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1.
采用射频磁控溅射法,通过改变工艺参数在n型(100)Si片上制备了表面粗糙度小、以(100)面择优取向的AlN薄膜。研究了高温退火、N2结尾等工艺对AIN薄膜择优取向的影响。结果表明,增大工作气压有利于薄膜(100)面择优取向,但是随着工作气压升高薄膜沉积不均匀,通过退火可以减少这种缺陷;N2-Ar比低有利于(100)...  相似文献   
2.
本文对激光表面熔区的显微组织进行了热力学和动力分析,提出一个简化的熔池中温度分布的物理模型,分析了非晶态形成过程。用CWCO2激光扫描Fe—B合金表面,得到130μm~200μm厚度的非晶层,并对激光低速扫描时熔区再结晶点阵常数变化的有关数据进行了对比,对激光非晶态形成的条件及有关工艺参数进行了分析和讨论。  相似文献   
3.
The preparation of aluminum nitrogen(AlN) film without Al texture is of great significance for the manufacture of highperformance surface acoustic wave(SAW) device.We research the process factors which bring Al into AlN film due to radio frequency(RF) magnetron sputtering system,and discuss how the process parameters influence the AlN thin film containing Al.In the research,it is found that the high sputtering power,the low deposition pressures and low partial pressure of Ar can lead to growing Al-texture during AlN thin film preparation,and the experiment also shows that filling the chamber with nitrogen gas can recrystallize a small amount of Al composition into AlN film during the annealing process in the high temperature environment.  相似文献   
4.
采用射频磁控溅射法沉积制备了(002)ZnO/A l/Si复合结构。研究了Al薄膜对(002) ZnO/Al/Si复合结构的声表面波器件(SAWD)基片性能影响以及当ZnO 薄膜厚度一定时的Al膜最佳厚度。采用X射线衍射(XRD)对Al和ZnO薄膜进行了结构表征 ,采用 扫描电镜(SEM)对ZnO薄膜进行表面形貌表征,并从薄膜生长机理角度进行了分析。结果 表明,加Al薄膜有利于ZnO薄膜按(002)择优取向生长,并且ZnO 薄膜的结晶性能提高;与(002)ZnO/Si结构基片相比,当Al薄膜 厚为100nm时,(002)ZnO/Al/Si结构中ZnO薄 膜的机电耦合系数提高 了65%。  相似文献   
5.
吴晓国 《山西建筑》2005,31(19):127-128
结合具体的工程实践,介绍了植筋锚固技术中使用材料、工具以及参数的选定,阐述了具体的施工工艺、技术要求及质量控制措施,经实践证明,植筋锚固技术有诸多的优点,应用前景广阔。  相似文献   
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