一种提高转速测量范围与精度的新方法

一、M/T法测速原理 在电机测试中,经常要进行位置（或转角）和转速的测试,光电编码器由于既可作速度信号传感器。又可作位置信号传感器,且精度高,无疑是这类传感器的优选者。采用编码器测速目前主要以M/T法、V/F法为代表,且采用前者较多,这是由于计算机的高速与高精度导致的。M/T法光电式数字测速在计数器与微机软件的配合下,可实现高精度的数字式测量。     

基于FPGA的光电编码器信号处理方法

提出了一种基于FPGA的光电编码器信号处理的设计方法。首先根据增量式光电编码器输出脉冲的特性做四倍频处理,其次通过测速算法的比较选定合适的变M/T算法,最后在Matlab/Simulink平台上通过System Generator建立变M/T算法模型并自动生成pcore导入到Xilinx-EDK工程中,从而计算出电机的转速。设计实现了电机转速的反馈,为电机控制系统提供了一种电机位置检测的有效方法。     

基于增量式光电编码器的高精数字测速应用研究

针对改进M/T测速法中的不足,分析原因主要是没有考虑处理器执行代码需消耗时间,增加计算误差,于是提出在改进M/T测速法中对高频时钟脉冲分频方法,有利于提高测速精度和改善速度调节器的稳定性。改进的方法在带负载的真实实物系统中提高了测速精度,为整个交流电机调速系统的实现提供了保障。     

基于FPGA的变M/T归一化测速算法研究

针对永磁同步电机的测速问题,提出关于增量编码器的变M/T归一化测速算法,并基于Xilinx FPGA板级系统完成算法设计与实现。通过分析M/T算法在低速范围的局限性,添加速度预测单元实时指导计数脉冲个数选取。为便于算法移植,在算法中引入归一化的设计思想。针对算法中使用较多的乘法器,引入Booth算法降低整体算法设计对FPGA片内DSP的依赖性。仿真结果表明,基于FPGA的变M/T归一化测速算法转速测量误差在±0.4 r/min内,测速响应时间不超过3 ms。     

基于CPLD的光电编码器角位移拟合测速法

针对常用的M法和T法无法满足增量式光电编码器整个测速范围内误差要求的问题,提出了对码盘信号进行角位移拟合求采样时刻即时速度的新方法,在匀加速条件下对这3种方法进行了仿真实验,比较了测速误差。实验结果表明,角位移拟合法在整个速度范围内都能获得很高的测速精度和误差一致性。最后用CPLD对该方法加以实现,给出了Verilog硬件描述语言的设计程序和3种方法的实验结果比较。基于CPLD的实现方法电路简单,运行稳定可靠,处理速度快,为角位移拟合法提供了一种非常好的实现方法。     

基于正交编码器高精度测速方法的研究

根据正交光电编码器测速原理,在分析了M法测速的测量误差和分辨率的基础上,提出了一种改进的转速高精度测量方法——变M法,即同时测量正交的两组脉冲序列的上升沿和下降沿,极大的减小了转速和转角测量误差,提高了分辨率。还提供了一种适用于工业现场环境条件的,基于正交编码器测速算法的虚拟仪器软硬件设计方案及其实验效果。     

开关磁阻电机光栅编码器的研究

开关磁阻电机作为一种新型的高性能变速传动系统,速度与位置信号的反馈是必不可少的.本文旨在研制一种适用于12/8极开关磁阻电机的经济型光栅编码器,以完善并优化开关磁阻电机控制系统.首先设计了光电信号采集电路,对速度与位置的检测方法做了分析、比较等研究,确定了一种变M/T法测速方案,并且进行了测试实验以及误差分析.     

M/T法测速的实用程序

增量式码盘(包括光电式和电磁式等)每转一周,可以输出一串固定数量的脉冲信号,因此可以用来进行数字测速。具体又分三种测速方法;“即M法、T法及M/T法。所谓M法,即是在固定的时间内读取码盘的脉冲个数,再算出转速,此法适于测量高转速。所谓T法,即是测出码盘输出的两个相邻脉冲的时间间隔,再算     

模拟原动系统M/T法测速实现及应用

转速可靠测量与精确控制是模拟原动系统设计中的一个重要环节,关系到整个系统的稳态误差和动态响应性能.根据M/T法测速的基本原理,提出了一种模拟原动系统中基于DSP的电气转速测量的M/T法实现方式,介绍了基本硬件组成及软件流程.该方法通过DSP的捕获功能,确保测速的计时和码盘脉冲计数的同步,提高了速度反馈精确度,并使系统具有良好的动态性能和鲁棒性.实验表明,该方案准确可靠,提高了系统的响应时间且适用的测速范围大.     

用P89C51RC+IA和EMP7064S实现转速测量

介绍一种应用M/T法测速原理,采用单片机P89C51RC+IA和EMP7064S实现转速测量的硬件电路实现方法并给出了码盘脉冲预处理电路的可编程器件(EMP7064S)的实现。