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将玩的乐趣与内心的快乐与满足感觉表达出来。与影音爱好者分享是一件非常有意义的事。伟文先生的影音组合是与众不同的。但正如他所说的:“各人对声音及画质的要求都是很主观的。我认为这样组合能满足我的要求。对应我的品味。比其他贵数倍的器材还要好。那就算别人说什么。又有什么关系呢。”这就是一种个性。一种自信。如果我们每一个人都多一点个性。多一点自信.多一点思考。影音的乐趣同样也在我们身边。 相似文献
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来自丹麦的尊宝(Jamo)。一向以外观造型美观。系列齐全的音箱产品而著称。并率先在业界提出”声音指南”的全新概念。推出为家庭用户提供全套组建家庭音响系统的声音解决方案。利用专门编撰的“声音指南手册”。以直观明了的手法。为不同需求的用户解决在音响搭配过程中遇到的问题。事实上。音响的搭配是一个复杂的系统过程。 相似文献
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功能强大的DVD刻录机过去由于价格高。使用不方便,给人以浓厚的专业色彩。回头看一下中国的碟机市场,LD还未在中国普及.一场VCD风暴却已前所未见地掀起。DVD机的登场也是走出了一波步步高升的行情。但DVD刻录机的的市场命运却大不一样.从推出至今已经多年了。却仍然只有有限的消费群体。除了多年的格式之争外,相信最大的障碍就是价格了。当然还有就是便利性了。随着DVD刻录机的多年发展。现在已经到了广泛进入中国家庭的时候。使用多年的传统磁带录像机也该是淘汰的时候了。原因很简单。格式之争已经基本集中在DVD-R/RW及DVD+R/RW上。经PHILIPS DVD刻录机刻录的DVD+R/RW碟片都可以在任何DVD机或个人电脑中播放。绝无播放兼容性问题。价格下调相信是最大的驱动力了。整机价格由去年的9000元左右。下降到现时的3000多元。作为消耗品的刻录碟也有所下调。其价格下降之快着实令人吃惊。价格的金字塔效应是非常明显的。价格越低。消费者自然就越多。至于使用的便利性。同传统磁带录像机相比。已经有过之而无不及了。作为DVD刻录机的消费者。他们购买DVD刻录机的目的就是要用上他的刻录功能。那么现在市场上是否有一款易用.实用、简单.便宜、性能有保证的DVD刻录机呢?回答是有。它就是PHILIPS的DVDR 615。 相似文献
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潜藏的3G价值。让国内厂商垂涎欲滴。然而。3G知识产权基本费用问题却横在中国3G产业与庞大价值之间。各种势力混乱纠缠。相关计算没完没了。作为息息相关的国内厂商该何去何从 相似文献
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PZT薄膜的制备及其与MEMS工艺的兼容性 总被引:2,自引:0,他引:2
用溶胶-凝胶技术在Pt/Ti/SiO2/Si上制备了PZT薄膜,并采用剥离技术与热处理的方法解决了Pt电极的图形化,在结晶热处理前,利用PZT腐蚀液对PZT进行图形化腐蚀.分别用SEM,XRD,EDX对电极和PZT薄膜的相貌、相结构以及化学组分进行了分析.结果表明:所制备的PZT薄膜具有完全的钙钛矿型结构;这种图形化的工艺方法大大改善了电极和PZT的图形化条件,在不影响电极和PZT性能的同时,提高了电极和PZT的图形质量;底电极和PZT的图形化过程,避免了强酸长时间的腐蚀,大大提高了PZT薄膜的制备与MEMS工艺的兼容性. 相似文献
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用磁控溅射法在Pt/Ti/SiO2 /Si衬底上制备了PbZr0 .52 Ti0 .4 8O3(PZT)薄膜 .XRD结果表明经过退火后的PZT薄膜呈现多晶结构 .通过红外椭圆偏振光谱仪测量了λ为 2 .5~ 12 .6 μm范围内PZT薄膜的椭偏光谱 ,采用经典色散模型拟合获得PZT薄膜的红外光学常数 ,同时拟合得到未经处理的PZT薄膜和退火后PZT薄膜的厚度分别为 45 4.2nm和 45 0 .3nm .最后通过拟合计算得到结晶PZT薄膜的静态电荷值为 |q|=1.76 9± 0 .0 2 4.这说明在磁控溅射法制备的PZT薄膜中 ,电荷的转移是不完全的 . 相似文献
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采用金属有机化学液相沉积法在Si衬底上制备了La0.Sr0.5CoO3(LSCO)导电金属氧化物薄膜,采用溶胶-凝胶法在LSCO导电金属氧化物薄膜上沉积了PbZr0.5Ti0.5O3(PZT)铁电薄膜,X-射线测量结果表明在700℃的退火温度下制备的PZT/LSCO铁电多层薄膜呈(110)取向的钙钛矿结构,谢乐公式估算铁电薄膜的晶粒尺寸为50-80nm,原子力显微镜观察结果显示:薄膜表面平整,均方根粗糙度(RMS)小于5nm,用拉曼光谱测量表明PZT薄膜呈拉曼活性,椭圆偏振光谱仪用来表征薄膜在400-1700nm波长范围的光学性质,用洛仑兹模型来描述PZT和LSCO薄膜的光学性质,获得PZT和LSCO薄膜的折射率,消光系数等光学常数谱。 相似文献
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Sol—Gel方法制备掺Y PZT铁电薄膜材料的研究 总被引:3,自引:2,他引:1
介绍用Sol-Gel方法制备掺YPZT(PYZT)铁电薄膜的工艺,并比较了PZT和PYZT薄膜的性能参数。实验结果表明,掺Y后使PZT铁电薄膜的性能得到改善 相似文献
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采用溶胶-凝胶法(Sol-Gel)在Pt/Si衬底上制备了PbTiO3 (PT)薄膜和Pb (Zrx,Ti1-x)O3(PZT)薄膜,研究了退火温度以及PT种子层对PZT薄膜结晶及压电性能的影响。X射线衍射(XRD)结果表明,制备的PZT薄膜为纯钙钛矿结构的多晶薄膜,有PT种子层的PZT薄膜晶粒尺寸更大,(110)面取向度更高,结晶性能更好;原子力显微镜(AFM)结果表明,制备的薄膜表面形貌比较平整、均匀、无裂纹;压电力显微镜(PFM)结果表明,压电力显微镜(PFM)结果表明,有PT种子层时,PZT薄膜的平均压电系数d33为128~237 pm/V,无PT种子层时平均压电系数d33为21~29 pm/V。在升温速率为10 ℃/s的退火条件下保温10 min时,随着退火温度的升高,PZT薄膜晶粒尺寸增大,粗糙度增大,(110)面取向度升高,平均压电系数d33增大。PT种子层能够有效的改善PZT薄膜的结晶性能和压电性能。 相似文献
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采用 0 3复合法 ,在Pt/Ti/SiO2 /Si衬底上成功制备了单层厚度 0 .9μm ,总厚度 10 μm ,并且无裂纹的Pb(Zr0 .53,Ti0 .4 7)O3铁电薄膜。溶液中粉体的存在减小了加热时的体积收缩 ,降低了制备过程中膜内部产生的应力 ,从而使得单层厚度可达 0 .9μm ,防止了薄膜开裂。X射线衍射分析表明薄膜为单一钙钛矿相结构且结晶状态良好 ,采用已烧结的粉末时 ,薄膜呈〈110〉取向 ;扫描电子显微镜分析表明 ,薄膜表面无裂纹 ;介电性能测试结果显示 ,其相对介电常数可高达 115 0。为了研究粉末的状态和薄膜取向之间的关系 ,将未经烧结的未结晶的PZT粉末加入前驱溶液中 ,在相同的制备条件下 ,可得沿〈10 0〉晶向强烈取向的PZT薄膜 相似文献
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PZT,PT干凝胶的制备及应用 总被引:2,自引:1,他引:1
采用减压抽滤的方法成功制备了Pb(Zr0.5Ti0.5)O3,PbTiO3干凝胶,并用STA449C差热分析仪表征了干凝胶的性能。干凝胶溶解后得到了性能优良的PZT薄膜和PZT/PT复合膜。采用X射线衍射技术表征了两种薄膜的微观结构及成相特征。薄膜的介电性能及漏电流性能由HP4284ALCR及Keithley6517A来确定。试验结果表明:用减压抽滤得到的干凝胶的方法,可以彻底解决溶胶凝胶中先体存放的问题,得到的铁电薄膜有优良的介电与铁电性能。PZT的相对介电常数与介质损耗分别为424,0.033,PT作为中间层的复合膜的相对介电常数和介质损耗分别为261,0.014;PT薄膜可以调整和改进PZT薄膜的性能,使之达到应用于热释电探测器的要求。 相似文献