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工业技术 | 272篇 |
出版年
2016年 | 1篇 |
2015年 | 1篇 |
2014年 | 5篇 |
2013年 | 1篇 |
2012年 | 11篇 |
2011年 | 14篇 |
2010年 | 11篇 |
2009年 | 16篇 |
2008年 | 24篇 |
2007年 | 23篇 |
2006年 | 15篇 |
2005年 | 26篇 |
2004年 | 15篇 |
2003年 | 15篇 |
2002年 | 21篇 |
2001年 | 23篇 |
2000年 | 14篇 |
1999年 | 11篇 |
1998年 | 4篇 |
1997年 | 1篇 |
1996年 | 6篇 |
1995年 | 2篇 |
1994年 | 1篇 |
1991年 | 3篇 |
1989年 | 1篇 |
1987年 | 3篇 |
1986年 | 3篇 |
1979年 | 1篇 |
排序方式: 共有272条查询结果,搜索用时 31 毫秒
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为保证工作空间测量定位系统的现场测量精度,需要在发射站姿态受到温度、震动等环境因素影响时对其定向参数进行修正。提出了一种以固定接收器为基准的定向参数修正方法,通过在工作空间内稳定参考点处安装的冗余接收器监控发射站工作状态并对定向参数进行实时在线修正,采用光平面参数描述的发射站几何模型推导了接收器坐标测量方程。在此基础上,以参考点坐标为已知条件,建立了基于共面约束的定向参数修正量优化方程,给出了平差解算方法。实验结果表明,当采用6个接收器进行修正时,系统坐标测量偏差在0.15 mm以内,满足现场大尺寸坐标测量的精度要求,有效提高了系统的可靠性、实用性。 相似文献
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48.
光纤干涉绝对测距技术 总被引:1,自引:0,他引:1
提出一种利用短扫描导轨实现1m以上绝对距离测量的光纤干涉测距新方法:测系统由定位干涉仪和扫描干涉仪组成,定位干涉仪采用准光光源实现测量中的定位瞄准,扫描干涉仪完成距离的测量。 相似文献
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50.
液晶编码光栅编码设计与编码点匹配技术研究 总被引:6,自引:4,他引:2
物体形貌测量中,物体自身的特征信息往往较少,不足以实现三维重建,通过投射液晶编码光栅可以制造出足够的特征点,液晶编码光栅的编码设计及其精确匹配是形貌测量的关键技术。基于液晶显示可控的特性,由计算机控制实现液晶光栅编码的交换,无机械运动。通过液晶光栅编码可以直接获得被测物体形貌特征点信息,提高了测量速度和效率。实验表明,采用粗匹配和基于角点的精匹配方法,可以得到较高的测量精度,测量标准平板平面度测量误差为0.23mm。 相似文献