电压对电刷镀三价铬镀层性能的影响

在45钢表面电刷镀得到三价铬镀层,镀液组成和工艺条件为:Cr2(SO4)36H2O 0.4 mol/L,甲酸铵0.5 mol/L,氨基乙酸0.5 mol/L,H3BO30.6 mol/L,NaH2PO2 H2O 0.3 mol/L,pH=1.5,温度50°C,镀笔移动速率15 cm/s。研究了电压对镀铬层显微结构、表面粗糙度、厚度、显微硬度和耐磨性的影响。随电压增大,镀层厚度增大,显微硬度和耐磨性均先提高后降低。电压为14 V时,镀层的表面平整,粗糙度为2.387μm,显微硬度为602 HV,耐磨性最好。     

计算机管理控制系统的双向通讯

本文着重介绍了一个二级计算机管理控制系统中上级机(IBM-PC)与下级机(8031单片机)之间的多机主从式通讯的一种实现方法,并从硬件结构和软件设计上作了深入探讨.     

河套盆地晚更新世以来黄河改道对高砷地下水分布的控制机制

针对河套盆地开展了历时多年的水文地质环境地质调查,利用采集的298组浅层地下水样品以及收集并甄选的382个水文地质钻孔记录分析发现:河套盆地内95%的高砷地下水(As质量浓度10μg/L)集中在黄河决口、改道形成的古河道影响带及黄河决口扇裙带。其中,盆地南部首次发现了较为集中的高砷地下水,其分布范围与黄河北岸的晚更新世以来黄河决口、改道形成的4个大型决口扇,在空间上有着良好的对应关系。黄河古河道带及决口扇裙带表现为较强的还原环境及蒸发浓缩作用以及较弱的地表水补给强度。受pH值、含铁氧化物的还原性溶解等因素影响,决口扇裙带浅层地下水中砷的含量略低于平原中部黄河古河道带。结果表明:黄河古河道带及决口扇裙带特定的沉积环境控制着地下水的水文地球化学过程,进而对高砷地下水的分布具有决定性的作用。     

更具吸引力的SYNTRAN(R)遮光剂

介绍了遮光剂的起效原因、SYNTRAN(R)遮光剂产品系列、SYNTRAN(R)遮光剂的特性和有益性,用SYNTRAN(R)遮光剂调配产品.Interpolymer公司专门设计的SYNTRAN(R)遮光剂系列以更低的总配方成本来改进个人护理产品和家用洗涤剂的性能并增进操作的便捷性.     

更具吸引力的SYNTRAN~遮光剂

介绍了遮光剂的起效原因、SYNTRAN遮光剂产品系列、SYNTRAN遮光剂的特性和有益性,用SYNTRAN遮光剂调配产品。Interpolymer公司专门设计的SYNTRAN遮光剂系列以更低的总配方成本来改进个人护理产品和家用洗涤剂的性能并增进操作的便捷性。     

脉冲换向电刷镀镍基纳米SiO2复合镀层的耐腐蚀性能研究

采用脉冲换向电刷镀方法制备了Ni/n-SiO2复合镀层,应用SEM对镀层表面形貌进行了分析,测试了镀层的孔隙率,以及镀层在海水浸泡条件下的耐腐蚀性能,讨论了镀层的耐腐蚀机理.实验结果表明:与直流工艺条件下的电刷镀镀层相比,脉冲换向电刷镀工艺得到的Ni/n-SiO2复合镀层具有致密精细的表面、较小的孔隙率和较高的耐腐蚀性能.     

电刷镀纳米晶镀层的组织及其强化机理

采用直流、脉冲和脉冲换向电流制备了Ni和n—SiO2／Ni电刷镀镀层，利用SEM、AFM、TEM和XRD等技术对镀层的表面形貌、显微组织和晶粒尺寸等进行了分析测量。结果表明，电刷镀层表面呈胞状组织，镀层的晶粒尺寸均在纳米量级，说明电刷镀技术是一个古老而未被认识的纳米技术；复合电刷镀过程中纳米颗粒的作用及脉冲换向电流，能进一步提高镀层的形核率及抑制晶粒的生长，从而减小纳米晶的尺寸。镀层的硬度与纳米晶的尺寸有很好的对应关系。     

脉冲关断时间对电刷镀Ni/CNTs复合镀层组织及性能的影响*

采用脉冲电刷镀的方法,制备了镍/碳纳米管（Ni/CNTs）复合镀层.运用扫描电子显微镜（SEM）、X射线能谱分析仪（EDS）、透射电子显微镜（TEM）、球盘式磨损试验机、显微硬度计等分析与测试方法,研究了脉冲关断时间对Ni/CNT复合镀层的表面形貌、孔隙率、CNTs含量、显微硬度和耐磨性等的影响.结果表明：在直流电源下,由于导电性和准一维性碳纳米管的共沉积,复合镀层表面粗糙,孔隙率高.采用脉冲电源后,当脉冲关断时间增加至1 900μs时,复合镀层的表面平整度增加、孔隙率减小为1%、硬度增加为605 HV、磨损重量减小1/3.     

邢台山前倾斜平原区孔隙水脆弱性评价

利用DRASTIC模型和MAPGIS叠加技术,并采用层次分析法,构建地下水脆弱性评价系统,将该评价系统应用于邢台市山前倾斜平原区孔隙水脆弱性评价。结果表明,评价结果与实际情况比较吻合。     

离子束辅助沉积立方氮化硼的试验研究

运用离子束辅助沉积(IBAD)法在硅片上制备了立方氮化硼(c—BN)薄膜，研究了辅助能量、辅助束流及辅助束中氮气含量等参数对膜中c—BN含量的影响。用红外光谱(FTIR)及X射线光电子能谱(XPS)分析技术对得到的c—BN膜进行了分析。结果表明：合适的离子辅助能量能够获得c—BN含量高的薄膜；膜中c—BN的含量随辅助气体中N2含量的提高而增加；辅助束流对薄膜的形成影响不明显。