转基因大豆低密度基因芯片的检测方法研究

目的建立Roundup Ready转基因大豆（简称RRS）的基因芯片检测方法,探讨其在转基因大豆检测中的应用。方法根据大豆中所转入的外源基因,选择camv35s启动子、nos终止子和cp4epsps基因,以大豆内源基因lectin基因为内参照基因设计了引物和探针,并制备了核苷酸芯片;通过多重PCR对样品核酸进行扩增和荧光标记后,将PCR产物与芯片杂交,检测大豆样品中所含的外源基因,并评价方法的灵敏度。结果检测转基因含量不同的RRS标准参考物,结果显示：camv35s启动子、nos终止子、外源基因cp4epsps检测灵敏度均可达0．45％。结论本研究所建立的基因芯片检测方法有良好的灵敏度及可重复性,有助于实现转基因大豆的高通量、高灵敏的检测。