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空间电子产品中的热设计 总被引:2,自引:0,他引:2
研究表明,由于温度所引发的问题是导致电子产品失效的重要原因之一。因此,电子产品的可靠性及其性能,在很大程度上取决于产品是否具有良好的热设计考虑,以及所采用的散热措施是否有效。电子产品的热设计可以采用传导、辐射或者自然对流形式的无源技术,也可以采用强迫风冷、热交换器或者使冷却液循环的有源技术。此外,一些颇为复杂的技术,如热管技术、温差致冷技术也可以采用。但是,在航天飞机或者航天工作站中使用的空间电子产品,不能够使用自然对流形式进行冷却,这是因为电子产品在飞行轨道中是处在失重状态下的。在地心引力微弱… 相似文献
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随着望远镜口径的增大,主镜热惯性增大,主镜温度相对于环境温度的滞后性引起反射面热边界层形成热湍流波动,严重影响望远镜成像质量。介绍了一种基于CFD仿真和光程差累积的计算方法评估主镜反射面热边界层的湍流波动对成像质量的影响。以3.0 m口径的主镜为例,仿真计算了自然对流下和强迫对流下不同温升的反射面热边界层分布,将热边界层的流场参数转化成折射率场分布,采用光程差累积法得到反射面热边界层的成像质量。结果可以定量地描述反射面热边界层对成像质量的影响;验证了现有天文观测要求主镜反射面与环境温差小于2 K的合理性;同时证明了主镜反射面热控措施使得强迫对流下的光程差比自然对流下的下降了一个数量级,显著提高了主镜视宁度,进一步表明反射面热控措施对改善成像质量具有重要意义。 相似文献
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在对多芯片组件(MCM)的特点进行分析之后,对MCM的可靠性技术作了较全面的评述.就McM可靠性研究的关键技术问题展开讨论,总结国内外研究现状并提出了解决问题的思路,包括MCM失效模式与失效机理研究,MCM热分析及散热结构优化设计,多芯片系统可靠性试验与分析,及KGD质量和可靠性保障技术.最后,针对MCM可靠性问题,提出可靠性设计、生产过程的质量控制、可靠性评价与失效分析是MCM综合评价与保证的核心思想,为产品可靠性评价与保证提供参考. 相似文献
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多芯片组件热分析技术研究 总被引:13,自引:0,他引:13
多芯片组件(MCM)是实现电子系统小型化的重要手段之一。由于封装密度大、功耗高,MCM内部热场对器件的性能和可靠性的影响日益严重。文章讨论了MCM内部热场影响器件可靠性的机理,比较了MCM热场计算的方法和特点,研究了有限元分析的方法和求解过程,进行了实际计算,并提出了几种有效的降低MCM结温的方法。 相似文献
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基于ANSYS Icepak的密闭机箱散热仿真分析 总被引:1,自引:0,他引:1
根据机箱热载荷等边界要求,对密闭机箱中的电子功能模块的热功耗和机箱热稳态下散热表面的热流密度进行了分析和计算。通过计算机箱与外部空气自然对流冷却下的热流密度值来分析机箱的整体散热性能,并将计算结果与空气自然对流散热的热流密度阈值进行比较;在此基础上使用建模软件UG NX7.5完成机箱的CAD数字样机建模;使用ANSYS Icepak有限元热仿真分析软件进行CFD(计算流体动力学分析)和热仿真分析,完成了机箱参数设定、网格划分,对机箱进行精确的热仿真计算,验证机箱热设计的可靠性,为其他同类电子设备热仿真分析与散热优化设计提供了参考。 相似文献
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矩形集成电路半解析热分析软件--BJX热分析软件的研制 总被引:1,自引:0,他引:1
半解析热分析法具有解析法的高精度,又具有数值法的较宽适用范围。编制出的计算软件具有分析时间短、操作简便、成本低廉等优点,可能成为下一代集成电路实际使用的热分析软件。 相似文献
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Hsien-Chie Cheng Wen-Hwa Chen I-Chun Chung 《Components and Packaging Technologies, IEEE Transactions on》2004,27(2):359-372
This paper presents a mathematical expression of the chip junction temperature in terms of chip spatial location and size for effective thermal characterization of ball grid array (BGA) typed multichip modules (MCMs). It is created through the integration of the finite element (FE) analysis and the response surface methods (RSMs) that introduce an approximation of the chip junction temperature in the form of a global response surface. In place of FE simulations, the global response surface is then used to effectively characterize the thermal performance of MCMs, and facilitate the thermal management and the finding of the optimal thermal design of MCMs. To create a set of response data, a rigorous three-dimensional (3D) FE modeling of the MCM package is first established for thermal analysis. The surface loads of the FE model for the heat conduction problems are described by using existing heat transfer (HT) coefficient correlation models. The validity of the proposed FE modeling is substantiated by both the IR thermography-based thermal characterization (IRTTC) approach and the thermal test die measurement based on joint electron device engineering council (JEDEC) specification under a natural convection environment. The uncertainty of the specific power supply applied in the study and the thermal test die measurement is also analyzed. To demonstrate the proposed methodology, two types of MCM thermal design problems are fulfilled, each of which corresponds to a different chip layout. It turns out that the mathematical expression could not only effectively define the relation of the thermal performance and design parameters but also highlight their combinatorial effect. 相似文献
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研究了半导体腐蚀过程中液层的红外热像分布特性。经处理分析,实现了对任意时刻表面液层的热对流信息的红外表征。半导体腐蚀过程中产生的化学反应会有热量的释放或吸收,这会引起液层之间能量的交换,从而导致腐蚀液温度的变化。利用红外热像仪可以实时监测这一特性,也可为深入分析、表征液层热对流奠定基础。实验结果表明,越靠近半导体材料与腐蚀液接触面的位置,液层的温度变化越显著,且以半导体材料为中心,由内而外呈梯度状降低,水平液层间的热对流速率明显大于竖直液层间的速率;提取的红外热像截面图可以清楚地表征水平液层及竖直液层的温度变化特性。该方法对分析任意时刻液层的热对流信息具有重要的价值。 相似文献
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