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胡争  杜磊  庄娈琪 《电子质量》2003,(10):J017-J018,J016
本文综述了厚膜电阻器中噪声的种类,产生部位及机理的研究,重点介绍了厚膜电阻器的导电机制及1/f噪声的模型,并详细讨论了测量厚膜电阻器中1/f噪声的测量系统,在以上讨论的基础上,对厚度电阻器的低噪声化进行了简单的分析,展望了噪声作为可靠性表征参量的前景。  相似文献   
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