混合的方法修改查找表内容和引脚连接,将D触发器改为扫描触发器;最后将所有扫描触发器前后相连,构建扫描链.该方法工作在网表级,与现有FPGA开发流程兼容,便于与现有工具集成.对15个不同规模ITC’99基准电路进行实验的结果表明,该方法可平均减小22.9%的逻辑资源消耗.  相似文献   

8.
以提高复杂电子设备系统级测试能力为目的,在对边界扫描技术进行研究的基础上.论述和总结了基于边界扫描的电子设备系统级测试的硬件结构、测试方案和测试装置,并提出了软件系统的结构设计;同时,按照IEEE1149.5标准的MTM—BUS总线进行了结构设计和功能仿真;实验结果表明,基于边界扫描的系统级测试技术能够广泛应用于现代电子设备,特别是MTM—BUS总线结构具有快速、准确、简单等特点;该研究和设计不仅对复杂电子设备系统级测试技术进行了总结,而且对改善电子设备系统级测试性能具有十分重要的指导意义。  相似文献   

9.
基于边界扫描的电子系统故障诊断技术研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
电子系统的发展对其测试与故障诊断提出了更高的要求;边界扫描技术为芯片级、电路板级以致系统级测试提供了一套高效的标准化手段,但其应用也增加了电路的复杂性;以某电路板级系统为原型,进行了基于边界扫描的测试设计,构建了边界扫描测试系统;将贪婪策略应用于测试性优化设计中,通过置换简化、定性分离等方法,综合权衡设计复杂性和测试性改善;在互连测试实验中得到的结果与注入的故障模型相符,说明利用边界扫描机理能够准确地定位故障,得到了预期结果。  相似文献   

10.
冉峰  唐敏  季渊 《微计算机信息》2012,(9):19-20,26
本文将分形算法应用于2048级高灰度平板显示的扫描映射,使用平板显示系统灰度图像的最优扫描结构及分形模型,以解决平板显示系统扫描形成灰度图像过程中的时间冗余问题。由分形扫描核心模块,得到了相应的每个扫描时间对应的子空间码和位码序列进行扫描,然后通过检测模块验证了2048级高灰度分形扫描方法的准确性,最终由硬件系统验证了2048级高灰度分形扫描的可实现性。  相似文献   

11.
Foundstone Enterprise RiskSolution企业级弱点评估管理系统,采用仿真黑客行为模式的人工智能扫描技术,针对暴露在网络上的主机与网络服务信息进行扫描分析,有效祢补一般网络安全扫描工具的缺点与被忽略的问题。  相似文献   

12.
为快速准确地检测出一张硅片上数百个MEMS扫描镜的良品与次品,设计了一种自动测量系统.选用高精度二维位置敏感探测器(PSD)设备,设计其后置硬件电路并编写数据采集的程序.结合经典三角法测量角度的原理搭建自动检测系统,在室温和正常光照条件下,完成了MEMS扫描镜光学性能圆片级自动检测的实验.结果表明:该系统能够快速准确地同时对扫描镜的两个轴进行检测并给出结果.  相似文献   

13.
Kinect扫描数据驱动的几何建模方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对Kinect设备单视角扫描所得不完整点云数据,提出了一种快速三维建模方法.利用互联网上丰富的已有同类三维模型为资源进行三维建模,建模过程主要包括3个阶段:1)通过三维模型库的语义部件标注对所需建模的点云数据和图像数据进行结构分析,获得相应的部件级分割结果;2)利用点云和图像分割所得的部件级信息在三维模型库中搜索与其匹配的各部件;3)对搜索得到的部件进行组合,以获得与扫描模型相似的最终模型.实验结果表明,该方法能够快速、高效地完成对Kinect设备扫描所得的残缺点云数据的模型重建.  相似文献   

14.
行场扫描电路是显示器电路中的很重要的组成部分.行扫描电路由行振荡器、行鉴相器、行激励级、行输出级组成;场扫描电路由场振荡器、杨锯齿波形成电路、场激励、场输出级等组成。目前的彩色显示器大都采用了专用行场扫描电路集成芯片。如:行场信号处理器HA11235,行扫描信号处理器TDA1180、MC1391,场扫描信号处理器TDA1170等。行场扫描电路的主要作用是分别给行场偏转线圈提供具有一定幅度且线性良好的锯齿波电流,当有同步信号输出时,还要求光栅与主机送来的行场同步信号保持严格的同步。另外,行扫描电路还要为显像管提供正常工…  相似文献   

15.
二进制形式的第三方插件是威胁计算机安全的主要来源之一.经分析,目前可用于抵御第三方插件安全威胁的安全检查和分析机制具有较大局限性和低效性.对此本文给出一种静态扫描和运行时动态检查相结合的指令级信息流机密性检查框架,对其中的指令扫描与调谐、机密信息注册等关键问题给出具体解决方案,制定了示例安全策略,结合实验结果验证了该机制的可行性和有效性.  相似文献   

16.
本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题,给出了一种开关级扫描插入方法,较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题,改进了测试时间问题。该方法对门级扫描设计有指导意义。  相似文献   

17.
胡莲 《测控技术》2005,24(4):14-16,26
边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径.本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连测试,测试结果分析表明系统可以检测出被测对象的故障类型.  相似文献   

18.
文章对LED大屏幕视频控制系统中的灰度扫描方法进行了讨论,提出了256级灰度扫描时的实现方案,并用Lattice公司砷LSI器件实现256级灰度LED大屏幕视频控制系统的控制电路。  相似文献   

19.
边界扫描在PCB缺陷测试中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
硬件系统的规模越来越大,复杂程度越来越高,对其进行测试也越来越困难,边界扫描技术很好地解决了传统测试的不足。通过分析边界扫描技术在PCB缺陷测试中的应用原理,提出了一种可以广泛应用、低廉高效的边界扫描测试方法-PPT,实现对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能。  相似文献   

20.
基于边界扫描技术的板级机内测试研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
贺益辉  程红等 《自动化博览》2000,17(6):21-22,25
本文介绍了边界扫描技术及其边界扫描的板级BIT技术的基本原理,并在此基础上提出了一种板级BIT的实现方案,介绍了测试内容及用到的指令模式。  相似文献   

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