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1.
光伏系统最大功率点跟踪技术研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
针对目前光伏最大功率点跟踪(MPPT)技术研究和应用现状,根据控制算法的不同分类,选取固定电压法、扰动观察法、增量电导法作为研究对象.分析各种控制算法的实现原理,并且在反激式变换器上进行试验验证,对试验结果进行比较分析,得出三种MPPT控制方法在启动时间、动态响应、稳态控制精度等方面的性能,本文最后提出一种在实际应用中...  相似文献   
2.
依托科研资源优势的大学专业课作业设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
大学专业课作业设计意在将科研成果应用于课堂教学实践中.通过提出专业课作业设计具有五要素的观点,在大学生作业心理调查的基础上,结合某专业课的教学,举例说明了科研项目、成果等资源应用于作业设计的方式和步骤.根据文中给出具体的作业设计题目以及作业的反馈信息,分析表明所提出的方法对于提高作业效果具有较好的促进作用.由于所选取的专业课程具有的代表性,其研究结果具有一定的实用价值.  相似文献   
3.
谈恩民  贾亚平 《微电子学》2016,46(6):849-853
针对片上系统(SoC)中模数转换器(ADC)的测试,提出了一种测试IP核结构。IP核主要由模拟信号源、换位器和标准数模转换器(DAC)等组成,能够根据设计者不同的需求选择不同的测试方案。针对ADC的低位呆滞故障以及跳变故障的检测,提出了一种新的检测方法,解决了ADC低位故障检测困难的问题,该方法还可以用于对电压稳定度以及噪声的测量。通过对IP核数字电路部分的设计与仿真,证明IP核是可行的。  相似文献   
4.
板级SRAM的内建自测试(BIST)设计   总被引:2,自引:0,他引:2  
板级SRAM的内建自测试的设计,是为了确保板级SRAM的可靠性。考虑到板级SRAM各种故障模型,选择使用March C-SOF算法,其对呆滞故障、跳变故障、开路故障、地址译码器故障和字节间组合故障有100%的故障覆盖率,优化面向“字节”的March C-SOF算法和扩展延时元素后,算法可对SRAM进行字节内组合故障和数据维持力故障测试。同时在只增加少量成本的情况下,使用FPGA构成存储器的BIST控制器,可以满足SRAM的可测性的要求。  相似文献   
5.
为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性,提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案。结合存储器测试理论及边界扫描逻辑簇测试技术,研究基于TCL脚本语言的存储器测试脚本设计方法,用以在进行存储器簇测试时描述存储器自身的读写特性及与其外部边界扫描测试单元的连接关系等,并给出HY6264SRAM静态存储器功能测试的例子。通过测试验证,使用TCL脚本语言与高级语言联合编程能够提高边界扫描测试软件的工作效率。  相似文献   
6.
为了探究双瘫脑性瘫痪儿童下肢肌肉相关性,并分析痉挛特性对双瘫患者下肢肌肉相关性的影响,文章采用表面肌电信号作为信息来源。对 12 例脑瘫患儿进行下肢腓肠肌和胫骨前肌肌电信号采集以及肌张力测试。信号经过 Acqknowledge 软件进行滤波处理,所得数据采用 SPSS 19.0 软件进行统计学分析。实验结果表明,痉挛特性减弱了双瘫患儿下肢肌肉相关性。该研究为脑瘫患儿的基础研究及康复训练提供了参考依据。  相似文献   
7.
在边界扫描测试技术中,由BS器件和非BS器件主成的逻辑簇测试是研究的难点问题,文章介绍了高效、简明、移植性好的TCL语言.在深入研究边界扫描簇测试原理的基础上,以实现逻辑簇测试为目的,采用了TCL嵌入C++的方法实现测试用例的脚本化,完成了基于TCL语言的Cluster测试脚本设计;通过对数字电路实验板的测试结果分析,得到了使用TCL脚本语言与C++联合编程能够实现簇测试,并且可以提高边界扫描测试软件工作效率的结论,具有较好的应用前景。  相似文献   
8.
在BIST(内建自测试)过程中,线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器,为保障故障覆盖率,会产生很长的测试矢量,从而消耗了大量功耗。在分析BIST结构和功耗模型的基础上,针对test-per-scan和test-per-clock两大BIST类型,介绍了几种基于LFSR(线性反馈移位寄存器)优化的低功耗BIST测试方法,设计和改进可测性设计电路,研究合理的测试策略和测试矢量生成技术,实现测试低功耗要求。  相似文献   
9.
在片上系统芯片(System-on-Chip ,SoC)测试优化技术的研究中,测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素。在基于测试访问机制(Test Access Mechanism ,TAM )分组策略的基础上,以测试时间和测试功耗为目标建立了联合优化模型,运用多目标遗传算法对模型进行求解。以ITC’02标准电路中的p93791电路为实例进行验证,表明此方法能够在测试时间和测试功耗的优化上获得较理想的解,且能提高TAM通道的利用率。  相似文献   
10.
随着大规模混合信号集成电路设计水平及复杂性的不断提高,对其进行测试的难度与成本变得越来越高,而测试功耗过高已经成为影响测试成本的一个重要因素。ADC作为混合信号电路的典型代表,已经应用在了各种集成模块上。文章中为降低ADC测试功耗,对ADC的测试结构进行了部分改进,并运用遗传算法搜索了低功耗测试激励。理论研究及仿真实验表明,优化后的结构和低功耗测试激励较优化前能同时降低测试时的峰值功耗和平均功耗。  相似文献   
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