排序方式: 共有195条查询结果,搜索用时 359 毫秒
91.
单片机测试向量生成技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点。文章分析了目前单片机测试向量获取的几种方法,并在此基础上提出了一种单片机测试向量生成的新方法,通过将单片机测试向量分成测试激励和测试响应两部分,测试激励部分通过编写专用脚本软件将汇编程序转换成ATE专用测试向量,测试响应部分的测试向量则通过ATE的匹配功能来完成,从而成功地实现了对单片机的测试。 相似文献
92.
基于LXI总线的自动测试系统方案设计 总被引:1,自引:1,他引:0
为了满足军用自动测试系统准确度要求高、测量点多、实施性强的特点,实现提高测试准确度、简化硬件电路设计的目的,采用了基于LXI总线的数字化测试系统方法,做了将数字万用表L4411A和多路开关L4421A应用于ATE的实验。获得了实时性好,准确度高,简化硬件设计的结果,得到了基于LXI总线的数字化测试系统方案很好地满足了军用ATE系统需求的结论。 相似文献
93.
随着芯片速度和功能的不断提高,使芯片迅速投入量产变得困难。开发经济高效的测试仪器越来越重要。设计了一款基于E818管脚芯片最多128通道,10MHz测试速率的功能测试电路板,输出驱动达到±8V,输入比较电平达到±6V,每个通道可以动态地设置成输入、输出或者是三态。选用Alterastratix系列FPGA芯片,运用流水线技术,格雷编码来优化程序,完成对管脚芯片的一系列控制。采用阻抗匹配等手段解决信号完整信性问题。具有成本低廉,工作稳定,响应速度快的特点。 相似文献
94.
在宽带已调制信号上进行一流射频测量的这种新技术,解决了对下一代无线通信产品成本的主要难题。 相似文献
95.
测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台,在仿真验证后,按照ATE向量格式,直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例,验证了此方法的可行性,并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性,对进一步研究测试向量生成,也有一定的参考意义。 相似文献
96.
板载FPGA芯片的边界扫描测试设计 总被引:3,自引:0,他引:3
边界扫描技术是标准化的可测试性设计技术,它提供了埘电路板上器件的功能、互连及相互问影响进行测试的一类方法,极大地方便了对于复杂电路的测试。文中针对某设备分机具体的待测电路,遵循IEEE1149.1标准,结合FPGA芯片的BSDL文件进行边界扫描测试设计,理解和掌握其设计原理、数据结构,并实现板级测试与ATE的接口。 相似文献
97.
Ki-JaeSong Ki-SooLee JongsooPark 《电子工业专用设备》2004,33(7):21-28
随着无线通信市场的快速增长,大多数射频器件制造厂家正在经受着这一领域新出现的众多公司所带来的成本压力。为了寻找解决这一问题的方法,焦点便集中在减少总的加工成本,例如封装、组装以及最终的电气测试等方面。特别是功能测试便成为昂贵的自动测试系统(ATE)满足众多用户对器件质量和生产率要求所不可避免的需求。在这一方面,测试成本的减少便作为一个最大的难题来考虑。介绍了低成本高速射频器件自动测试系统的实现过程,它是一种比较好的减少测试成本的方法。在射频器件的测试中,实现高速、精确测量十分重要但又较困难。为解决上述这些问题,提出了高速和精密测量能力,它是通过16独立的射频部件以高速开关时间和高精度模数转换器采用产业标准与仪器模数扩展(VXI)和GPIB接口而实现的。此外,此系统具有四区测试能力,它能显著地提高器件的生产效率。 相似文献
98.
99.
100.
雷达系统测试性设计 总被引:4,自引:2,他引:2
良好的测试性设计对雷达系统而言,可以有效地提高其维修性、保障性,降低全寿命周期费用。简要回顾了测试性的发展,指出了测试性设计对雷达系统的重要性和必要性,并给出了雷达系统的测试性设计的基本原则。从网络化设计、分层次设计、外场可更换模块(LRM)设计、校正维护设计和故障诊断设计等方面详细介绍了雷达系统的机内测试(BIT)设计,对原位检测设计和自动测试设备(ATE)设计进行了简要介绍。随着雷达技术的不断发展,在BIT技术、ATE技术进行创新发展的同时,还应积极探索综合诊断技术、预测和健康管理(PHM)技术等新的诊断方法在雷达系统测试性设计中的应用。 相似文献