玻璃与电熔锆刚玉砖作用界面的电子探针研究

本文运用电子探针研究了以R_2O-BaO-SiO_2为基础的玻璃与电熔Al_2O_3-ZrO_2-SiO_2耐火材料高温作用时形成的界面;测定了玻璃-耐火材料界面附近Na、K、Zr、Al、Ba和Si的浓度分布。发现在作用层内玻璃与耐火材料的组成都有明显变化,而且,K和Al之间的浓度分布存在一定的相应关系。结果证明:电子探针,特别是等浓度图,对玻璃与耐火材料作用界面的研究颇具价值。     

热处理对Bi－Pb－Sr－Ca－Cu－O超导材料结构和超导性能的影响

利用原位电阻测量、热重分析、电镜观察和电子探针等多种实验手段研究了Ｂｉ_（１．６）Ｐｂ_（０．４）Ｓｒ_２Ｃａ_２Ｃｕ_３Ｏ_（１０＋δ）（下称ＢＰＳＣＣＯ）超导材料在不同温度（６５０—８００℃）和不同氧分压（氧气、空气和氮气）下热处理过程中结构变化及其对超导电性的影响，实验结果表明，在稍高氧分压下退火，２２２３相中的Ｐｂ￣（＋２）离子将失稳析出体外，生成类Ｃａ_２ＰｂＯ_４杂相，导致电阻率和重量增加，其调制结构由纯Ｐｂ型（ｑ＝βｂ）逐渐变为纯Ｂｉ型（ｑ＝βｂ＋ｃ），在低氧分压下退火，类Ｃａ_２ＰｂＯ_４杂相将分解，整个过程基本可逆．此外还发现，适度析出类Ｃａ_２ＰｂＯ_４杂相，２２２３母相的超导转变温度将增高，材料的电传输特性亦将得到改善．     

Al_2O_3的粉末特征对β"-Al_2O_3烧结性能的影响

研究了Al2O3原料在不同热处理条件下的相组成和颗粒形貌以及Al2O3粉末特征对Na-β”－Al2O3烧结性能的影响．实验表明，只有α-Al2O3才能烧结成致密的β"－Al2O3陶瓷．     

固体电解质的电子束照射损伤

EPMA、SEM、TEM和AES在研究固体电解质材料的显微结构和组成时,常由于这些仪器的入射电子束照射而引起试样损伤。这不但使形貌观察出现假象,而且使电子束照射区的组成也发生变化,有时使晶格遭到破坏。研究这种损伤过程对实验结果的解释及选择减小损伤的实验条件均具有一定意义。我们还通过电子束损伤过程研究了快离子导体的电化学损坏机理。固体电解质是一类高离子电导率的固体材料,可用作固体离子器件的离子传输隔膜,是近十几年来较活跃的一个研究领域。我们用JCXA—733电子探针研究了β—Al_2O_3、β″—Al_2O_3、Nasicon、Ag~-导体、Ⅰ型和Ⅱ型玻璃的电子束损伤特征。     

Naβ″—Al_2O_3中离子交换和迁移的EPMA研究

用JCXA—733电子探针的背射电子成份像和特征X射线像,成功地显示出Ce~(+++)和Eu~(++)离子与NaB″—Al_2O_3中Na~+离子交换的非均匀性,用注入电子束诱导离子迁移的实验表明,在Ce~(+++)或Eu~(++)离子交换后的β″—Al_2O_3晶格中的Na~+离子仍为主要载流子,而Ce~(+++)或Eu~(++)为不可迁移离子。     

β″氧化铝中杂质的EPMA研究

用EPMAEDS组合仪,对β″氧化铝中的三种典型杂质进行了形貌观察和成分分析,并用电子束诱导离子迁移法,研究了杂质区及正常区的离子电导差异,讨论了不同杂质的特点及对β″氧化铝作用中的危害。     

SiO2—PbO玻璃的EPMA定量分析方法

ＳｉＯ２－ＰｂＯ玻璃的定量分析方法，是一项国际合作研究课题，我们是中国的唯一参加者。本文阐述了我们在ＥＰＭＡ定量分析过程中的样品制备方法，分析条件，标样选择及定量修正的计算方法等，并给出了我们及其他国家各实验室的ＥＰＭＡ定量分析结果和偏差，我们的分析结果与公布的标准结果十分接近。     

电子束轰击下固体的Na~+迁移

一、引言离子固体受到电子束轰击时,如果含有可迁移阳离子,则它们可能向电子束轰击点迁移并俘获电子后转变为金属原子在固体表面沉积积累,从而影响电子探针(EPMA)的成份分析和扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)的形貌观察。以前曾经发现某些含碱金属氧化物组份的硅酸盐玻璃和矿物在经受电子束轰击时,组成元素的X射线计数率不稳定,碱金     

SiC—TiB2复相陶瓷的EPMA—EDS图象分析

讨论了ＥＰＭＡ－ＥＤＳ图象分析技术在材料研究中的特点及分析方法，对ＳｉＣ－ＴｉＢ２复相陶瓷中的ＴｉＢ２相的尺寸，周长及所占面积等几何参数进行了分析。并研究了ＴｉＢ２相的平均直径及面积与力学性能的关系。     

金属钠在β氧化铝陶瓷内的电解沉积现象

钠β氧化铝(Na_2O·7～11Al_2O_3)是一种快离子导体材料,300～350℃的离子导电率为10~(-1)欧姆~(-1)·厘米~(-1),可用作钠电极高能电池、电化学器件或电解池的电解质隔膜。但是在传输钠离子电流过程中,可能引起钠沉积作用,即钠原子在β氧化铝晶格内或多晶材料晶界内沉积积累,从而使材料破裂或产生电子电导,是影响其使用寿命的一个重要原因。对损坏后的β氧化铝电解质隔膜进行分析和研究发现,在裂纹附近的钠较为集中,许多实验表明,钠沉积现象是在Na~ e→Na的反应界面上,即钠离子转变为金属钠时发生。