CCD探测器的相对探测效率标定

探测器的探测效率是表征探测器性能的一个重要参数,需对其进行标定。本次试验使用复旦大学EBIT设备,以其配有的高纯锗探测器为标准,对低能X射线望远镜的CCD探测器进行探测效率的相对标定,得到在6.7、8.3、9.1、9.7、10.4、11.9和13.3 keV七个能量点CCD探测器相对于高纯锗探测器的探测效率。其讨论使用的标定方法对今后的探测效率标定工作具有意义。     

用离子束技术研究稀磁半导体和纳米磁性材料

综述用离子束技术研究稀磁半导体和纳米磁性材料的构建、调控和改性的进展和现状。离子束注入是优选的构建和调控方法,测试结果表明在GaN和ZnO等新半导体光电材料中注入Mn、Ni和Co等过渡金属离子可得到低温和室温下的铁磁性。离子束分析技术给出这些新材料薄膜的微结构信息,透射电镜下观察到过饱和剂量Mn+注入GaN形成的纳米磁性颗粒。     

空间X射线探测用遮光膜的光学性能表征

为了满足国内外空间X射线探测的需求,研制了可透过X射线同时阻挡紫外可见红外波段杂散光的X射线遮光膜。利用紫外可见分光光度计和同步辐射光源对遮光膜的光学性能进行了表征,并对其几何结构和光学性能的关系进行了分析。实验结果表明:在紫外、可见和红外波段,聚酰亚胺表面铝膜的厚度越大,其透过率越低,聚酰亚胺表面蒸镀厚度为120nm铝膜时遮光膜的透过率已低于1.0×10-4;且聚酰亚胺表面单面镀铝的遮光膜的挡光效果优于双面镀铝的遮光膜。在X射线波段,遮光膜的透过率只取决于聚酰亚胺的总厚度和铝膜的总厚度,与分层结构无关。本课题组自行研制的遮光膜基本满足目前国内空间探测项目的需求。