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半导体后段制造自动化 总被引:2,自引:0,他引:2
越来越多的半导体厂商开始考虑在半导体后段生产中采用自动化控制,目前还没有开发出非常成功的技术能够满足变化多端的后段工厂。本文介绍了半导体制造自动化的概况,分析了半导体制造自动化的需求,进而提出了一种基于SECS/GEM标准接口的半导体制造全自动化生产线解决方案。所有设备全部都通过使用SECS标准接口连接到单元控制器及更高级别的MES和工厂计划信息系统,系统除了能完成通常的设备监视和控制、数据搜集、配方管理等功能外,还实现了单一元件追踪,具有Stripmap管理,缺陷管理及多芯片管理等功能。半导体厂商通过实施全自动化改善了生产力,同时减少生产周期和场地占用率,并通过最小化人工操作和过程的连贯性带来质量和可靠性的提升. 相似文献
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UML statecharts的测试用例生成方法 总被引:22,自引:0,他引:22
测试用例生成是软件测试的关键。根据UML statecharts的层次和并发结构,研究相应的测试用例产生方法。它视复合状态为抽象状态,分别构造主UML statecharts和复合状态所对应的子UML statecharts的测试基,并依据一定的合成规则和Wp-方法生成整个UML statecharts的测试用例。这种方法能够支持递增式测试用例的生成。理论和实验结果说明,如果满足测试条件,它们保证全故障覆盖,且产生较好的测试用例。这种改进对大型复杂系统尤其有效,也便于构造自动测试工具。 相似文献
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PKI的使用脆弱性及对策 总被引:10,自引:0,他引:10
PKI是目前唯一可行的大规模网络认证解决方案,但也存在一些使用方面的脆弱性,本文介绍了PKI的主要安全隐患,指出了解决用户端问题、CRL问题,用户信息可信性问题的有效手段。 相似文献
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面向路径的测试数据生成问题是软件测试中一个基本问题。文章介绍了自主开发的面向路径的测试数据自动生成工具。Tcl/Tk是一种图形界面设计工具,其功能强大,可运行于Windows,UNIX等操作系统上,具有良好的可移植性。文章简要介绍Tcl/Tk,并给出用Tcl/Tk设计面向路径的测试数据自动生成工具的图形界面的方法。 相似文献
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面向路径的测试数据自动生成工具的设计与实现 总被引:1,自引:0,他引:1
面向路径的测试数据生成问题是软件测试中的一个基本问题。Gupta等提出一种线性化谓词函数的迭代松驰方法求解该问题。文献[2]改进了该方法,证明改进后的方法与原方法生成的约束系统相同,文章以改进后的方法为核心算法,根据软件工程的思想,采用面向对象的方法,使用UML进行设计,并且在Linux Red Hat7.0操作系统下用C++语言言实现一个为程序路径自动生成测试数据的原型工具,然后将它移植到Windows操作系统。 相似文献
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统一建模语言UML已被广泛应用于软件设计和开发中,而验证UML模型是否满足关键的性质需求成为一个重要问题.由于空间爆炸和语义的复杂性,对Statecharts进行模型检验受到软件规模和设计精化程度的制约.本文在用扩展层次自动机(EHA)结构化的表示UML Statecharts后,通过分析EHA中存在的层次、并发和事件同步等特征定义了一组依赖关系.对于由状态和迁移组成的切片准则,给出对EHA进行切片的算法.该算法能保证切片后的EHA与原来的Statecharts对性质具有相同的可满足性,且删除了与被验证性质无关的层次和并发状态,缓解了空间爆炸问题. 相似文献
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