O．1Hz～50kHz直线振动幅值和相位国家计量基准系统的研究

描述中国计量科学院在直线振动幅值和相位测量的理论研究和技术实现方面取得的最新进展。简要介绍了国家高、中、低频振动基（副基）准幅相特性测量装置的系统构建、测量原理和技术实现，以及装置达到的主要技术指标。提出振动基（副基）准优化提升中关键的技术创新点，如自主提出了改进的外差正弦逼近法和基于波峰波谷的外差时间间隔法，在压电高频（2kHz～50kHz）振动台上，首次在国内外实现了（1nm～500nm）振幅范围内的纳米级振动传感器灵敏度幅值和相移的测量。中国计量科学研究院（NIM）与德国物理技术研究院（PTB）在10Hz～10kHz范围内开展的标准加速度计灵敏度幅相特性国际双边比对验证了国家基准的测量不确定度。     

机械振动测量的激光干涉技术原理及其应用

机械振动测量的激光干涉技术原理及其应用静波，陈之炎（上海交大振动、冲击、噪声研究所）一、概述目前广泛采用的机械振动测量方法是将被测物体的振动量（位移、速度、加速度）的变化为转化电量（电荷、电压等）或电参数（电阻、电容、电感）的变化，然后经放大、运算、...     

交流等离子体显示屏放电的瞬态辐射特性研究

为深入理解彩色交流等离子体显示屏的气体放电机制及提高器件性能，对三元混合气体He-Ne（26％）．Xe（3．7％）放电的辐射光谱组成和光谱线的瞬态过程进行了实验研究。通过采用高速增强型CCD（ICCD）和光电倍增管（PMT）测量混合气体不同压强时，在一个维持电压脉冲期间，放电所产生的真空紫外和红外各主要谱线的强度随时间的变化，研究了充气压强对谱线强度、辐射延迟、辐射持续时间的影响，并分析了放电产生的真空紫外辐射总强度和可见光光谱线强度随充气压强的变化关系。实验结果表明，随着充气压强的提高，真空紫外和红外光谱辐射延迟缩短，辐射持续时间减小，并且真空紫外辐射总强度增大，可见光强度减小。     

激光自动跟踪空间坐标测量系统的发展（二）

DevelopmentofLaserAutomaticTracingSpaceCoordinateMeasurementSystem(2)WangJia;LuGang（上接1997年17卷第3期第39页）3多站激光跟踪测量系统3．1多边注的四站三自由度测量系统3.1.1四站三自由度测量系统1991年，日本O．Nakamura建立了采用多边法的四站三自由度测量系统。所谓多边法（multi-lateration）是用多台激光干涉仪共同跟踪一个反射器，计算坐标时只利用测量得到的长度改变量信息，而不用角度信息。对比前边的球坐标测量法，它有如下优点：（1）由于利用方向角的测量值来计算三自由度坐标。因此，球坐标测量法的测量精度随…     

激光跟踪测量系统校验及在三维测量中的应用

介绍了激光跟踪仪（LTS）原理，提供了一种校验激光跟踪测量系统的方法。通过与高精度三坐标测量机（CMM）比对测量，检验其精度，实验结果表明角向误差是影响LTS精度的主要因素。利用激光跟踪仪对汽车外形进行扫描，建立其三维模型，发现测量中存在的问题，并提出解决方法，结果表明，激光跟踪仪应用于汽车车身扫描有操作简单、精度较高等优点。     

制造辐射探测器的激光加工技术

美国海军实验室（NRL）的科学家研究了一项制备辐射探测器的激光加工技术，这项技术使得进行新一代的天基高能辐射天文学研究成为可能；用这项技术制备辐射探测器还能用于国家的安全防卫。辐射探测器的基本结构是半导体（3．D探测器）中排列着孔洞或沟壑。     

激光多普勒技术与直线度测量

在三坐标测量机（ＣＭＭ）及精密加工机床等设备的高精度测量中，主轴及导轨的直线度、水平或竖直偏摆角的测量是相当重要的。在过去，这类机器的直线度的测量，大部实现起来比较困难，或者精度很低且费时。这里我们将介绍一种直线度测量的新方法，采用双光束系统的激光多普勒测量仪（简称ＬＤＤＭ），通过测量每一点的偏摆角，并按一定的准则计算出直线度。下面将分别简述有关的原理、精度及与其它测量方法相比较的优越性．由于这种测量技术可以对位移和角度进行同时测量，使得直线度实现了在线测量，这就为三维坐标测量仪器的精度拟合及代替线性编码器进行位置和直线性的标定提供了简易高效的新方法．     

小直径塞规的测量

本文阐述了用激光径孔测量仪测量小塞规（25mm以下）直径的测量方法，并根据JJF1059-1999（测量不确定度评定与表示），进行了测量不确定度分析。论证其可行性。     

坐标测量机的联机误差补偿

文中介绍一种坐标测量机（ＣＭＭ）的联机误差补偿系统，用激光多自由度测量（ＭＤＦＭ）系统联机测出ＣＭＭ的多数误差分量，剩余的用小涉仪脱机测出，开发两个数学误差模型，综合上述误差分量，预示测点误差，随之由ＣＭＭ的名义坐标中去掉误差，提高测量准确度，试验表明，该法提高了补偿效果。     

激光测量系统探查及校准

激光测量系统探查及校准Ｋ·Ｈｅｒｒｍａｎｎ１长度测量中整套激光干涉仪系统１．ｌ校准方法方面整套激光干涉仪校准（以下缩写为ＬＩ）以下面这种方式被了解。被校准的测量反射器及标准ＬＩ最好由测量车（架）与测量方问一致放置。两个ＬＩ测量轴线被放在相同的光束通道...     

外差式激光干涉仪应用于正弦直线和旋转振动测量技术的研究

介绍外差式激光干涉仪和应用于旋转振动测量的衍射光栅技术理论和工作原理。针对马赫-泽德外差式激光干涉仪在绝对法振动校准技术中的应用，简要介绍了测量系统另外两个重要组成部分（频移变换和数字信号处理）的原理、算法和技术实现。这种振动测量系统与正弦直线和旋转激振系统相配合，采用同一种正弦逼近的信号处理方法，可实现直线振动量（位移、速度、加速度）和旋转振动量（角位移、角速度、角加速度）两大类型、各种振动传感器幅相特性绝对法的精确校准。     

计算机电磁辐射的测量

目的 介绍计算机系统电磁辐射测量的条件要求和测试方法。方法 给出计算机系统辐射发射的理论模型。详细论述了测量条件要求和测试方法，并按美国联邦通信委员会（简称FCC）规定测试。结果与结论 测试结果的真实性和可重复性得到了有效保证，这些要求和方法适用于计算机系统，计算机以及与计算机主机连用的外部设备的试验，对其他电子设备辐射测量，本文的原理和方法同样具有借鉴意义。     

激光驱动内爆二维数值模拟方法及其程序(Lared-I)的研究

为惯性约束聚变（ＩＣＦ）研究提供了激光驱动内爆二维数值模拟方法及其２Ｄ３ＴＨＬ应用程序。该模拟方法扫描的主要物理过程包括质量守恒、动量守恒以及电子温度、离子温度、光子温度脱离和真实状态方程的二维可压缩辐射流体力学方程组，自变量采取二维平面价值（ｘ，ｙ）和手维柱坐标（ｘ，ｚ）。程序设计采用模块式结构，具有良好的前处理、后处理、网格重分和滑称、自动移心、自动选取时间步长等多种功能。     

双频激光干涉仪固定棱镜及活动棱镜的合理安装

本文分析了用双频激光干涉仪对仪器（机床）进行位置检测时，干涉仪固定棱镜（参考棱镜）及活动棱镜的安装合理与否对测量结果的影响。     

激光干涉仪的动态示波器功能

Renishaw XL80激光测量系统以其固有的高精度（±0．5ppm）和高分辨率（高达1nm）的优势，成为机床及坐标测量机（CMM）校准和检定领域毋庸置疑的市场领导者。目前，数以千计的Renishaw激光系统正在世界各地的诸多行业和应用领域广泛地使用。     

激光干涉仪的动态示波器功能

Renishaw XL80激光测量系统以其固有的高精度（±0．5ppm）和高分辨率（高达1纳米）的优势，成为机床及坐标测量机（CMM）校准和检定领域毋庸置疑的市场领导者。目前，数以千计的Renishaw激光系统正在世界各地的诸多行业和应用领域广泛地使用。     

现场可编程门阵列（FPGA）及其在外差测量中的应用

本文介绍了当前专用集成电路（ASIC）领域中发展很快的一种可编程器件－现场可编程门阵列（FPGA）；并以双频激光干涉仪为例介绍了FPGA在外差测量中的应用。实践证明EPGA的应用使得双频激光干涉仪的性能得以大幅度提高，展示了EPGA在外差测量中广泛的应用前景。     

YCOB晶体生长与激光倍频性能研究

坩埚下降法沿＜０１０＞和＜００１＞方向生长了直径达到２５ｍｍ的完整透明的Ｃａ４ＹＯ（ＢＯ３）３ （ＹＣＯＢ）晶体．化学腐蚀结果表明，所生长晶体无孪晶或亚晶界等缺陷，晶体尾部的位错密度 不超过１８００／ｃｍ２测量了ＹＣＯＢ的透射光谱，其截止波长为２００ｎｍ进行了ＹＣＯＢ晶体对 Ｎｄ：ＹＡＧ激光的二次倍频实验．通过与ＫＤＰ晶体对比，计算出ＹＣＯＢ晶体的有效非线性系数 在Ⅰ型相位匹配方向（θ，φ）＝（６６．３°，１４３．５°）和（６５．９°，３６．５°）上分别为１．４５ｐｍ／Ｖ和０．９１ｐｍ／Ｖ； 大于ＫＤＰ和 ＬＢＯ晶体．在脉冲宽度１０ｎｓ的 Ｎｄ：ＹＡＧ激光单脉冲辐射下ＹＣＯＢ晶体出现体 损伤的激光损伤阈值不低于８５ＧＷ／ｃｍ２．     

辐射加工级电子束吸收剂量标准及量值溯源系统

吸收剂量是电离辐射计量学领域基本量之一,也是国际关键比对量之一。中国计量科学研究院本课题采用量热计（石墨和水）和液体化学剂量计（重铅酸银、重铅酸钾银、硫酸林一亚体）作为标准,丙氨酸H：SR和辐射显色薄膜剂量测量系统作为传递标准,一些固体剂量计（辐射显色薄膜、三醋酸纤维素CTA）和液体化学剂量计（重铬酸钾银、重铅酸银）作为工作剂量计,建立了我国电子束辐射加工吸收剂量标准和量值溯源系统。研究了这些剂量测量系统的剂量学性能如剂量响应曲线（函数）、测量重复性、稳定性、某些辐照条件（如温度和多次辐照等）的影…     

半导体基片表面微小高温区域的红外测温系统

利用红外辐射测温原理，设计成半导体基片上激光焦斑温度不接触测量系统。该系统由透镜成像系统、探测器、精密电动平台及相关电路和软件组成，其测温范围大，温度分辨力可达0．2K，还可得到温度-时间关系曲线；可自动测量热斑的温度分布及寻找热斑的最高温度区域；测量区域的最小直径为18μm。