处理器片上缓存内及时局部性环境分析

为提高处理器内核访存效率、命中率和缩短访存延迟,将具有时间和空间关联关系的数据汇集在处理器片上缓存内,数据便具有了有利于处理器内核访存的及时局部性.本文分析了营造及时局部性环境的合理性和及时局部环境因数据迁移而产生的变化规律,为进一步改造片上缓存结构和片上数据迁移提供新的启示.     

可测试性设计中的功耗优化技术

降低测试期间的功耗是当前学术界和工业界新出现的一个研究领域。在可测试性设计中进行功耗优化的主要原因是数字系统在测试方式的功耗比在系统正常工作方式高很多。测试期间功耗引发成本增加，可靠性降低，成品率下降。首先介绍低功耗测试技术中的基本概念和功耗建模方法，分析测试过程中功耗升高的原因，对已有的几种主要的降低测试功耗方法进行详细分析，最后给出一种高性能微处理器的真速低功耗测试方法。     

一种支持数据渗透迁移的片上缓存模型研究

分析一种支持数据在处理器片上如流水般浸润迁移的渗透缓存层次模型,以及片上数据渗透迁移的基本算法.为了仿真验证渗透缓存模型的有效性、分析该模型及其上的数据迁移算法的性质,本文给出了描述渗透迁移模型基本结构的构成关系、渗透迁移数据的形式化方法.仿真实验结果表明:该模型在改进处理器访存的命中率方面具有明显优势.