首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   7篇
  免费   0篇
工业技术   7篇
  2014年   3篇
  2009年   2篇
  2008年   2篇
排序方式: 共有7条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1
1.
阵列感应时间推移测井受诸多因素的影响,文章论述了阵列感应时间推移测井理论模型,全面分析了模型的影响因素,提取了模型的主要影响因素:含水饱和度、地层水电阻率、渗透率及束缚水饱和度等.通过理论模拟逐一分析每种因素对电阻率的影响状况,为解释人员深入认识阵列感应时间推移测井曲线提供理论指导,使其在实际的测井解释过程中,更加准确地识别油、气及水层.  相似文献   
2.
泥浆侵入地层中高分辨率感应测井响应特征的正演分析   总被引:4,自引:1,他引:3  
仵杰  冯娟  解茜草  李博博  赵玲  牒勇 《测井技术》2009,33(3):212-217
高分辨率感应测井通过不同探测深度曲线的分离程度分析泥浆侵入状况和地层的渗透性.采用三层有侵正演模型数值模拟了阶跃和渐变侵入地层中高分辨率感应测井的响应特征.阶跃侵入地层中,侵入带电阻率与地层电阻率比值小于0.5时,6条不同探测深度曲线呈正序关系,读数从低到高;比值大于2.0时,探测深度由浅到深,曲线呈反序关系;比值为0.5~2.0范围时,浅侵入,曲线出现乱序,只有深侵入曲线才有合理的正序或反序关系.渐变侵入地层中,侵入带电阻率与地层电阻率比值为0.5~2.0范围时,过渡带变化对读数影响很小,比值大于2.0或小于0.5,过渡带对10 in(非法定计量单位,1 ft=12 in=0.304 8 m,下同)和20 in探测深度曲线影响最大,对90 in和120 in曲线影响很小.以上结论可应用于实际测井中高分辨率感应测井曲线分离的特性分析.  相似文献   
3.
本文介绍了长庆油田储气库井的特点,分析了影响储气库井声幅变密度固井质量评价的主要影响因素:仪器刻度、地层岩性、气侵、微间隙、仪器偏心、测井时间、薄水泥环、多层套管、套管型号以及仪器性能等。通过对以上影响因素逐一分析,明晰了影响储气库井固井质量评价结论机理与曲线特征,达到了提高评价储气库井固井质量的准确率,并且提出了长庆油田储气库井固井质量测井评价方法。  相似文献   
4.
确保应用程序的数据安全不被攻击,在通过各种技术手段加强数据库的安全的同时,也应该重视安全的访问数据库。在分析引起数据泄漏的最常见的SQL Injection的方法之上,结合ASP.NET的特性从程序中的构造查询语句,限定访问权限和视图,以及LINQ查询技术等角度分析了在.NET框架下更加安全地访问SQL Server数据库,防止SQL注入攻击等安全漏洞,提高应用程序的安全性。  相似文献   
5.
阵列感应测井仪器采用多线圈子阵列结构,在制造过程中由于电子元件、线圈系制作工艺、机械、装配等原因的影响,同一支仪器的各子阵列的测量值、不同仪器的测量值会有不同.由于刻度环境的限制,测量值与地层真值有一定的差别.针对阵列感应测井仪器MIT,文章提出了一种仪器标定方法.先选择符合感应测井的标定井,然后根据阵列感应测井多探测深度曲线建立标定井地层模型和标准测量曲线.实际仪器通过分段交会图和拟合函数计算标定校正系数.两支实际仪器标定说明了新标定方法的有效性.  相似文献   
6.
井洞影响是井径变化地层致使阵列感应测井响应曲线出现异常的主要原因。在建立井洞影响计算模型基础上,利用Gianzero几何因子计算阵列感应测井井洞响应并对井洞影响进行校正。结果表明:这种方法能够有效的减小井洞影响,使得出现井洞的异常测井曲线趋于正常。应用高数中拐点与极点的知识,确定了可处理井洞的位置以及数值模拟所需的地层模型参数。地层模型井洞影响校正实例验证了井洞影响校正数值模拟结果的有效性。  相似文献   
7.
阵列感应测井响应的井洞影响分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
井洞影响是井径变化致使阵列感应测井响应曲线出现异常的主要原因.在建立井洞影响计算模型的基础上,数值计算分析了井洞径向深度、纵向宽度、井眼泥浆电导率和地层电导率变化对阵列感应测井各子阵列的影响特征.结果表明,井洞影响在子阵列1和2的曲线上显示为假层存在;其他子阵列会出现凸或凹尖峰异常,在高电阻率地层出现负值;数据合成处理异常,深探测深度曲线分辨率高于浅探测深度;低泥浆电导率与地层电导率差别大,井洞影响严重;当地层电导率较低时,井洞的负影响会使响应出现负值异常,致使后续处理出错;随着井眼半径的增大,短子阵列表现为假层,较长子阵列的异常明显.通过几何因子解释了井洞影响导致曲线异常的原因.实际测井曲线的井洞影响实例验证了井洞影响数值模拟结果的有效性.  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号