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如今，诸如云、移动性、大数据这样的行业风向标一直在与时俱进，企业数据库的基础架构因此而承受着巨大压力。如果继续以老化硬件作为运行应用的“主力军”，企业将面临一个随时可能爆发的定时炸弹，那么应该如何在经济环境日趋复杂的今天释放这样的压力呢？ 相似文献
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一个实用化的测试产生系统COMPA—ATPG 总被引：1，自引：0，他引：1
本文介绍了一个在康发工作站实现的测试产生系统COMPA-ATPGS。该系统以FAN算法为基础,通过对电路结构分析来产生组合电路的测试码,进而帮助设计者产生整个电路的测试码。实验证明,该系统对组合电路的故障覆盖率可达90％以上。 相似文献
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