电子元件参数漂移的MΦItoft统计模型Mω

参数漂移模型描述了元件参数从额定值发生偏移的行为。随着可靠性朝无故障寿命或无需维修工作周期的方向发展 ,对产品的参数漂移进行研究越来越显重要。利用 MΦ Itoft统计模型描述了电子元件的参数漂移行为 ,通过元件的早期寿命测试来预测元件寿命 ,并给出了应用实例     

可靠性工程与环境工程

0309231结构元件疲劳可靠性估算的剩余寿命模型[刊]/郭盛杰//南京航空航天大学学报.—2003,35(1).—25～29(E)从安全余量的定义出发,提出了一个估算结构元件疲劳可靠性的剩余寿命模型。基于常幅载荷下,疲劳寿命可用对数正态函数分布描述,本文分析了常幅和变幅载荷作用下材料的疲劳剩余寿命的分布形式,认为可用带位置参数的对数正态函数近似描述。在此基础上,系统阐述了元件在常幅和多级载荷下的疲劳     

基于直流无刷电机的雷达伺服系统设计

介绍了连续扫描工作的长寿命伺服系统设计与实现,选用无刷电机作为执行元件并选用无刷旋转变压器作为测角反馈元件来实现长寿命要求。文中描述了直流无刷电机的Matlab模型和基于无刷电机的雷达伺服系统仿真模型。伺服系统的校正运算通过PI调节器实现,参数通过系统仿真决定,简化了系统参数的设计。仿真模型中考虑了结构谐振,用以保证调节器的可实现性。功放电路由单路PWM经FP—GA分离出6路开关信号来控制,简单可靠。从系统的实际工作数据结果来看达到了较好的控制性能。     

光学元件质量与加工参数间关系的数学模型研究

光学元件质量与加工参数之间存在复杂的关系,当前模型无法准确描述两者之间的变化特征,使得光学元件加工质量较差。为了获得更优的光学元件加工质量,构建了光学元件质量与加工参数间关系的数学模型。分析光学元件质量的变化特点,根据元件加工流程,获取与光学元件质量相关的参数,并根据参数优化数学模型。仿真测试结果表明,模型可以高精度地描述光学元件质量与参数之间变化关系,减小了元件表面厚度刻蚀误差,使得光学元件加工粗糙度下降,表面形貌更为平整。     

金属化膜脉冲电容器剩余寿命预测方法研究

 金属化膜脉冲电容器是惯性约束聚变激光装置的重要元器件之一,其寿命预测是激光装置维护和备件决策制定的依据.在分析金属化膜脉冲电容器退化失效机理的基础上,采用Wiener过程描述其性能退化过程.进一步考虑到各电容器之间的差异,将Wiener过程的漂移参数和扩散参数看成随机变量,提出了随机效果Wiener过程模型,由同一批电容器的历史性能退化数据拟合其分布.在对单个电容器进行寿命预测时,采用Bayes方法融合电容器总体信息与该电容器自身的性能退化信息,得到其剩余寿命参数的验后估计,因而在电容器性能退化数据较少时采用该方法能提高剩余寿命预测精度.     

基于EM-EKF与隐含比例退化模型的机载电子设备剩余寿命自适应预测

针对现有机载电子设备剩余寿命自适应预测方法在新研小样本条件下,未能综合考虑设备隐含退化建模与漂移系数在线更新的问题,本文提出一种基于期望最大-扩展卡尔曼滤波(Expectation Maximization-Extended Kal-man Filter,EM-EKF)与隐含比例退化模型的机载电子设备剩余寿命自适应预测方法.首先,基于非线性Wiener过程构建带比例关系的设备隐含退化模型;其次,在引入漂移系数更新机制的基础上建立设备退化状态方程,并采用EKF算法同步更新设备退化状态与漂移系数;然后,采用EM-EKF算法实现对退化模型参数的自适应估计;最后,基于全概率公式,推导出设备剩余寿命的概率密度函数.通过对单台微机械陀螺仪实测数据进行分析,验证了本文所提方法具有更好的模型拟合性与预测准确性.     

基于一维漂移布朗运动的SLD退化失效建模

超辐射发光二极管(SLD)集LD大输出功率和LED宽光谱优点于一体,是光纤陀螺仪中的关键元件与薄弱环节,其可靠性在很大程度上决定了光纤陀螺仪的可靠性。针对SLD寿命长、失效数据难于获取的特点,研究了基于性能退化数据的可靠性评估方法。在对SLD进行失效机理分析的基础上,提出用一维漂移布朗运动模型对产品在环境应力作用下的退化特性进行建模,基于所得模型,由SLD的性能退化信息估计模型中的参数进而评估得到SLD的可靠性指标。这克服了传统可靠性分析方法依赖寿命数据的缺点,能够在没有寿命数据的情况下评估得到SLD的可靠性指标,从而可节约大量的试验经费和试验时间,在工程应用上具有重要的价值。     

基于状态信息的退化失效型产品模糊可靠性评估

考虑到退化失效型产品性能下降主要表现为状态参数发生漂移,可靠性评估模型中随机参数具有模糊特性,提出一种利用状态信息评估模糊可靠性的方法.采用随机冲击累积失效模型描述退化过程,模糊化参数漂移的动态范围,引入模糊隶属函数,推导出产品模糊可靠度的分析模型.结合具体实例进行验证,对比分析了不同隶属函数下的模糊可靠性与常规可靠性...     

基于指数分布的加速寿命试验简论

讨论了4种用于描述加速寿命试验中失效分布参数和环境条件之间关系的失效物理模型。针对阿伦尼斯模型,探讨了加速寿命试验中的参数估计方法,构建了参数的极大似然估计(MLE)方程组,解得加速寿命试验中失效分布参数的MLE值,进而通过转化,借助于标准正态分布表获得其寿命指标的近似值,并通过一个实例介绍了其具体应用。     

基于Kalman滤波和Wiener过程的系统性能退化数据建模方法

目前寿命预测的建模过程中很少考虑漂移系数变化产生的影响,这并不合理且不符合实际情况,为解决这个问题,建立了基于Kalman滤波和Wiener过程的系统性能退化模型,在此基础上采用Kalman滤波和EM算法实现了模参数的估计和更新,最后通过某陀螺仪的寿命预测实例验证了方法的有效性。     

任意阶无漂移全极点有源低通滤波器Schoeffler灵敏度意义上的参数简化

通过对任意阶无漂移全极点有源低通滤波器多参数灵敏度的分析,证明系统总的Schoeffler灵敏度与设计中自由变量的取值无关.并据此导出了该类无漂移有源低通滤波器参数设计的最简形式,使得计算公式大为简化,同时使元件种类减少一半.     

GaAsMESFET可靠性研究

唯象地研究了栅长1微米的小讯号 GaAsMESFFT 的三种主要的失效模式,即:由于源和漏接触的退化引起的缓慢退化;由于冲击脉冲引起的突变损坏;以及由于使用过程中电特性的不稳定或可逆漂移而失效。为了认可产品质量和保证器件的可靠性,设计了并且在生产流程中实施了一套质量控制程序。提出了用等效电路模型计算射频参数和直流参数之间的相互关系,描述了低成本的寿命推测方法。表明沟道工作温度在100℃时 GaAsMESFET 的平均失效时间(MTTF)超过10~8小时。     

无线传感器网络寿命研究

本文针对无线传感器网络寿命问题,首先将节点的能量变化过程描述为一个马尔可夫链,建立了单个传感器节点的寿命模型并进一步给出了网络寿命的概率分布.其次,基于种群动态变化思想建立网络寿命模型,以揭示网络节点数目的变化规律.然后以维纳过程分析节点数目变化,得到了单个网络寿命的概率分布,并用极大似然法估算了相关参数.并用贝叶斯方法估计相关参数.最后通过仿真实验验证了所给模型和方法的有效性.     

基于weibull模型的风机变桨器短期可靠性分析

作为变桨系统的核心,变桨驱动器的高可靠性是风力发电机安全、高效、可靠运行的重要保证。针对变桨器运行环境的复杂性、故障数据难以完整收集等特点,提出了一种基于威布尔分布模型的短期可靠性分析方法。该方法对变桨驱动器模型进行适当简化,以二参数威布尔分布模型建立元件的可靠度模型,以最小二乘法估计模型未知参数。去除变工况因素(如环境温度骤然升高、风速过大)对采集样本的影响,得到元件因耗损失效的寿命分布曲线及可靠度,并以内蒙某风场实际统计数据为例验证了方法的有效性。所得结论不仅可以使风场操作人员更有效的认知元件设备的寿命分布特征及当前所处的可靠度水平,从而作出合理的维修决策,降低维修成本;还可以为元件设备的研发、设计、生产人员提供辅助的理论支撑。     

亚微米硅p－MOS晶体管模拟的漂移扩散与蒙特卡罗方法比较

亚微米硅ｐ－ＭＯＳ晶体管模拟的漂移扩散与蒙特卡罗方法比较＝［刊，俄］／－１９９３．２２（１）．－８０～８５近年来，在模拟集成电路元件（包括硅ＭＯＳ晶体管）中普遍采用漂移。扩散模型。在元件有源区特征尺寸非常小的条件下。漂移－扩散模型可以非常精确地计算出...     

NBTI效应的退化表征

对超深亚微米PMOSFET器件NBTI效应的失效机理和退化表征进行了讨论.反应-扩散模型是最为广泛接受的NBTI退化机理模型,它有效地解释了阈值电压漂移随时间逐渐饱和以及应力去除后NBTI效应部分恢复的退火现象.用阈值电压漂移量表征了NBTI效应的退化,深入讨论了影响NBTI效应的主要因素:应力作用时间、栅氧电场和温度应力,总结了阈值电压漂移与这些因素的关系,给出了一个经验-逻辑推理公式,对公式中的参数提取后可以得到NBTI寿命值,从而实现NBTI效应的可靠性评价.     

一种基于广义预测控制算法的数字功放系统研究

主要介绍了采用广义预测控制算法建立数字功放模型来改善数字功放系统性能.通过Matlab软件对模型进行仿真,验证采用广义预测控制算法能够抑制电源噪声并降低开关管切换时间、电压和电流检测误差及元件参数漂移对输出的影响,提高数字功放的音质.     

Weibull分布下基于MAM的白光OLED寿命预测

为了得到白光有机发光二极管(OLED)寿命信息,降低试验成本,开展了三组恒定电流应力加速寿命试验。采用Weibull函数描述其寿命分布,基于图分析法(MAM)和MATLAB绘制的Weibull概率双坐标纸,描点作图并估计形状参数和尺度参数,实现了白光OLED的寿命预测。数值结果表明,白光OLED样品在各加速应力下失效机理保持不变,加速模型满足逆幂定律,精确计算的加速参数使得OLED寿命快速估算成为可能。     

TSV封装通孔形态参数对焊点热疲劳寿命的影响

使用ANSYS有限元软件建立简化的基于硅通孔技术互连的二维结构模型,用粘塑性本构Anand方程来描述SnPb钎料焊点的力学行为,针对模型中的焊球进行热力耦合计算,研究热循环过程中的热失效问题.根据模拟的温度场、应力应变场找到危险焊点位置,利用修正Coffin-Manson经验方程估算危险焊点的热疲劳寿命,并且讨论了模型中通孔直径、深度和间距等参数对焊点热疲劳寿命的影响.结果表明,在只改变单一参数的情况下,焊点疲劳失效周期通孔各参量值的增加均呈现出下降的趋势,其中通孔直径和通孔间距的大小对焊点的使用寿命影响较大.     

光伏型光电探测器漂移-扩散模型的改进

提出了改进的描述光伏型半导体光电探测器中载流子输运的漂移-扩散模型,该模型能适合更高强度的激光辐照,可以模拟光生载流子的长时间过程。依据该模型,对光伏型探测器进行了模拟计算,得到了激光辐照下探测器的动态响应规律、探测器温升以及材料参数对探测器响应的影响。