sol-gel纳米晶二氧化锡薄膜的制备及表征

以SnCl4为原料,采用sol-gel技术,应用间接成胶法,在玻璃片上制备了纳米晶SnO2薄膜及粉体,以其灵敏度、响应时间和工作温度作为评价气敏性能的标准,对制备工艺参数进行了优化,并用DSC-TG、XRD、AFM等手段对样品进行了表征。结果表明,水与乙醇体积比为3:1,草酸与四氯化锡摩尔比为0.3:1,在500℃下退火的薄膜表面平整,平均粒度在20nm左右,且相应的薄膜元件对丙酮蒸气具有良好的选择性和较高的灵敏度、较短的响应时间和较低的工作温度(≈190℃)。     

Mg2+掺杂对SrTiO3薄膜光电特性的影响

利用溶胶-凝胶法在Al2O3陶瓷片上制备掺Mg的SrTiO3薄膜。在SrTiO3中掺杂不同含量的Mg离子,Mg在钛酸锶中取代钛位,形成受主掺杂。研究了掺杂对薄膜电阻率的影响,实验表明,当掺杂浓度为4%时,电阻率最小。当掺杂浓度为4%时,薄膜电阻率会随着光功率变化而变化,当光功率<100W时,电阻迅速减小,超过100W时,减小幅度变小。     

《双离子减薄仪在电镜制样中的应用》

在透射电镜显微分析中,制样工作是十分重要的。目前主要有两种制样手段:电化学减薄(又称双喷化学减薄)和离子减薄(又称双离子减薄)。前者速度高,但不易把握减薄的程度,因而样品报废率较高,且只适用于易化学腐蚀的金属类材质。后者,是以离子束流为减薄“工具”,凭借离子的“刻蚀”作用从两侧(或一侧)减薄样品。为了使薄化区更宽阔一些,并且减薄速度可调,没计了样品自转和样品表面可绕支架轴旋转,以改变离子束相对试样表面的入射角等功能。在IE—20型双离子减薄仪上,虽然规定以Ar作为离子源气体,但我们在实际工作中,用空气作源气体亦成功地减薄了各种材质的样品。