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1.
陶瓷艺术品在成型和烧结过程中受物理化学变化的影响,即使是同一窑炉烧制且同一外形的两件陶瓷艺术品,封闭在胎中的气孔、微裂纹等内部微观结构都各不相同,且这种随机形成的特征不可复制,具有唯一性。X射线透视成像技术可以将陶瓷艺术品这种唯一性结构特征以二维投影的形式显现,并作为单个陶瓷艺术品的身份标识,通过对比这些身份标识即可对陶瓷艺术品进行质量溯源。研究通过采集陶瓷艺术品样本进行X射线透视分析,对比二维透视图像的特征,确定为陶瓷艺术品唯一性身份,并进行二次验证确认。该方法相比X-CT分析技术,可以更为快速的采集无底款、纹饰等空间定位信息的陶瓷艺术品内部结构唯一性特征,且检测条件简单,设备成本较低,具有良好的应用前景。  相似文献   
2.
研究了在工业X射线成像领域,放大倍数、管电压、管电流、曝光时间等参数与图像质量的相关性,探讨了图像质量最优时成像参数的选取。试验结果表明:在不考虑有效剂量的前提下,采用高放大倍数、低管电压、大电流,可以获得更好的图像质量。  相似文献   
3.
X射线薄板层析成像(CL)系统是一种针对板状构件的新型断层成像系统,该系统中存在射束硬化现象。本工作研究了一种基于SART算法的硬化伪影校正算法(SART-BHC算法),通过对该算法的研究及对CL系统矩阵的计算,使该方法能应用于CL中。通过模拟与实验相结合的方式,利用蒙特卡罗方法获得CL投影的模拟数据,在实际CL中获得实验数据,然后利用SART-BHC与FPB算法对两种数据分别重建。结果表明,SART-BHC算法可应用于CL中,不需要任何先验知识,能很好地校正硬化伪影,并对层间混叠有抑制作用。  相似文献   
4.
本文针对光锥耦合X射线探测器低噪声的设计要求,研制了一套读出电子学系统,该系统包括模拟驱动电路、前端处理电路及基于现场可编程门阵列(FPGA)的数字信号处理电路。利用X射线成像平台,对研发的探测器进行了性能测试。探测器系统绝对增益为0.168 6DN/e-,线性工作范围为0~154μGy。制冷温度为-20℃时,暗电流噪声为0.037e-/(pixel·s),读出噪声为10.9e-。探测器的本征空间分辨率达16lp/mm。测试结果表明,研制的读出电子学系统能满足高分辨率X射线探测器对低噪声特性的需求。  相似文献   
5.
对比度灵敏度是描述计算机断层成像(CT)系统分辨图像细节特征能力的参数,其主要受图像统计噪声水平的影响。本文介绍了CT对比度灵敏度的测量方法,并用直径50 mm的均匀有机玻璃圆柱作样品测量225 kV-3D-ICT系统的对比度灵敏度,在X光机电压为160 kV的条件下,得出在0.3 mm×0.3 mm×0.3 mm范围内的对比度灵敏度约为1%。并讨论了系统的稳定性、硬化校正和重建滤波参数对测量结果的影响。  相似文献   
6.
本文通过查阅文献资料、调查访问法、现场观察法对教学重点动作之一--高单杠屈伸上技术进行研究,找出该技术常见错误并进行详细分析,进而选择相应的纠正方法.以便使学生更好地去学习,完成该动作.对学生高单杠屈伸上技术动作常见错误分析得出,屈体后摆阶段问题最为严重,特别是屈伸部分,应作为该动作练习重点,反复加强训练;加强专门性身体素质训练以及辅助性动作练习等,是克服高单杠屈伸上技术动作错误的有效纠正方法;控制屈伸上动作节奏与时机的把握是各环节得以完成的关键.  相似文献   
7.
北京慢正电子强束流性能研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
采用电子束流以及脉冲慢正电子束流对系统进行了调试,对束流系统的性能参数进行了测定和研究。实验结果表明,系统对于模拟电子的传输效率高于98%,电子束斑直径小于5mm。在目前加速器短脉冲的运行模式下,脉冲慢正电子束流的强度达到了105/s以上,IP成像板束流沉积形貌直径小于15mm,脉冲慢正电子束流微分能谱半高宽(FWHM)约为10eV;;在高于3×10?Pa的超高真空中,慢正电子在直流化管道内7存贮40ms后,束流强度减弱到原来的50%。系统各项性能运行参数达到了设计要求。  相似文献   
8.
教学手段是教学过程的重要组成部分,是影响教学质量的主要因素之一.将多媒体演示手段运用于学校体育理论教学中,能够收到十分理想的效果.多媒体演示教学的强大功能完全能够满足体育理论教学的需要,然而这些功能有待充分开发和利用.  相似文献   
9.
脉冲慢正电子束流的检测   总被引:1,自引:0,他引:1  
本工作设计了一种通过测量脉冲慢正电子湮没辐射在闪烁探测器的积分效应进行测量和标定脉冲正电子束流强度的方法.通过对探测器的刻度,定量测量了北京慢正电子强束流项目中慢正电子束流的流强和能谱发布,为脉冲正电子束流的直流化设计提供了依据.  相似文献   
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