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Sn膜硫化合成SnS薄膜及其性能研究 总被引:1,自引:0,他引:1
用热蒸发法技术在ITO透明导电玻璃上沉积一层Sn膜,将其装入石墨盒里后,放在真空炉里面硫化处理,硫化温度在150-350℃之间。通过对在不同温度下硫化的薄膜进行结构、成分和表面形貌分析,表明退火温度在230-250℃之间时所制得的薄膜为正交结构的SnS多晶薄膜,其均匀性和对基片的附着力都较好,具有(111)方向优先生长,薄膜粒径在200-800nm。通过测量薄膜样品的反射和透射光谱,计算得到其直接禁带宽度Eg=1.38eV,在基本吸收边附近的吸收系数大于10^4/cm,用霍尔测量系统测得其导电类型为P型,适合应用于太阳能电池的吸收层材料。 相似文献
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