G550高强冷弯薄壁卷边槽钢受弯构件承载力直接强度法研究

直接强度法在冷弯薄壁型钢构件的设计中得到越来越多的应用,然而用于校准原有受弯构件直接强度法设计公式的试验数据均来自于屈服强度较低的纯弯构件,对于屈服强度较高的受弯构件尚无试验数据可供参考,限制了直接强度法设计公式的使用范围。采用有限元程序ANSYS对已有G550高强冷弯薄壁卷边槽钢受弯构件试验进行了模拟,验证了有限元分析的可行性。在此基础上,对卷边形式为直卷边、斜卷边和复杂卷边的G550高强冷弯薄壁槽钢构件分别进行纯弯和非纯弯作用下的有限元参数分析,以原有直接强度法设计公式为基准,修正出适用于不同卷边形式的G550高强冷弯薄壁槽钢受弯构件在纯弯和非纯弯作用下的直接强度法设计公式,为今后的规范修订和工程应用提供必要的参考。     

集团客户网络质量监测系统

在网络部署日益复杂和使用范围日益扩展的情况下,为保证网络运行的可靠性和稳定性,提高网络监测效率,本文提出了一种集团客户网络质量监测系统技术方案,即一种不依靠硬件而直接以软件实现、可靠性好、使用方便、能够由客户自己进行监测的网络质量监测系统。     

光斑尺寸对光热失调技术测量光学薄膜吸收的影响

样品表面加热光斑和探测光斑的大小对光热技术有着重要影响,光热失调技术是一种新的可用于研究光学薄膜的微弱吸收的方法,文章理论分析了加热光斑和探测光斑尺寸对光热失调技术的影响.研究表明,加热光斑大小不变时,加热光调制频率增大,样品表面温升降低,温度分布区域减小;调制频率不变时,加热光斑越小,表面温升越大,分布区域越小.调制频率不变时,探测光斑越小,信号幅值越大,分布区域越小,信号幅值与加热光功率的线性关系的斜率越大,探测光斑的大小对信号幅频关系影响较小.研究结果对光热失调技术测量光学薄膜吸收具有重要意义.     

一种基于近红外光谱快速鉴别染色橙的新方法

本文应用近红外光谱仪(NIRS)测定染色橙样品的光谱数据,采用多种方式对光谱数据进行预处理,用主成分分析法(PCA)对不同染色橙样品进行聚类分析并获得染色橙的近红外光谱数据的主成分,在此基础上建立了偏最小二乘(PLS)回归模型,并根据均方根校准误差(RMSEC)和相关系数(R2)对模型性能进行评价。结果表明,主成分分析可以快速鉴别染色橙样品,模型识别率达到94%。将主成分分析(PCA)与偏最小二乘(PLS)相结合建立的回归模型,均方根校准误差(RMSEC)为0.26,决定系数R2为0.96,模型效果较好。表明利用近红外光谱鉴别染色橙是可行的,这为染色橙的鉴别提供了一种快速无损的新方法。     

6,6'-二甲基-2,2'-联吡啶固相萃取光度法测定水中铜的研究

根据试剂6,6' 二甲基 2,2' 联吡啶与铜(Ⅰ)的显色反应及WatersPorapakR○　Sep Park固相萃取小柱对显色配合物的固相萃取,建立了一种测定水样中μg/L级铜的新方法,在pH=4.5HAc NaAc缓冲介质中,6,6' 二甲基 2,2' 联吡啶与铜(Ⅰ)反应生成2∶1稳定配合物,该配合物可用WatersPorapakR○　Sep Park固相萃取小柱富集,小柱上富集的配合物用乙醇(内含1%醋酸)洗脱后用光度法测定,可测定水样中μg/L级的铜。该方法用于几种水样中铜含量的测定,结果令人满意。     

一个网络结构化布线系统的设计方案

介绍结构化布线的特点及其遵循的原则和标准，并结合深圳南方大厦计算机网络结构化布线系统设计方案实例加以细致的分析说明。     

一种新型的动态路由和波长分配综合算法

讨论了WDM光网中，在动态业务流量和有限范围波长变换情况下的动态路由和波长分配问题。基于Moone-Dijkstra算法，考虑到动态波长变换的可能和限制，提出了一种新型的、可实现动态最小代价路由和最佳虚波长通道的综合启发式算法(DMC-OVWP)。该算法对路由子问题和波长分配子问题既相互独立，又相互结合，优化了RWA。以中国教育和科研计算机网(CERNET)为拓扑背景，基于本算法进行了计算机仿真，并对实验结果进行了比较分析，证明本算法可充分利用网络信息获取较低的阻塞率。     

基于.NET平台可移植的数据访问组件的设计

介绍了ADO．NET技术和Web应用程序中数据的访问,结合设计模式中的工厂方法(Factory Method)的思想,提出了一种可移植数据访问组件设计的实现方法,并给出了具体应用。     

基于元胞自动机的人员疏散仿真研究

在人员聚集的大型场所,如果紧急事件发生则极有可能造成人员的大量伤亡,因此对人员疏散行为进行深入研究,具有极大的现实意义.通过分析已有的理论基础,利用元胞自动机原理建立了人员疏散数学模型.模型采用二维元胞自动机技术,确定了元胞空间和元胞状态,建立了人员疏散行为规则并着重探讨了从众行为和建筑结构不同对疏散时间的影响.试验结果表明,该疏散仿真模型更具真实性和合理性.     

实现光学薄膜吸收损耗绝对测量的新方法

光学薄膜吸收损耗的绝对测量对光学薄膜的优化设计与应用至关重要,以光热失调技术实现光学薄膜吸收损耗的绝对测量为研究目的,采取连续激光加热的方式,理论与实验相结合,提出了一种利用反射率或透射率、温度变化和加热光功率之间的3个线性关系,实现吸收损耗绝对测量的方法。针对设计的高反射光学薄膜实验样品,获得样品对加热光功率的吸收率绝对值为1.64×10-2,并分析了影响测量精度的主要因素。研究表明,提出的方法可以实现光学薄膜吸收损耗的绝对测量,特别适合于具有较大反射率或透射率温度系数的样品,测量准确性依赖于样品表面温度理论模型的建立和实验测量的精度,研究结果为光热失调技术的进一步应用提供了理论和实验支持。