应用紫外分光光度法测定电镀锡溶液中各种有机添加剂的含量

口-萘酚聚氧乙烯醚(EN)、o-萘酚磺酸聚氧乙烯醚(ENSA)以及苯酚磺酸(PSA)均为电镀钖溶液的添加剂。美国钢铁公司采用二硫化碳萃取-红外光谱法测定电镀钖溶液中EN的含量。但该法不能同时测定电镀液中其它有机添加剂的含量。我们采取紫外分光光度法分别测定电镀液中EN、ENSA以及PSA的含量,方法简单、快速,适用于生产控制分析的要求。     

建筑用H型耐火钢中析出相的状态分析

采用物理化学相分析、X射线衍射和小角散射以及扫描电镜等多种分析手段对H型耐火钢中化合物的结构、形貌、含量及其颗粒尺寸进行了分析。发现该耐火钢中析出的碳化物主要为M3C、MC和M2C相,同时还存在数量较多的氧化物和硫化物。探讨了耐火钢的不同回火温度对其析出的化合物的影响规律,发现回火温度对于M3C相的数量和平均粒径影响较大,MC和M2C相的数量随回火温度的升高而有所增加,而平均粒径无明显变化。硫化物数量基本不随热处理制度变化。     

辉光放电质谱分析技术的应用进展

简单介绍了辉光放电质谱(GDMS)的基本原理。对辉光放电质谱在块状金属、半导体、非导体、溶液、气体和深度分析方面的应用进行了综述。块状金属和半导体的痕量元素分析为GDMS主要的应用,它们的研究报道众多;对非导体材料的分析扩宽了GDMS的应用范围;同时尝试采用GDMS对溶液和气体样品进行分析;GDMS作为一种重要的深度分析方法,相关的应用迅速增加。最后展望了辉光放电质谱的发展趋势。     

不锈钢连铸板坯横截面偏析的原位统计分布分析

采用原位统计分布分析技术对不锈钢连铸板坯横截面成分偏析进行研究,结合金相低倍组织形貌,定量表征了铸坯横截面上各元素含量的统计分布规律。在铸坯横截面上有一环状偏析带,此偏析带碳、硅、钛等元素为负偏析,钙、铝富集呈严重正偏析,且与低倍组织形貌中白亮带精确对应,由电磁搅拌所致。白亮带内侧上、下各有一条偏析带,其成分分布与白亮带相反,碳、硅、钛等元素富集呈正偏析,钙、铝为负偏析,其位置对应于中心等轴晶和柱状晶的交界处。碳、硫、钛的最大偏析点集中于铸坯横截面中部,硅、锰、磷、钙分布于白亮带附近,而铝呈弥散分布。钙、铝、钛为铸坯中主要偏析元素,其最大偏析度和统计偏析度均较高,均匀性较差。     

基于PVI与运放的IGBT串联均压电路研究

介绍了一种采用PVI和运算放大器控制高压绝缘栅双极晶体管(IGBT)串联均压的方法.简述了基于光压隔离器(PVI)的串联IGBT隔离驱动电路和基于PMOSFET的均压串联反馈电路,详述了采用运算放大器反馈控制实现高压IGBT串联均压的方法.最后,将PMOSFET均压和运算放大器反馈控制均压电路分别运用到高压恒流源中,通过对实验数据的分析比较,运用运算放大器反馈控制均压误差小于0.6%,优于PMOSFET均压效果.     

火花源原子发射光谱法在钢中夹杂物状态分析中的应用

对火花源原子发射光谱法中的4种典型的分析方法--脉冲分辨分析法、峰值积分法、单火花评估法和原位统计分布分析法在钢中夹杂物的状态分析中的应用进行了综述。介绍了各种方法分析夹杂物的主要原理、特点和分析进展,也比较了各种方法的优缺点和适用范围。指出了火花源原子发射光谱法在钢中夹杂物状态分析中的优势,并提出了该法在夹杂物分析中的发展方向。     

材料非平面部位组成与状态的原位统计分布分析表征技术

采用激光原位统计分布分析(Laser-OPA)技术表征非平面表面小规格样品（焊管弧形表面、船板钢厚板坯冲击试样和定向凝固镍基高温合金涡轮叶片）的成分分布情况,首次提出用二维投影含量等高图、三维形貌含量等高图等方法来表征样品非平面表面各化学元素分布状况。焊管弧形表面元素的频度-含量分布与最大偏析度的结果较吻合;对于船板钢厚板坯冲击试样,火花原位(Spark-OPA)、激光诱导击穿光谱原位(LIBS-OPA)与激光烧蚀电感耦合等离子体质谱原位统计分布(LA-ICP-MS-OPA)的元素分布情况三者一致;高温合金涡轮叶片的LA-ICP-MS-OPA结果表明,低熔点元素在多晶带区域容易析出,工艺上采用定向凝固技术能有效改善析出现象。     

不锈钢中成分的原位统计分布分析基体影响校正

采用金属原位分析仪对不锈钢样品中成分进行分析时,基体含量对测定产生影响,为此提出了基体校正数学模型。以含量比为横坐标、强度比为纵坐标绘制工作曲线,运用该工作曲线对实际不锈钢样品中镍和铬进行分析,以验证基体校正模型的正确性。结果表明,基体校正后工作曲线线性得到了改善,样品的测试结果偏差显著减小。     

辉光放电质谱法测定中低合金钢中18种元素

研究用辉光放电质谱法(GDMS)同时直接测定中低合金钢中的B,C,Al,P,S,Ti,V,Cr,Mn,Co,Ni,Cu,As,Zr,Nb,Mo,Sn,W共18种元素。对仪器进行质量校正,以确定正确的质谱峰位置。通过对分析元素质谱干扰情况的考察,选择合适的同位素用于分析。根据分析元素相对强度和相对强度的稳定性,对辉光放电参数如电流、电压、预溅射时间进行了优化。采用相对灵敏度因子(RSF)进行质谱定量分析。方法用于测定中低合金钢标准样品,分析结果与标样的认定值相吻合,大部分元素的相对标准偏差(RSD)小于5%