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测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台,在仿真验证后,按照ATE向量格式,直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例,验证了此方法的可行性,并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性,对进一步研究测试向量生成,也有一定的参考意义。 相似文献
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本文对ARINC429数据总线作了简要的概述,具体介绍了ARINC429数据字结构和电平特点,同时以DEI1016A芯片为例,详细介绍了该芯片功能,并基于美国泰瑞达J750测试系统,给出了DEI1016A芯片的测试解决方案. 相似文献
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