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栅状阵列器件激光视觉检测系统及共面性评价方法
引用本文:薛晓洁,叶声华,孙长库.栅状阵列器件激光视觉检测系统及共面性评价方法[J].机械工程学报,2001,37(5):78-80.
作者姓名:薛晓洁  叶声华  孙长库
作者单位:天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室!天津300072
基金项目:国家自然科学基金资助项目! (6 990 6 0 0 1)
摘    要:应用激光线结构光传感器 ,将视觉检测成功应用于栅状阵列器件的共面性测量中 ,建立了测量系统数学模型 ,提出了以三点法为基础的共面性评价方法 ,并对BGA芯片进行了相应的试验研究 ,取得了满意的结果。

关 键 词:栅状阵列器件  共面性  三点法
修稿时间:2000年6月6日

LASER VISUAL INSPECTION SYSTEM AND EVALUATING METHOD FOR GRID ARRAY DEVICE COPLANARITY
XUE Xiaojie,Ye Shenghua,SUN Changku.LASER VISUAL INSPECTION SYSTEM AND EVALUATING METHOD FOR GRID ARRAY DEVICE COPLANARITY[J].Chinese Journal of Mechanical Engineering,2001,37(5):78-80.
Authors:XUE Xiaojie  Ye Shenghua  SUN Changku
Abstract:Adopting line-structured laser sensor, successfully applies the visual inspection to the grid array device coplanarity measurement. With the mathematics model put forward, the evaluating method based on the three-point seating plane is presented, and corresponding experimental studies on the BGA chip coplanarity are carried out, which achieve satisfactory results.
Keywords:Grid array device  Coplanarity  Three-point seating plane method
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