用超高速光电采样技术研究半导体微波器件时域特性和频域特性

本文采用超高速光电采样技术研究了半导体微波器件和单片微波集成电路（ＭＩＭＩＣ）的时域特性和频域特性．阐述了该方法的原理及优越性，对时域波形进行了分析和修正．并利用ＦＦＴ技术将时域波形转换为频域图形，得到半导体微波器件的Ｓ参数．我们建立的系统测量可达１００ＧＨｚ以上     

用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数

描述了用超短光脉冲测量微波器件Ｓ参数的基本原理和建立的测量系统。用该系统测量了频率高达３６ＧＨｚ器件的Ｓ参数，并同网络分析仪的测量结果进行了比较，一致性很好。该系统测量频率可达１００ＧＨｚ。