高精度双测头量块比较仪的研究

研制了一种新型高精度量块比较仪,该比较仪采用上、下双电感测头进行测量.给出了比较仪的总体结构,系统采用数字滤波算法对电感测微仪的随机误差进行处理,在±20μm测量量程内,对比较仪进行了精确标定,编制了测量控制软件.并对该量块比较仪进行了重复性和示值误差测试.实验结果表明其示值误差δ≤±(0.02+0.002L)μm.     

一种减小比较仪溯源标准不确定度的新方法

使用量块对高精度光学计、比较仪、测微仪进行检定或校准时,其溯源标准量块长度的不确定度会带来很大的影响,而现在通常使用的"配对法"又存在一些问题.经过分析研究和测试试验,提出了一种减小溯源标准(即量块长度差)不确定度的新方法.用量块干涉仪直接测量两个量块的中心长度差,其测量结果的不确定度能够减小到0.01 μm以下,从而可以满足高精度比较仪的溯源要求.     

基于热电偶温度测量结果的不确定度评定研究

长度实物标准器(如量块、线纹尺等)的高精度测量装置中对温度的控制和测量十分重要,在较小的温度变化范围内,采用热电偶结合铂电阻温度计的测量方法实现了温度的精确测量.本文详细叙述了该系统温度测量不确定度的来源及大小,最后得出温度测量的扩展不确定度小于5mK.     

JJF1304-2011《量块比较仪校准规范》的解读

一、JJF1304-2011制定的背景及目的量块比较仪是检定量块的主要计量仪器,它是采用比较方法测量量块长度的计量仪器。该仪器使用范围广泛、使用量极大。量块比较仪有多种类型,其中,各种光学计、测长仪、测长机、接触式干涉仪等仪器已经制定了各自的检定规程或校准规范。但是,随着科技进步和仪器的更新换代,出现了越来越多的新仪器     

高精度数字折光仪

本文介绍一种新型测量液体折射率的仪器.该仪器利用光的折射原理设计,采用半导体激光器做光源,光电位置传感器做接收器,计算机控制,带有测温系统,可进行温度修正,自动显示测量结果,扩展测量不确定度为0.0001,k=2.该仪器测量蔗糖溶液时,可以显示折射率、浓度、糖度、温度等.     

配对法校准比较仪示值误差的不确定度评定

比较法测量量块的仪器的示值误差是采用配对法用量校准的,本文对其校准的不确定度进行评定,并指出其中有些问题值得探讨和改进。     

从量块比较仪单、双测头的异同看其校准规范

随着进口量块比较仪的增加,特别是2011年11月04日JJF 1304-2011量块比较仪校准规范实施以来,双测头量块比较仪越来越为人们所认识.同时,也发现它与常用的单测头量块比较仪在使用以及校准等方面有些不同.本文通过介绍单、双测头量块比较仪在使用和校准上的一些异同,希望能使读者对量块比较仪校准规范的实施及相关工作有进一步的了解.     

量块比较测量的不确定度评定

量块比较测量是几何量计量中最基本的测量项目,在几何量计量领域的论文、杂志、文件、报告中都有量块比较测量不确定度的评定实例。但是,这些实例中都会有或大或小的不同,给人们产生测量不确定度就是不确定的错觉。通过对大量实例的研究和分析,发现一些容易产生误解和错误的地方。本文将就规程、规范等文件中评定实例的不同和容易产生疑惑的地方进行解析,并介绍量块比较测量不确定度评定中需要注意的方面。     

陶瓷量块的光干涉测量

陶瓷量块的许多性能有别于钢量块,在检定或核准之间必须对这些差异进行修正。本文讨论了检定陶瓷量块应注意的问题,介绍了陶瓷量块的光干涉测量方法,并给出了测量不确定度评定结果。     

利用牛顿环测量光反射位相差的研究

干涉法直接测量量块长度时的位相差是一个重要的误差来源.我国现在位相测量方法是堆积法,该方法需要很好的研合水平,而且重复性差.提出了一种利用牛顿环来测量光反射位相差的新方法.将一个特制的小透镜分别放置在被测量块和平晶上,在小透镜的下表面和量块或平晶上表面之间形成等厚干涉的同心圆环,即牛顿环.分析牛顿环的图象可以测量反射相移和位相差.使用该方法研制的测量装置对量块和平晶表面的光反射位相差进行了测量试验,其测量结果的标准不确定度小于5 nm.