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泥浆侵入地层中高分辨率感应测井响应特征的正演分析 总被引:4,自引:1,他引:3
高分辨率感应测井通过不同探测深度曲线的分离程度分析泥浆侵入状况和地层的渗透性.采用三层有侵正演模型数值模拟了阶跃和渐变侵入地层中高分辨率感应测井的响应特征.阶跃侵入地层中,侵入带电阻率与地层电阻率比值小于0.5时,6条不同探测深度曲线呈正序关系,读数从低到高;比值大于2.0时,探测深度由浅到深,曲线呈反序关系;比值为0.5~2.0范围时,浅侵入,曲线出现乱序,只有深侵入曲线才有合理的正序或反序关系.渐变侵入地层中,侵入带电阻率与地层电阻率比值为0.5~2.0范围时,过渡带变化对读数影响很小,比值大于2.0或小于0.5,过渡带对10 in(非法定计量单位,1 ft=12 in=0.304 8 m,下同)和20 in探测深度曲线影响最大,对90 in和120 in曲线影响很小.以上结论可应用于实际测井中高分辨率感应测井曲线分离的特性分析. 相似文献
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确保应用程序的数据安全不被攻击,在通过各种技术手段加强数据库的安全的同时,也应该重视安全的访问数据库。在分析引起数据泄漏的最常见的SQL Injection的方法之上,结合ASP.NET的特性从程序中的构造查询语句,限定访问权限和视图,以及LINQ查询技术等角度分析了在.NET框架下更加安全地访问SQL Server数据库,防止SQL注入攻击等安全漏洞,提高应用程序的安全性。 相似文献
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阵列感应测井响应的井洞影响分析 总被引:2,自引:0,他引:2
井洞影响是井径变化致使阵列感应测井响应曲线出现异常的主要原因.在建立井洞影响计算模型的基础上,数值计算分析了井洞径向深度、纵向宽度、井眼泥浆电导率和地层电导率变化对阵列感应测井各子阵列的影响特征.结果表明,井洞影响在子阵列1和2的曲线上显示为假层存在;其他子阵列会出现凸或凹尖峰异常,在高电阻率地层出现负值;数据合成处理异常,深探测深度曲线分辨率高于浅探测深度;低泥浆电导率与地层电导率差别大,井洞影响严重;当地层电导率较低时,井洞的负影响会使响应出现负值异常,致使后续处理出错;随着井眼半径的增大,短子阵列表现为假层,较长子阵列的异常明显.通过几何因子解释了井洞影响导致曲线异常的原因.实际测井曲线的井洞影响实例验证了井洞影响数值模拟结果的有效性. 相似文献
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