| 一个实用化的测试产生系统COMPA—ATPG |
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| 引用本文： | 潘榆奇,张保定.一个实用化的测试产生系统COMPA—ATPG[J].计算机辅助设计与图形学学报,1992,4(2):1-7. |
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| 作者姓名： | 潘榆奇 张保定 |
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| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室，中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室，中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室，中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室，中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室 北京 100080，北京 100080，北京 100080，北京 100080，北京 100080 |
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| 基金项目： | 中科院“七五”重点攻关项目“COMPA系统的进一步开发”的子项目“COMPA系统测试生成软件包” |
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| 摘 要： | 本文介绍了一个在康发工作站实现的测试产生系统COMPA-ATPGS。该系统以FAN算法为基础,通过对电路结构分析来产生组合电路的测试码,进而帮助设计者产生整个电路的测试码。实验证明,该系统对组合电路的故障覆盖率可达90％以上。
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| 关 键 词： | 描述语言 测试 组合电路 |
A Test Pattern Generation System on a CAD Workstation |
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| Para Yuqi,Zhang Baodang,Li Zhongcheng,Li Jintao,and Min YinghuaCAD Laboratory.A Test Pattern Generation System on a CAD Workstation[J].Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics,1992,4(2):1-7. |
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| Authors: | Para Yuqi Zhang Baodang Li Zhongcheng Li Jintao and Min YinghuaCAD Laboratory |
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| Affiliation: | Para Yuqi,Zhang Baodang,Li Zhongcheng,Li Jintao,and Min YinghuaCAD Laboratory,Institute of Computing Technology,Academia Sinica,Beijing,100080 |
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| Abstract: | This paper presents a test pattern generation system implemented on a CAD workstation. Based on FAN algorithm and the structural analysis of the tested circuit, the system generates the test pattesrns for combi national circuite automatically. The fault coverage for combinational circuits can be reached more than 95%. |
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