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工业技术
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1.
工业CT的散射研究
王烈波
刘以农
康克军
《核电子学与探测技术》
2005,25(1):25-28
X射线散射的存在严重影响了工业CT系统的性能.物体内部密度锐变区域的散射将可能引起重建图像严重的高频伪影,从而影响缺陷的检测,理论计算了不同材料交界面处的X射线散射引起的投影数据偏差的强度及分布,并通过Monte Carlo方法作了验证.在此基础上,简单分析了散射引起的伪影的表现形式。
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