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针对有源相控阵雷达数量巨大T/R组件参数自动测试与数据分析需求,对混合多总线自动测试系统进行了研究;进行了典型T/R组件性能参数与测试仪器设备需求分析,T/R组件多总线自动测试系统硬件和软件系统设计,分析了系统误差及修正策略;该系统采用通用测试仪器结合专用测试控制单元的模式,将GPIB、LXI、USB总线脉冲功率计、噪声系数测试仪、矢量网络分析仪等测试仪器集成到控制台上,利用计算机进行测试过程控制,完成T/R组件的自动测试硬件设计;系统软件设置资源管理、自动校准、自动测试、手动测试和数据管理功能,有效提高了系统配置与数据分析处理能力;测试实验结果表明,采用自动测试大大降低了工作量,基于损耗数据修正的误差处理方法能有效保证测试精度。 相似文献
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根据塑性混凝土防渗墙体材料,结合田心水库大坝除险加固防渗墙施工过程,阐述了薄璧抓斗造塑性混凝土防渗墙配合比选择、施工工艺流程及技术要求,旨在在施工过程中进行有效控制,使之满足设计参数要求。 相似文献
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基于流程描述的测试程序开发平台的研究与应用 总被引:1,自引:0,他引:1
为提高通用自动测试系统中测试软件的通用性和开发效率,以STD(测试和信号定义,IEEE1641)标准为基础,借鉴该标准中信号分类及处理的方法,对测试流程进行描述。并以测试流程描述为基础,提出基于流程描述的测试软件开发平台。该平台通过对测试流程的描述和自动解析,实现无编程的测试程序开发。目前,该测试程序开发平台已经在某新型通用测试诊断系统中得到初步应用。 相似文献
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针对支持向量数据描述(SVDD)训练过程中的参数优化问题,提出了一种有限穷举—局部遗传算法.首先,在分别分析参数C和σ对SVDD分类性能不同影响的基础上,得到参数σ是影响分类性能主因的结论.然后针对σ的优化问题,通过穷举有限个整数解并比较其分类性能来确定近似最优解,在近似最优解的领域内用遗传算法进行局部搜索,最终得到精确的优化参数.仿真实验及电路故障检测应用结果表明:算法有效避免了参数搜索的盲目性,能以更短的时耗逼近最优解. 相似文献
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PCB设计为集成电路电磁兼容测试过程中的一个重要环节,对测试结果的精确度有很大影响,并且与常规PCB设计又有比较大的差异.为提高集成电路电磁兼容测试数据的精准度,基于ICEMC测试标准中对PCB设计的要求,对测试PCB设计中的问题进行了研究分析及解决方法验证,给出了三种屏蔽方法设计方案,明确了过孔间距约束的计算方法,提出去耦电容选型原则及I/0负载匹配方法.通过典型测试案例,从PCB结构设计、布局及布线三个方面进行了详细阐述.旨在为IC研发人员和电磁兼容检测人员提供指导和参考. 相似文献
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在规模一定的总线胚胎电子系统中,电子细胞数目将直接影响电子系统的硬件消耗与可靠性。针对电子细胞数目选择缺乏定量分析方法的现状,提出了一种基于整数非线性规划的电子系统内电子细胞数目优选方法。基于n/k系统可靠性理论,建立了电子系统的可靠性分析模型。以系统消耗的MOS场效应管数目为衡量指标,建立了电子系统的硬件消耗分析模型。通过分析系统可靠性和硬件消耗,将电子系统内电子细胞数目优选问题转化为求解整数非线性规划问题,并基于遗传算法实现了胚胎电子系统细胞数目的优选。仿真实验及分析结果表明,该方法能够较好地解决系统中电子细胞数目优选问题。 相似文献
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为从数学角度分析和研究胚胎电子系统,提出了一种典型胚胎电子系统的数学描述方法。分析胚胎电子系统的结构特点和工作原理,建立电子系统的功能函数和工作状态函数。基于自修复能力和硬件消耗两个指标,建立电子系统的性能函数。利用建立的功能函数、工作状态函数和性能函数实现电子系统的数学描述,进而研究胚胎电子系统的功能判断、可靠性分析、性能评估、结构设计优化、自修复方式选择和预防性维修决策等。结果表明,胚胎电子系统的数学描述方法能够准确地对系统功能、性能和工作状态进行描述,从数学角度对胚胎电子系统开展理论研究。 相似文献
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