数字电路阈值故障测试生成算法

提出一种有效的数字电路故障阈值故障测试生成算法。首先构造出数字电路的阈值测试模型,通过这个模型可以区分出可接受故障和不可接受故障,然后使用成熟的固定故障测试生成算法得到不可接受故障的测试生成矢量。在ISCAS’85和ISCAS’89电路上的实验结果表明:该算法的故障覆盖率能达到96%,故障测试生成时间少于0. 019 s。