共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
集成电路局部缺陷模型及其相关的功能成品率分析 总被引:2,自引:0,他引:2
大规模集成电路(VLSI)使亚微米特征尺寸的大面积集成电路制造以及集成数百万个器件在一芯片上成为可能。然而,缺陷的存在致使电路版图的拓扑结构发生变化,产生IC电路连接错误,导致电路丧失功能,从而影响IC的成品率,特别是功能成品率。文章主要对缺陷的轮廓模型、空间分布模型和粒径分布模型作了介绍;对集成电路成品率的损失机理作了详细论述。最后,详细介绍了功能成品率的分析模型。 相似文献
2.
在集成电路可制造性设计研究中,成品率与可靠性之间的关系模型备受人们关注.缺陷对成品率和可靠性的影响不仅与出现在芯片上的缺陷粒径大小有关而且与缺陷出现在芯片上的位置有关.本文主要考虑了出现在互连线上的金属丢失物缺陷对互连线的影响,分析了同一粒径的缺陷出现在互连线不同位置对互连线有效宽度的影响,给出了基于缺陷均匀分布的互连线平均有效宽度,结合已有成品率和可靠性估计模型,提出了基于缺陷位置信息的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系模型.在工艺线稳定的情况下,利用该工艺线的制造成品率可以通过该关系式有效地估计出产品的可靠性,从而有效地缩短新产品的研发周期. 相似文献
3.
缺陷是影响集成电路成品率与可靠性的主要因素.本文在区分缺陷与故障两个概念的基础上,将缺陷区分为成品率缺陷(硬故障)、可靠性缺陷(软故障)和良性缺陷.利用关键区域的面积,给出了一个缺陷成为"硬故障"或"软故障"的概率,给出了精度较高的IC成品率预测模型.利用成品率缺陷与可靠性缺陷之间的关系,给出了工艺线生产的产品的失效率与该工艺线制造成品率之间的定量关系.在工艺线稳定的条件下,通过该工艺线的制造成品率可以利用该关系式可以有效的估计出产品的失效率,可以有效地缩短了新产品的研发周期. 相似文献
4.
5.
在门级电路可靠性估计方法中,基本门的故障概率P一般采用经验值或人为设定.本文结合基本门的版图结构信息,综合考虑了设计尺寸及缺陷特性等因素,分析了不同缺陷模型下的粒径分布数据,给出了缺陷模型粒径概率密度分布函数的参数c的计算算法,并推导出了P的计算模型.理论分析与在ISCAS85及74系列电路上的实验结果表明,缺陷的分段线性插值模型能较准确地描述电路可靠性模型的低层真实缺陷.对ISCAS85基准电路采用本文方法所得到的电路可靠度与采用美国军用标准MIL-HDBK-217方法所得到的计算结果进行了比较,验证了本文所建P模型的合理性. 相似文献
6.
7.
8.
9.
10.
11.
半导体器件成品率的高低是产品质量与可靠性高低的"预示" 总被引:2,自引:1,他引:1
彭苏娥 《电子产品可靠性与环境试验》2002,(3):58-62
介绍了国外半导体器件成品率与可靠性之间关系的研究结果,提出了元器件成品率的高低,是产品质量与可靠性高低的“预示”这一观点。同时还对成品率损失的原因、影响产品质量和可靠性的原因进行了分析,为内建可靠性、提高产品的成品率、质量和可靠性提供参考。 相似文献
12.
现有成品率及关键面积估计模型中,假定缺陷轮廓为圆,而实际缺陷轮廓为非规则形状.本文提出了矩形缺陷轮廓的成品率模型,该模型与圆模型相比,考虑了缺陷的二维分布特性,接近真实缺陷形状及IC版图布线和成品率估计的特点.比较了新模型与真实缺陷及其圆模型引起的成品率损失,表明新模型在成品率估计方面更加精确,这对成品率精确估计与提高有重要意义. 相似文献
13.
国外微电子器件制造中的成品率管理方法综述 总被引:1,自引:1,他引:0
彭苏娥 《电子产品可靠性与环境试验》2000,(3):21-26
综述了国外微电子器件成品率提高的三个阶段和成品率损失的原因分析 ,介绍了国外成品率预测模型的研究及利用测试结构对影响成品率的缺陷进行监测和查找的情况 ,进而讨论了微电子器件制造中的成品率管理方法。 相似文献
14.
15.
对国外近几年在半导体器件成品率与可靠性之间的关系研究情况进行了综合、分析 ,介绍了成品率预计模型及其参数的选取。 相似文献
16.
为克服传统静态CMOS电路在高频工作时的缺陷,引入了MOS电流模逻辑(MOS Current Mode Logic,MCML)电路.MCML电路是一种差分对称结构逻辑电路,与传统的CMOS电路比较,在高频段工作时功耗相对较低,具有典型的高速低功耗特性.在对MCML电路的开关条件以及具有不同输入端的MCML逻辑门电路进行分析后,提出了实现MCML加法器的两种电路结构,并给出了不同结构的应用条件.仿真结果验证了电路结构设计的有效性. 相似文献
17.
18.
19.
20.
考虑缺陷形状分布的IC成品率模型 总被引:3,自引:2,他引:1
实现了基于圆缺陷模型的蒙特卡洛关键面积及成品率估计,模拟了圆缺陷模型估计的成品率误差与缺陷的矩形度之间的关系,提出了更具有一般性的两种集成电路成品率模型,它们分别对应于矩形度相同和不同的缺陷.仿真结果表明该模型为成品率的精确表征提供了新途径. 相似文献