基于性能退化可靠性分析的混合Brown运动模型

对于高可靠、长寿命的产品,很难通过寿命试验或加速寿命试验方法来获取产品的失效时间。这给以产品失效数据为基础的传统可靠性分析方法带来了极大的困难。基于产品性能退化数据的可靠性分析不需要将产品做到失效,而是寻找产品的性能退化规律对其可靠性进行分析。这为高可靠、长寿命产品的可靠性评定提供了一条可行的途径。由于不同的试验产品其性能参数的退化可能服从不同的随机过程模型,在一般Brown运动退化模型的基础上,提出了带漂移的混合Brown运动模型。依据Brown运动的概率性质,研究了混合Brown运动模型的一些概率性质。并绘出了模型参数的估计式及其可靠度函数表达式。以GaAs退化数据为例,对混合模型进行了验证．     

基于加速退化试验的航天液体摆可靠性研究

随着国防装备的快速发展,对型号的可靠性和寿命提出了更高的要求。为满足型号的高可靠、长寿命要求,可靠性试验成为目前研究的重点。以火箭发射平台所用的液体摆水平传感器为研究对象,分析液体摆在环境温度应力作用下的失效原因;选择适用的加速退化模型,建立一种基于加速性能退化的可靠性模型,并通过试验评估进行论证。     

基于步进加速退化试验的某型电连接器可靠性评估

某导弹电连接器属于高可靠性、长寿命产品,在短时间内很难获取其失效数据。为了评估其可靠性,在分析其失效机理的基础上设计了步进应力加速退化试验,通过分析加速退化数据外推出产品在正常工作应力水平下的可靠度函数。试验中,以电连接器的接触电阻作为性能参量,选取温度作为加速应力。数据分析时利用Wiener随机过程对样品退化进行建模,为了提高模型参数的估计精度,采用极大似然法对所有性能退化数据进行整体统计推断。结果表明,提出的基于加速退化数据分析的方法实用、有效,实现了某导弹电连接器的可靠性评估并可为其他高可靠性产品的可靠性评估工作提供参考。     

基于加速退化试验的模拟IC寿命评估研究

为解决高可靠性、长寿命模拟集成电路的寿命评估问题,结合半导体器件退化失效的特点,提出了基于加速退化试验的模拟集成电路寿命评估方法。在此基础上,以某型电压基准模拟IC为研究对象,通过对退化数据的分析研究,获得了其在正常工作应力下的寿命数据。     

基于综合环境加速寿命试验的 电子装备故障预测研究

 对某型雷达天控系统的20kHz信号板进行均匀正交试验,利用试验数据对试验结果进行了深层次的分析,总结出温湿度条件下电子装备性能衰退的一般规律;针对在故障预测中占有重要地位的电子装备可靠性预测问题,提出了一种基于综合环境加速寿命试验的电子装备可靠性预测新方法,该方法将性能退化理论拓展为加速性能退化理论,将该理论与传统可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速寿命试验中无失效数据的处理问题,最后通过具体的算例验证了该方法的有效性.     

基于加速退化试验数据的可靠性分析

本文研究了基于加速退化试验数据的可靠性评估技术,给出了加速退化方程和加速退化因子的定义并结合实例研究了加速退化失效模型的可靠性统计推断方法.在工程问题中使用加速退化试验将更能节省时间和费用.     

基于一维漂移布朗运动的SLD退化失效建模

超辐射发光二极管(SLD)集LD大输出功率和LED宽光谱优点于一体,是光纤陀螺仪中的关键元件与薄弱环节,其可靠性在很大程度上决定了光纤陀螺仪的可靠性。针对SLD寿命长、失效数据难于获取的特点,研究了基于性能退化数据的可靠性评估方法。在对SLD进行失效机理分析的基础上,提出用一维漂移布朗运动模型对产品在环境应力作用下的退化特性进行建模,基于所得模型,由SLD的性能退化信息估计模型中的参数进而评估得到SLD的可靠性指标。这克服了传统可靠性分析方法依赖寿命数据的缺点,能够在没有寿命数据的情况下评估得到SLD的可靠性指标,从而可节约大量的试验经费和试验时间,在工程应用上具有重要的价值。     

石英加计伺服电路加速退化数据处理方法研究

以石英加计伺服电路的性能退化参数为研究对象,提出了两种基于伪失效寿命和基于性能退化量分布的加速退化数据处理方法;并通过实例说明这两种方法在实际中的具体应用,为石英加计的可靠性状态监测及评估提供了支撑.     

融合非线性加速退化模型与失效率模型的产品寿命预测方法

针对高可靠性产品寿命数据少、获取成本高的问题,基于充分利用产品在研制、加速试验等不同环境下的退化数据、失效数据等可靠性数据的思想,提出了一种融合非线性加速退化模型和失效率模型的产品寿命预测方法.首先,根据退化数据对非线性退化过程进行分析,估计退化过程的参数;然后,根据加速退化数据及相应的加速退化模型估计加速退化模型的参数,从而得到退化参数与应力之间的关系.进一步,利用比例风险模型融合产品的寿命数据和未失效截尾数据,并基于此计算产品的可靠度函数、预测产品的寿命.实例应用验证了所提方法的有效性,同时说明了所提方法的应用价值.     

长寿命产品退化筛选试验方法研究

 传统的可靠性筛选方法以产品是否失效为筛选判据,对于高可靠长寿命产品,必须将产品长时间置于筛选应力下,对于一批产品中的合格品会产生较为严重的不良影响.针对退化失效型产品,研究了不合格品与合格品的性能退化规律:在筛选应力下,相对于合格品,不合格品性能参数的变化速率相对较快,从而使得性能参数在试验检测过程中形成明显的双峰分布.论文提出了基于产品性能退化特性的可靠性筛选技术,在保证筛选成品率和产品可靠度的前提下,通过合理选取筛选试验持续时间和筛选阈值,实现了缩短试验时间和减少筛选应力对合格品的不良影响的目的,最后通过实例说明了方法的有效性.     

高可靠DC-DC混合电源长寿命评价技术研究

随着科学技术的发展、设计和制造水平的大幅度提高,高可靠长寿命DC-DC混合电源产品在军事及航空航天领域应用越来越广泛,如何预测其寿命是值得深入研究的重要问题。采用加速退化试验方法,对一款高可靠DC-DC混合电源进行可靠性评价与寿命预测。此研究成果对解决高可靠性电源产品的可靠性保证和寿命预测问题具有很好的工程意义。     

不同的退化模式共存时产品退化失效分析

在高可靠性、长寿命产品的可靠性分析中,当产品的失效为退化型失效时,利用产品的性能退化数据进行可靠性分析是一种更合理的方法。在考虑产品既存在平稳退化,又存在随机退化时,研究了产品退化失效的一般模型并给出了模型参数的估计方法。最后,利用所给的模型对强激光装置所用的某型金属化膜脉冲电容器进行了可靠性分析,并验证了该方法的可行性。     

基于紧缩阈值加速退化试验的长寿命产品可靠性评估

对于退化失效型产品,当产品的特性参数超过给定阈值时即发生失效,失效阈值定义越严格则对产品功能要求越高,则产品越容易发生因不满足该功能要求而失效,可见产品的寿命数据与失效阈值的定义密切相关.对于长寿命产品,通过紧缩失效阚值的方法,可以在低应力水平下得到更多的失效数据.论文建立了寿命分布与试验应力和失效阈值的关系模型,并提...     

斯特林制冷机污染退化的加速寿命模型

基于制冷机的污染失效机理、材料出气特性,探索性地提出制冷机污染退化的加速寿命模型,阐述了各模型参数的物理意义,并利用4300h的加速试验数据建模拟合,发现与加速寿命模型有较好的符合关系,最后提出外推到常规条件寿命的加速系数的计算方法.由于试验数量少,所得模型尚不成熟,需要更多的后续试验来验证,但该寿命模型的提出,对于实现快速寿命评价和考核具有参考价值.     

Competing causes of failure and reliability tests for Weibull lifetimes under type I progressive censoring

For many high reliability products where very few items are expected to fail during the test period, testing under normal conditions is not feasible. Further, the requirement for high reliability increases the need for test procedures which yield valuable degradation and other useful information for improving product reliability. Thus in some manufacturing and other experiments, various types of failure censored and accelerated life tests are commonly employed for life testing. In this paper we discuss Type I progressively censored variable-sampling plans for Weibull lifetime distributions under competing causes of failure. The proposed procedure is attractive as it yields useful degradation-related information for improving product quality. In addition, the procedure is useful when a test is conducted under severe time constraint and/or when the experimenter wishes to save costly specimens or scarce test facilities for other use.     

Stochastic degradation models with several accelerating variables

Many products & systems age, wear, or degrade over time before they fail or break down. Thus, in many engineering reliability experiments, measures of degradation or wear toward failure can often be observed over a period of time before failure occurs. Because the degradation values provide additional information beyond that provided by the failure observations, both sets of observations need to be considered when doing inference on the statistical parameters of the product or system lifetime distributions. For highly-reliable modern products, it often takes much more time to obtain lifetime & degradation data under usual use conditions, and this requires one to use accelerated tests. Accelerated tests expose the products to greater environmental stress levels so that we can obtain lifetime & degradation measurements in a more timely fashion. In addition, many products are exposed to several environmental variables in some manufacturing processes, or under some operating conditions. This motivates the need for developing general accelerated test models with several accelerating variables for inference based on both observed failure values, and degradation measurements. In this paper, new accelerated test models are developed based on a generalized cumulative damage approach with a stochastic process characterizing a degradation phenomenon.     

基于退化量分布的高量程MEMS加速度计的可靠性评估

高量程MEMS微加速度计主要应用于航空、航天及军工等高可靠性要求的惯导领域。为了更好进行微加速度计的可靠性寿命预测,提出一种基于退化量分布,以实验数据拟合推导出分布模型参数的变化关系从而更加准确的评估微加速度计的可靠性寿命。实验研究结论表明采用新的评估方法能够获得更准确的微加速度计可靠性预测。     

Lifetime prediction of electrical connectors under multiple environment stresses of temperature and particulate contamination

Electrical connectors play a significant role in the electronic and communication systems. As they are often exposed in the atmosphere environment, it is extremely easy for them to cause electrical contact failure. It is essential to carry out the reliability modeling and predict the lifetime. In the present work, the accelerated lifetime testing method which is on account of the uniform design method was designed to obtain the degradation data under multiple environmental stresses of temperature and particulate contamination for electrical connectors. Based on the degradation data, the pseudo life can be acquired. Then the reliability model was established by analyzing the pseudo life. Accordingly, the reliability function and reliable lifetime function were set up, and the reliable lifetime of the connectors under the multiple environment stresses of temperature and particulate contamination could be predicted for electrical connectors.