第十二届电接触现象会议简况

国际电接触会议于1961年在美国Orono,Maine召开第一届会议。1984年9月15日至9月21日在美国芝加哥召开第十二届会议。这次会议是与美国的第30届Holm会议一起召开的。会议的主办单位是伊利诺斯工程学院,Armington教授负责(他曾担任国际委员会主席),副主席单位有:美国电气和电子工程师协会,美国试验和材料学会,电子连接器研究会,继电器制造国家协会,电化学协会,美国电镀学会,美国冶金工程研究所,电子工业学会等八个团体。     

低压电器通断能力试验用阻抗装置鉴定

经一机部电工总局同意,由一机部第七设计院会同一机部上海电器科学研究所共同主持于一九七九年十一月八日～十一日在苏州市召开了“低压电器通断能力试验用阻抗装置”鉴定会,参加会议的有25个单位53名     

国际电接触会议简介

一九八四年九月十五日至廿一日在美国芝加哥召开十二届国际电接触会议。这次会议与美国的第卅届Holm会议一起召开。会议主办单位是Illinois工程学院。会议共进行四天半,共有七十六篇论文分十七单元进行宣读,论文作者来自美国、德国、法国、     

交流接触器多纵缝灭弧室的研究

为了摸清电弧在多纵缝灭弧室中的运动及熄灭情况,在CJ12F—250单断点交流接触器上进行了一系列的试验研究。文中介绍了电弧被绝缘栅片撕裂次数的测量结果、电弧撕裂原因的分析、电弧撕裂对熄弧的影响等情况。