| 锆英砂样品中锆铪谱线饱和厚度的计算及应用 |
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| 引用本文： | 李小莉,安树清,于兆水,张勤.锆英砂样品中锆铪谱线饱和厚度的计算及应用[J].岩矿测试,2014,33(2):224-229. |
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| 作者姓名： | 李小莉 安树清 于兆水 张勤 |
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| 作者单位： | 天津地质调查中心, 天津 300171;天津地质调查中心, 天津 300171;中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所, 河北 廊坊 065000;中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所, 河北 廊坊 065000 |
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| 摘 要： | 应用熔融制样X射线荧光光谱法测定锆英砂中的锆，通常采用Zr Kα线，而采用Zr Kα线作为分析线对熔融片来说并未达到饱和厚度，因此Zr的线性差，测定结果误差大。本文采用波长色散X射线荧光光谱法测定锆英砂样品中锆铪硅铝钙钛铁镁钠铪磷锰等12种组分。重点研究了锆分析谱线的选择，通过理论计算熔融片中Zr Kα线的饱和厚度为6638 μm，而Zr Lα线的饱和厚度为20 μm。由于熔融制备样片厚度为2500 μm，在熔融片中Zr Kα线远未达到饱和厚度，因此测定锆时应用Zr Lα谱线取代文献中应用的Zr Kα谱线。采用Zr Lα线，校准曲线的标准偏差（RMS）为0.39，而Zr Kα线的RMS为1.03，ZrO2分析结果的准确度和精密度有了显著的提高。对于锆，Hf Lα和Hf Lβ线饱和厚度分别为971 μm、1444 μm，由于Hf Lα1谱线与Zr Kα二次谱线重叠，因此测定铪时应用Hf Lβ线作为分析线。实验还对四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂、熔样比例和熔样温度等实验条件进行了优化，使用理论α系数和经验系数法校正基体效应，各元素计算的检出限与实际能报出的结果基本一致，方法精密度（RSD）为0.1%~10.9%，各元素的测定值与化学法测定值相符，表明通过饱和厚度的计算确定的锆和铪测定谱线具有可行性。
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| 关 键 词： | 锆英砂 锆 铪 X射线荧光光谱法 熔融片制样 谱线饱和厚度 |
| 收稿时间： | 2013/10/13 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2013/11/4 0:00:00 |
Line Saturation Thickness Calculation for Zirconium and Hafnium in Zircon Sand Samples and Its Application |
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| LI Xiao-Li,AN Shu-Qing,YU Zhao-Shui and ZHANG Qin.Line Saturation Thickness Calculation for Zirconium and Hafnium in Zircon Sand Samples and Its Application[J].Rock and Mineral Analysis,2014,33(2):224-229. |
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| Authors: | LI Xiao-Li AN Shu-Qing YU Zhao-Shui and ZHANG Qin |
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| Affiliation: | Tianjin Geological Survey Center, Tianjin 300171, China;Tianjin Geological Survey Center, Tianjin 300171, China;Institute of Geophysical & Geochemical Exploration, Chinese Academy of Geological Sciences, Langfang 065000, China;Institute of Geophysical & Geochemical Exploration, Chinese Academy of Geological Sciences, Langfang 065000, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ziron sand Zr Hf X-ray Fluorescence Spectrometry fused bead saturation thickness of spectral line |
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