首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

现场可编程门阵列(FPGA)及其在外差测量中的应用
引用本文:谢广平,周祖成,等.现场可编程门阵列(FPGA)及其在外差测量中的应用[J].计量技术,1995(5):4-6.
作者姓名:谢广平  周祖成
作者单位:清华大学
摘    要:本文介绍了当前专用集成电路(ASIC)领域中发展很快的一种可编程器件-现场可编程门阵列(FPGA);并以双频激光干涉仪为例介绍了FPGA在外差测量中的应用。实践证明EPGA的应用使得双频激光干涉仪的性能得以大幅度提高,展示了EPGA在外差测量中广泛的应用前景。

关 键 词:专用集成电路  可编程门阵列  外差测量  激光干涉仪
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号