科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsystems公司采用

科利登系统有限公司近日宣布：Sun Microsys tems公司购买了配置D-6436的Sapphire^TMS自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。     

科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用

科利登公司近日宣布：Sun Mierosystems公司购买了配置D-6436的SapphireS自动测试设备。D-6436是一款高性能高信道密度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于PARC？的多线程微处理器芯片的开发。当今市场有很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。     

测试测量

D-6436/D-6408：高速芯片测试选件；DPO4000：便携式示波器。[编者按]     

端对端6．4Gb／s高速芯片测试产品系列又添新选件

6．4Gb／s高速芯片测试产品系列又增添两款新的测试选件：D-6436和D-6408，当使用在Sapphire S平台上时，这一系列选件的任意组合能够灵活配置，为用户提供一个完整的成本优化的端对端式解决方案，满足产品调试、工程验征分析和量产测试整个流程的需要。     

科利登端对端6．4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性能和成本优势

科利登系统有限公司日前推出两款新的测试选件，D-6436和D-6408，进一步丰富其6．4Gbps高速芯片测试产品系列。当使用在Sapphire^TM S平台上时，这一系列选件的任意组合能够灵活配置．为用户提供一个完整的成本优化的端对端式解决方案，满足产品调试、工程验证分析和量产测试整个流程的需要。     

欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapphire D-10测试系统

日前来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音／视频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。     

CESI-Verigy集成电路测试验证实验室瞄准中国高端芯片测试

日前，半导体测试公司惠瑞捷（Verigy）与中国电子技术标准化研究所（CESI）在北京联合宣布“CESI—Verigy集成电路测试验证实验室”正式成立，旨在满足北京乃至国内高端芯片测试方面日益增长的需求。     

SOC测试系统将成为主注IC测试设备

ＳＯＣ（系统级芯片）测试对ＩＣ ＡＴＥ（集 成电路自动测试设备）制造商提出了挑战,同时也提供了新的发展机遇。目前,各种系统级芯片不断面世,包括数字蜂窝电话芯片、ＰＣ图形芯片、电缆调制解调器芯片、千兆以太网交换器芯片、网络控制器芯片以及各种多媒体器件。这预示了ＳＯＣ测试将是未来几年ＡＴＥ市场中的一个新增长点。ＳＯＣ对测试设备要求非常高,它要求设备能测试芯片上的数字逻辑电路、模拟电路和存储器。低成本、多功能ＳＯＣ测试设备对集成电路制造商有更大的吸引力,因为这种设备的测试能力能替代多台单功能ＩＣ ＡＴＥ…     

全球有超过150套的科利登的3．2Gbps测试设备用于高速串行总线测试

来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation，纳斯达克代码：CMOS）目前宣布：科利登已经有超过150套的3．2Gbps数字测试设备在SapphireTM系统上被全球10大主要客户所采用，这些客户有著名的fabless设计公司，测试承包商及IDM领导厂商。科利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试，包括HyperTransport，PCI Express和最新的DDRx等。而且，D3208上不仅能对串行总线进行分析和测试，也能用于并行总线，而其它很多竞争产品都只能应用于单一的总线模式。     

LTE TDD测试套件

Aeroflex公司针对其PXl3000模块化仪器系列推出一款新型软件测量套件，以支持3GPP长期演进计划（LTE）的时分双工（TDD）模式一也称为TD—LTE。LTETDD测量套件提供LTETDD芯片组、手机和终端设备制造商所需的先进的测试功能，以帮助他们快速地表征设备性能。     

EDA

Altium Designer 6．0版本支持AMCC 405xx系列；赛灵思发布免费设计套件WebPACK8．1i版；科利登D-6436和D-6408丰富高速芯片测试方案；[编者按]     

科利登新品提供先进的射频测试能力

科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力，进一步扩展了Sapphire D系列的测试能力。     

科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试microtec实验室

科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音，视频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。     

Sun开始研制激光芯片

为了提高计算机性能，Sun微系统公司目前正在研究一项技术让芯片使用激光进行通讯，而不是采用电路。这将是传统计算机设计的一个突破。 Sun公司近日收到了美国国防部国防先进技术研究计划署（DARPA）提供的4400万美元合同款就是用于研究这项芯片技术。Sun的高级工程师RonHo指出，芯片一般都是焊接制作的并且在物理上是独立的。     

先进的测试设备能促进我国IC设计发展吗?

近日,中国电子技术标准化研究所（CESI）与半导体测试公司惠瑞捷（Verigy）在北京联合宣布“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”正式成立,该实验室引进了国内配置较高的93000 SoC测试机台，旨在满足北京乃至国内高端芯片测试方面日益增长的需求。实验室将提供独立的公共测试服务，与代工厂提供的量产测试不同的是，CESI—Verigy实验室的测试更多偏重于标准的验证，对高端芯片性能的分析。     

测试技术发展趋势

IC测试、通信测试、网络测试和 虚拟仪器的发展已出现一些新的势态。降低测试成本成为发展IC测试的首要目标对体积更小、功能更强的芯片的需求正推动IC产业的发展,同时也推动着IC设计和测试的发展。对于系统芯片（SOC）的测试,其成本已几乎占芯片成本的一半。根据英特尔公司副总裁提出的测试摩尔定律,未来几年,每一晶体管的硅投资成本将低于其测试成本。 因此未来IC测试设备制造商面临的最大挑战是如何降低测试成本。过去的集成电路主要分为模拟电路、混合信号电路和数字电路。１９９８年,称之为MACH-D的（即存储器、模拟、通…     

使用USB接口的ADSLMODEM的设计原理

AD20msp910是ADI公司提供的一套用于ADSLMODEM的芯片集，它包括AD6435计算机接口、AD6436DMT协处理机、AD6437模拟端接口芯片、AD816线路驱动/收发器、ADSP-2183数字信号处理机。文中介绍了ADSL技术的基本原理以及AD6435、AD6436、AD6437和ADSP-2183的结构特点和引脚分类。最后给出了应用该芯片集设计ADSLMODEM的设计原理和方法。     

ARM最新45nm测试芯片可降低40％的功耗

ARM公司近日发布了一款绝缘硅（silicon—on—insulator，SOI）45纳米测试芯片的测试结果。结果表明，相较于采用传统的体硅工艺（bulk process）进行芯片制造，该测试芯片显示出最高可达40％的功耗节省的可能性。这一测试芯片是基于ARM1176处理器，能够在SOI和体效应微处理器实施之间进行直接的比较。     

SoC芯片测试设备现状

随着SoC应用的日益普及,对SoC测试技术提出了越来越高的要求,掌握新的测试理念、新的测试流程、方法和技术,是应对SoC应用对测试技术提出的挑战,适应测试发展趋势的必然要求。介绍了应对SoC测试技术挑战的基本方法和设备结构及几家设备公司SoC芯片测试设备概况。     

Fluke宣布收购DHI公司扩展精密测试业务

以Certified Wireless—USB为基础发展移动WiMedia产品的超宽带（UWB）技术供应商——Alereon公司宣布，其包含AL4300媒体接入控制器／基带处理器（MAC／BBP）和AL4100WiMedia射频接收器的AL4000系列无线USB芯片组，已经通过了USB实施者论坛（USB—IF）的规范和认证测试。已于今年1月开始量产的AL4000无线USB芯片组，正式成为能够用于开发Certified Wireless USB（认证无线USB）最终用户产品的构建模块。