受主型杂质对p型单晶硅中少子衰减过程的影响

少子寿命测试技术是监控单晶硅中杂质和缺陷的数量及性质的重要技术手段.基于常规光电导少子寿命测试的基本参数,研究了不同性质的受主型杂质缺陷对太阳电池用p型单晶硅中少子衰减过程的影响,并重点分析了仅存在受主型电子陷阱或复合中心时,少子衰减过程的变化规律;受主型电子陷阱和复合中心并存时,少子衰减过程的变化规律.研究表明:p型单晶硅中仅存在电子陷阱或复合中心时,二者的密度和俘获截面越小,少子寿命越长,且二者均存在一个最小阈值;当二者并存时,少子电子的衰减过程可根据少子寿命值的不同分成不同的衰减区域.     

太阳电池用金属背反镜的吸收损耗

利用频域有限差分法计算获得的金属背反镜吸收损耗谱及其光电流密度谱,分析了c-Si、a-Si和GaAs三种材料电池的银背反镜的吸收损耗情况。分析过程中,电池结构采用两种形式,即平板型和织构型,且两种形式的电池结构具有相同的有源层厚度、减反膜结构、缓冲层结构、银背反镜厚度。分析表明:直接带隙a-Si和GaAs材料的银背反镜损耗小于间接带隙c-Si材料;平板型电池银背反镜的TE模损耗随入射角增加而减小,TM模损耗随入射角增加而增加;织构型电池银背反镜吸收谱的吸收峰较平板型电池多,相应的银背反镜的损耗也较平板型电池大;TM模激励的等离子体振荡吸收效应在织构型电池中表现明显。     

采用面向对象技术设计实现逻辑链路控制和适配协议

逻辑链路控制和适配协议是蓝牙协议栈中数据链路层的一部分。利用面向对象的分析和设计思想,应用标准建模语言的建模技术,对L2CAP协议进行了设计和实现。     

施主型杂质对单晶硅中少子衰减过程的影响

单晶硅材料内少子的衰减过程可以反映出其内部杂质和缺陷的信息。针对施主型杂质是单晶硅内多数杂质呈现的基本形态,首先在小注入条件下分析了p型单晶硅内少子衰减的基本机制,然后根据施主型杂质密度、俘获截面和能级距导带底之间距离等参数的不同,重点讨论了存在施主型电子陷阱和复合中心时,太阳电池用p型单晶硅内少子衰减的基本规律。研究表明:存在施主型电子陷阱或复合中心时,p型单晶硅的少子衰减过程具有恒定的少子寿命,且杂质的密度N_T和俘获截面σ_n之积(N_T×σ_n)存在最小的影响阈值,N_T×σ_n值大于阈值的杂质和缺陷对少子衰减过程才具有重要的影响。     

支持四方物流的Web服务集成平台的设计与实现

实现异构平台间的信息交互及交互自动化是在三方物流基础上构建四方物流管理系统的关键问题。提出了基于Web服务的四方物流集成平台,它将各类三方物流提供商的信息资源和软件系统进行统一封装;并将基于关键字的Web服务查询、基于wsdl4j和castor的WSDI动态分析、基于saaj的SOAP封装和基于jdom的SOAP应答消息解析封装成一个整体,为四方物流管理系统提供一系列的服务调用接口,从而实现了异构平台间的自动信息交互。     

基于WebGIS的第四方物流跟踪及应急系统设计与实现*

随着现代物流的迅速发展,物流模式由第三方物流向第四方物流过渡。作为物流过程的中介者,第四方物流需要对物流过程进行全程跟踪并且作出相应的决策,因此,为第四方物流提供了一个基于WebGIS的物流跟踪及应急决策系统。根据第四方物流业务的需要,对物流过程中涉及的订单即时跟踪、车辆动态监控、应急预案决策生成等进行了有效的模拟和实现。系统将电子地图应用于跟踪与应急决策系统,为用户提供了一个可视化载体,并在运输车辆动态监控过程中融合使用GPS、GPRS和WebGIS技术,实现了物流运送过程中的动态可视化效果;同时在应急