基于边界扫描的星载计算机可测性设计

叙述了可测性设计（Design For Test／Testability，DFT）的概念和常见方法，其中边界扫描技术是目前应用最为广泛的可测性设计方法。本文在对边界扫描技术的基本原理予以介绍后，结合星载计算机的特点设计了一种基于边界扫描的可扩展的层次化可测性设计结构，能够通过边界扫描进行芯片级、板级乃至系统级的测试。     

基于BIT的导弹测试与诊断技术

BIT技术是实现可测试性设计的重要技术手段之一,将其应用到导弹测试与诊断领域,能有效提高其测试与诊断效果;目前,基于BIT的导弹测试与诊断主要依靠的是弹上总线技术和边界扫描技术,利用边界扫描技术获取相关的测试信息,利用弹上总线进行有效的信息传输与共享.并通过BIT综控计算机进行最后的故障诊断;文中对有关的热点技术包括全弹综合BIT体系构建技术,导弹BIT设计技术、BIT测试向量生成技术、导弹BIT验证技术等多项内容进行了阐述,最后给出了BIT在导弹系统应用中的发展趋势.     

基于P89V51的板级BIT设计

机内测试BIT(Built-In Test)是指设备依靠自身电路和程序来完成对系统的故障诊断和隔离,是一种能提升系统测试性和诊断能力的重要技术。本文介绍了一种用P89V51单片机实现板级的检测和故障诊断技术,同时通过CAN总线向系统上报板级BIT结果。     

一种嵌入式边界扫描测试数据压缩及合成方法

随着嵌入式测试概念的产生,边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌入式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新研究方向;嵌入式边界扫描是电路板级故障检测的必然发展趋势;文中首先介绍了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种嵌入式边界扫描测试数据压缩及合成方法,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成及下载,最后以某数字电路板为对象进行了嵌入式边界扫描测试验证,并给出结论;总体上,嵌入式边界扫描测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本.     

从1149.1标准到1149.7标准分析边界扫描技术的发展

边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,其主要优点在于用极少的电路引脚解决了极为复杂的电路测试问题;伴随着边界扫描技术的发展,已经具有IEEE1149.1、IEEEIEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6等多个标准,它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试;文中对边界扫描的多个协议标准进行了介绍和分析,着重讨论了各个标准的体系结构及功能,最后介绍了边界扫描技术面临的挑战及今后的发展方向。     

模拟和混合信号BIT技术

BIT技术在数字电路测试中取得了巨大的成功.而模拟电路的特点决定了BIT技术在其应用存在一定的难度.笔者对模拟和混合扫描总线、模拟BIT、混合BIT技术的概念和应用现状分别做了介绍.     

类蜂巢结构快速样机平台的可测试性设计

类蜂巢结构快速样机平台(HLRESP)是一个基于现场可编程门阵列(FPGA)的通用样机平台，采用类似蜂窝状的系统结构。根据该样机平台特点，采用边界扫描技术进行板级和系统级的可测试性设计，扫描链路可以灵活配置，不仅能实现边界扫描测试，还能实现对可编程器件的在线编程，方便了样机平台的测试和调试工作，缩短了系统开发周期。     

基于FPGA的板级BIST设计和实现策略

为解决复杂电路板的测试问题,边界扫描、内建自测试等可测性设计技术相继发展,针对目前板级可测性设计发展状况,提出了基于FPGA的板级BIST设计策略;通过阐述存储器模块、逻辑模块和模拟模块三大部分的BIST设计,说明了基于FPGA进行板级模块BIST设计的灵活性和优势;最后,给出了在FPGA内构建BIST控制器的方法,并介绍了FPGA自测试的实现以及在板级设计过程中要考虑的问题。     

边界扫描技术的功能测试应用

随着芯片集成度的提高和表面贴装技术(SMT)的广泛使用,传统的针床在线测试已不再适合使用,而边界扫描技术在芯片级、板级、系统级测试得到广泛使用将是一种必然趋势。与传统边界扫描技术生成测试矢量进行结构化的静态测试不同,功能测试程序可采用高级语言开发,易于开发和维护。本文介绍了使用边界扫描技术对DDR模块进行动态的功能测试,该功能测试程序可快速准确测试出高速DDR模块数据线、地址线及存储单元是否能正常工作,并输出测试诊断信息。在此基础上,本文对该测试程序进行了改进。     

组合导航系统的系统级BIT设计

为提高某SINS／GPS组合导航系统的可靠性、维修性和测试性，针对该系统进行了系统级BIT测试需求分析，并在此基础上，应用系统级BIT测试性设计技术，设计并具体实现了该系统的系统级BIT。实验结果表明，所设计的系统级BIT完全满足该组合导航系统的测试需求。     

基于VXI总线的多功能边界扫描控制器的研制

根据系统级边界扫描测试技术的需求，研制了基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器，具备三种操作模式：IEEE1149．1TAP模式、IEEE1149．5主控制器模式和从控制器模式；由上位机控制模件组态到期望的模式，模件上的TAP口控制器产生1149．1测试信号，提供给JTAG口用于通过TDO／TDI扫描链对被测目标板进行边界扫描测试；IEEE1149．5主控制器可完成和从控制器间的通讯以便对机箱或子系统级中可测试性模件进行边界扫描测试，兼容于BSDL和EDIF文件格式的自动测试向量生成软件可实现多种扫描测试功能。     

FPGA芯片中边界扫描电路的设计实现

应用在FPGA芯片中的边界扫描电路侧重于电路板级测试，兼顾芯片功能测试，同时提供JTAG下载方式。FPGA芯片的规模越来越大，引脚数目越来越多，边界扫描单元也随之相应增加。在此情况下，边界扫描电路设计时为了避免移入错误数据，对时钟偏差提出了很高的要求。同时，由于扫描链包含大量的边界扫描单元，在板级测试时，大大降低了有效测试速率。针对这两个问题，提出了对边界扫描单元的改进方式，改进后的边界扫描电路不仅可实现测试、编程功能，而且大大提高了电路抗竞争能力，保证电路正常工作。改进后的电路使边界扫描寄存器链的长度可以改变，使有效测试速率提高了20倍左右。     

基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案

为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;嵌入式测试性设计,是将自动故障检测和诊断功能内置于电路板中,利用嵌入式测试控制器,在UUT内部实现故障检测;边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌人式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新发展方向;文章首先概述了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成技术,最后以数字IO电路板为对象进行了测试性设计与验证,并给出结论;总体上,嵌入式测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。     

边界扫描在PCB缺陷测试中的应用

硬件系统的规模越来越大，复杂程度越来越高，对其进行测试也越来越困难，边界扫描技术很好地解决了传统测试的不足。通过分析边界扫描技术在PCB缺陷测试中的应用原理，提出了一种可以广泛应用、低廉高效的边界扫描测试方法-PPT，实现对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能。     

用户定制边界扫描结构的设计与自动实现

边界扫描是一种标准化的可测性设计体系结构,已被广泛应用于板级测试、系统片上调试以及IC编程;Longtium R2+微处理器的边界扫描设计采用EDA工具BSD Compiler自动完成,缩短了设计和验证周期;主要介绍了BSD Compiler的设计流程及配置要点,并结合Longtium R2+边界扫描逻辑的具体实现方案,提出了一种利用边界扫描逻辑实现对系统内部逻辑观察与控制的机制。     

数模混合电路互连测试矢量自动生成的实现

测试矢量的自动生成研究一直都是板级边界扫描互连测试中的重点，针对数模混合被测电路的不同结构类型，特别是多扇出类型结点相连的复杂情况，建立了具有代表性的互连结构测试模型；在此模型的基础上提出可进行完备性测试矢量的自动生成算法并用软件加以实现；利用该算法，对实际DEMO板上的芯片进行了互连测试，测试结果表明该算法满足板级边界扫描互连测试的矢量自动生成要求。     

基于边界扫描的存储器BIST技术

近年来,随着信息化装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加,迫切需要基于边界扫描的BIST技术;在这种应用模式中,基于边界扫描的BIST技术能解决现场级快速测试诊断需求;存储器在板级模块上经常使用,其BIST是板级BIST的重要组成部分;文章紧密联系应用需求,并以工程应用作为参考目标,提出了一种易于实现的基于两级移位"1"算法的SRAM簇测试算法,该算法在保证测试安全的前提下能够实现所有可检测故障的100%覆盖,并给出了基于该测试算法的SRAM簇测试BIST架构。     

可测试性设计的JTAG方法

本文将从边界扫描路径,测试体系结构,测试状态定义,测试指令安排与板级测试策略五个方面,介绍VLSI电路可测试性设计的JTAG方式.     

边界扫描测试系统软件设计与实现

为推动边界扫描技术在故障诊断领域中的应用，对边界扫描测试技术进行了研究，设计并开发了一种基于VXI总线的边界扫描测试系统；文章介绍了边界扫描的基本结构和测试原理，并重点介绍了开发边界扫描测试系统软件的流程；实验结果表明，开发的边界扫描测试系统能够利用器件的边界扫描描述文件，自动生成测试向量并完成对数字电路的测试以及故障诊断等任务，同时可以对设置的故障进行精确的定位和隔离。     

支持SVF的边界扫描测试系统的设计与实现

边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径.本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连测试,测试结果分析表明系统可以检测出被测对象的故障类型.