排序方式: 共有3条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
2.
采用脉冲准分子激光沉积(PLD)技术,分别在Si(111)单晶及玻璃基片上外延沉积了具有高a轴(200)取向的CuO掺杂的SnO2薄膜。X射线衍射(XRD)及透射电镜(TEM扫描附件)分析表明:在Si(111)片上沉积,400~500℃退火温度处理的薄膜,只有(200)峰存在;当退火温度升高到600~700℃时,SnO2的其余诸峰相应出现,薄膜呈多晶态,取向度降低,晶粒尺寸变大,晶粒分界明显.在玻璃基片上沉积的薄膜,经400℃低温处理后,(200)取向度很小;随着退火温度的升高,达到500℃时薄膜呈高a轴(200)取向生长,结晶度较好,晶粒分布均匀. 相似文献
3.
1