用于测试FPGA的Multi-Port下载方式

研究利用V93000测试平台对FPGA芯片实现下载,该测试平台通过自身通道存储空间来存储测试向量,以Multi-Port方式进行下载。并以Xilinx的Virtex-Ⅱ Pro系列XC2VP30芯片进行了实例验证,实验表明此种方式在实际应用中解决了测试平台向量许可有限的弊端,也可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证。     

直流电子负载基本工作模式的测量不确定度评定

直流电子负载具有负载精度高、稳定性好和方便调节,以及强大的测量和分析控制等特点,极大地提高了电源测试等工作的工作效率.介绍了直流电子负载相关术语,对所有直流电子负载都具备的基本工作模式——定电流模式、定电阻模式的测试原理及电路结构进行了分析,并对这些工作模式的测量不确定度进行了评定.     

基于单时钟域的多时钟域测试向量转换

多时钟域是SoC测试中的一个重要特点。主要研究测试向量从多时钟域转换到单时钟域而用于ATE的测试。转换的核心是对周期化的选择。介绍了三种周期的选择方式,并且分析了他们的优缺点。     

美军标MIL-STD-883K中噪声容限测试方法的适用性研究

提出了美军标MIL-STD-883K噪声容限测试方法在使用中的一些问题.基于对业界所用噪声容限测试方法的分析,比较了各种方法间的区别和优缺点,分析了美军标中噪声容限测试方法很少修订却长期存在的原因.通过对相关标准和测试方法的梳理,明确了美军标及其他噪声容限测试方法的适用范围,提出了我国相应标准制修订方向的建议.测试结果表明,最大乘积法和动态最大等边法在较大的范围内都适用,可以在我国相应标准中加以采用.     

可测性设计测试向量低功耗设计方法

随着半导体工艺尺寸的不断缩小和芯片集成度的提高,大规模、高性能处理器中的测试面临着许多严峻的挑战,其中,测试功耗已经成为大规模、高性能处理器生产测试中的关键性问题。可测性设计中的功耗较常规功能模式下的的功耗更高,过高的测试功耗高会导致芯片结构损坏、可靠性下降、成品率降低和测试成本增加等问题。可测性设计技术是降低测试成本,提高测试质量的有效手段,但是在对电路进行可测性设计的过程中有可能会造成功耗问题更加严重。本研究对可测性设计的低功耗测试向量的X‐Fill、时钟门控、功率分割等低功耗技术进行了介绍和分析,通过开源处理器LEON3作为实例,进行了实用的低功耗测试技术的分析和实验,提出可测性设计低功耗测试向量的设计方法。     

测试向量转换预处理技术研究

针对测试向量转换失效的原因进行分析,研究了在转换前通过噪声消除与虚拟信号合成方式提高测试向量转换成功率的预处理技术.基于常见的VCD格式的测试向量文件,重点分析了测试向量转换预处理的关键技术,给出了用沿对齐消除抖动、毛刺消除和信号合成的实现方法.在此基础上,使用编程语言实现了测试向量转换预处理的工具,并且进行了实验验证.实验结果表明,本文提出的预处理方法能够有效地解决因噪声和信号相关性造成的测试向量转换失效的问题.     

下一代光传输系统中超高速ADC芯片性能测试方法

针对下一代光传输系统对模数转换器（ADC）高采样率、大带宽的要求,提出一种针对该类ADC动态性能的测试方法.通过分析光传输系统中ADC芯片的特点,解决了采样时钟无法直接测量,输出数据难以捕获,分辨率不易统计,插损非线性导致带宽测量偏差等问题,并将该方法应用于光传输、雷达、卫星等高数据率场景所用超高速ADC芯片的评测中.测试结果表明,该方法解决了最高采样率70GSPS带宽16GHz的超高速ADC测试的关键问题,基本满足下一代400Gbps光传输系统对ADC动态性能测试的要求.     

计算机查找方法在集成电路ESD故障定位中的应用

为了缩短复杂集成电路在ESD测试中出现的故障问题的定位次数及定位时间,提出了五种测试定位方法。对这些方法以顺序查找法、二分查找法及分块查找法为基础进行了定位次数及定位时间的通用公式推导,进而进行了定位次数及定位时间的分析对比。针对分块查找法,延伸出了三种不同的查找方法;同时针对这五种查找方法提出了测试定位效率的概念。发现对于超过8个管脚的复杂集成电路,二分法是减少测试定位次数的最佳选择,分块法2是减少测试定位时间及提升测试定位效率的最佳选择;对于少于8个管脚的集成电路,顺序法和二分法是较好的选择方法。