硅的电调制反射谱的研究

本工作采用电解液电调制反射(EER)谱技术,对N型硅外延片进行了研究,不仅测得了E′_0峰,还成功地测得了E′_1峰和E_2峰。同时,在直流偏压、交流调制电压、调制频率及溶液浓度等方面对半导体-电解液接触层的形成及性质作了初步的探讨。采用传统的EER谱的实验装置,所不同的是将卤钨灯作为光源,并把二极管作为光电倍增管的负载,以获得ΔR/R的比值,这就省去了复杂的氙灯电源及伺服系统。     

内腔He-Ne激光器光束方向漂移的研究

一、引言 激光准直技术已经在工业生产、测绘和计量等方面获得了广泛应用。为了提高准直精度人们已经采取了一系列措施,如采用外腔式激光器,用石英等热膨胀系数小的材料固定谐振腔,减小激光管的热不均匀性等。还有采用双光束的方法可使准直精度大大提高。我们在这里提出一种以固定激光器输出平面镜的简单方法,也可以使方向漂移大大减小。 二、一般考虑 在通常的激光器的使用中,人们一般都采用固定支点约位于离激光管两端四分之一管长处。在激光准直应用中,采用这种固定方式是不好的,必须考虑固定方式对激光束方向漂移的影响,这一点也容易被人们所忽视。在激光准直应用中,除了大气湍流对激光束方向漂移产生影响外,引起激光束方向漂移的另一个主要因素来自激光器本身,即谐振腔的形变引起输出激光束的漂移。     

低温分子束外延GaAs薄膜的带边二次电光效应和光折变效应

本文研究了低温生长分子束外延GaAs薄膜的光电子性质．我们测量了它的I-V特性；用电调制透射谱测量了电吸收和电折变，并由此分析了它的带边共振吸收平方电光效应；用二波混合的方法测量了它的光折变性质．对两种方法得到的电吸收和电折变作了分析比较．     

若干固体激光腔的分析与评价

本文运用变换圆图解法对一些常用的中小功率固体激光器的谐振腔作一概要的分析;同时从谐振腔的热稳性、模式特性、紧凑性及激活介质的利用率等方面的优劣性给出评价。 一、变换圆图解法 在固体激光器中,由于激光棒内热透镜效应的存在,各种固体激光腔实际上是一些包含热透镜的复杂谐振腔。为了更好地分析这些复杂谐振腔,我们引入两种变换圆,用来描写高斯光束通过透镜时的变换关系。     

用于多种类分类的光学学习机

近年来,神经网络的研究特别活跃主要是由于它能模仿人类的计算能力,特别是学习能力.一般的计算机需要严格的规则以完成给定的任务.神经原计算机能够从已有范例中学习到它自己的规则.这样神经元计算机就可以解决以人确定的规则工作的系统所不能解决的问题. 与超大规模集成电路相比,光学方法有非常大的优点,特别是在处理两维问题方面.这是由于它在两维上的固有的并行性.     

光学谐振腔的图解设计方法(三)

一个比较理想的固体激光腔应当是基模运转,同时,要求在运转过程中模式特性和功率特性稳定;此外,还应要求激光腔紧凑,并能从激活介质内取出尽可能多的能量。     

光学谐振腔的图解设计方法(二)

在实际激光器中,我们不能不考虑腔内激活介质对高斯光束传播的影响。我们知道,腔内激活介质,在光泵或放电的作用下,都将不可避免地产生其间温度分布的不均匀性,或介质密度的不均匀性,由此引起介质内折射系数的不均匀分布。这时,激活介质将起一种类似于透镜的作用,因而影响腔内高斯束传播的特性和输出光束的特性。这种现象通常叫做热透镜效应。     

利用激光检验仪表轴尖表面光洁度与缺陷

为了保证仪表中轴尖的质量,必须对加工出来的轴尖进行质量检验,主要是检验轴尖的表面光洁度与缺陷(麻点、道子)。过去传统的检验方法是在双目立体显微镜下用眼睛观察,检验的速度慢,费眼力,而且由于视觉鉴别,因人而异也会出现差错。利用激光检验就完全避免了这些缺点,激光检验光洁度的简单原理与方法已在文献[1]中做了介绍。这里谈到的激光检验光洁度的零件是指零件表面的加工划痕有一定的方向。这样当激光束投射到零件表面上时,就能产生出特     

自由载流子及超导状态下反射光谱中声子的异常敏感性

运用经典Drude模型及Lorentz振子理论,借助n-K关系图及n-K反射率半圆图解方法,指出位于等离子体振荡频率ω_p附近的声子异常敏感性,并给出形状和特征。利用它可分析超导样品的反射光谱。     

用激光光声光谱法研究CO_2激光器的锗窗材料及镀金反射镜的光学特性

近年来发展了一种十分有用的利用光声效应的光声光谱技术。在对气体的研究中,虽然这一方法已应用了多年,但直到七十年代后期,它才开始成为研究固体材料光学特性的有效光谱工具。我们的工作,主要是利用光声光谱方法测量Ge窗对10.6微米CO_2激光的弱吸收和镀金反射镜10.6微米的高反射率,同时还涉及固体光声光谱的有关的实验技术问题。用光声光谱方法测量吸收系数,是将一