微光学元件芯模的光刻工艺研究

光刻法作为微光学元件的主要生产工艺,如何提高光刻加工工艺已经成为一个日益紧迫的问题,本文使用北京化学试剂研究所生产的BP-215系列紫外正型光刻胶,以分辨率板直接作为参考对象来判别光刻工艺的分辨率,并且在优化各控制变量的前提下,得出最佳工艺参数并对噪声进行分析。     

一步成像虹全息图金属模复制技术

利用一步成像法拍摄浮雕型彩虹全息图母版 ,重点讨论了将其转印到金属镍模上的复制工艺 ,它既可作为模压全息图的全息母版 ,又具有独特的推广应用前景     

基于运算放大器和傅里叶谱分析的电导与微分电导同步测量

提出一种基于运算放大器和傅里叶谱分析仪的电导与微分电导同步测量方法. 针对非线性样品二极管在交直流偏压作用下的输出响应电压特征进行了理论研究,在输出响应电压信号谐波高频成分远小于低频成分的假设条件下,推导了二极管电导及微分电导同步测量方程,得到完整的物理关系解析表达式. 对二极管进行的仿真实验和电路测量实验结果验证了该方法的有效性;并发现二极管在相同的直流偏压下,其微分电导信号的精度比电导信号的精度高一个量级.     

显微干涉图象的计算机检测与处理方法

介绍一种基于静态干涉术的微表面显微干涉计算机自动检测系统，给出用数字图象处理技术对干涉条纹进行处理的原理步骤，并推导了用最小二乘法拟合提取显微干涉条纹特征信息的算法以及由此获取微表面几何参数和粗糙等参数的方法。     

一种新的环形全息光栅制作方法

提出了1种新的环形全息光栅制作方法。详细描述了基本原理和具体光路。分析了干涉场并给出了光强分布公式。给出了实验结果，讨论了产生误差的原因。     

基于DWDM全光接入网的研究

DWDM技术是近年来光纤通信网络中的一个研究热点，如何在接入网中应用DWDM技术，从而大大增强接入网的带宽，是目前业内人士普遍关注的问题。本文介绍了基于DWDM技术全光接入网的结构，其Feeder网及C／D网常见的拓扑，以及基于DWDM全光接入网中常用的波长分配算法。     

一种材料霍尔系数测试系统的设计

硅酸铋（BSO）晶体具有泡克尔斯效应和法拉第磁光效应，通过BOS晶体的偏振光将受电场和磁场的调制，利用这一特性，设计了一种基于BSO晶体传感器的材料霍尔系数测试系统。     

利用迈克尔逊干涉仪测量激光波长的误差分析

文章主要对大学物理实验迈克尔逊干涉仪测量激光波长的误差进行了分析,认为影响系统测量精度的主要误差来源包括干涉条纹的过细导致在读数过程中加入多条条纹的宽度而产生的误差,读数的误差和移动条纹过程引入误差,以及两个反射镜不严格垂直引入误差;并给出了详细的物理解释。