由杂质谱线强度确定等离子体电子温度

本文给出由氢等离子体中高次电离的碳、氧杂质离子的光谱线强度随时间的变化所确定的等离子体电子温度。对角向箍缩装置等离子体作5-950真空紫外光谱与紫外、可见光谱的诊断表明,在第二半周期的0.5,1.0,1.5,1.8μs时,电子温度分别为17,90,200,260eV。     

HL-1装置掠入射真空紫外杂质谱线观测

本文叙述用掠入射谱仪在HL-1装置上所做的真空紫外光谱测量。根据杂质谱线的相对强度变化,说明可动石墨孔栏和蒸钛技术对控制等离子体杂质有一定效果。通过分析谱线、软X射线和m=2模式信号扰动之间的关系,指出杂质对等离子体不稳定性的影响。     

用真空紫外谱线测量HL-1装置离子温度和观测等离子体不稳定性

本文叙述HL-1装置真空紫外光电测量。根据○Ⅵ1032A谱线多卜勒展宽的轮廓测量,估计离子温度约80—300eV。通过谱线强度的相对变化,对装置的稳定运行条件和等离子体的破裂不稳定性进行了分析。     

HL－1M装置杂质VUV辐射及Te观测

本文介绍了ＨＬ－１Ｍ装置等离子体杂质真空紫外辐射观测的初步结果。用类Ｌｉ离子谱线强度比法估计出Ｔｅ≈４００ｅＶ。镀膜后的ＣＥＭ探测器的灵敏度提高。杂质对装置放电有重要影响     

低气压空气放电中真空紫外线辐射的观测

本文叙述了用掠入射真空紫外谱仪对不同条件下低气压快脉冲放电所作的真空紫外线辐射测量。分析了60—1800波长区内的谱线,用光电方法得到了550—580波段光谱以及OV193谱线轮廓。     

由类氦离子共振线与互组合线强度比确定等离子体电子温度

聚变等离子体的光谱诊断,国内外已有了许多工作。如何在短波长上获得等离子体丰富的光谱信号,从而确定高温等离子体参数,是目前一个有意义的工作。 本工作在一台θ箍缩装置上,用掠入射真空紫外光谱仪,以对联三苯闪烁体为荧光转换材料,观测了类氦的CV40.2/40.7A,OⅦ21.6/21.8A等谱线信号,及CⅥ33.7A,OⅧ19.0