均匀电场中聚丙烯电老化机理的研究

以往在常压下进行电老化试验,由于电晕和热氧等侵蚀试样表面,使介质因表面损坏而劣化。本文在高真空下使聚丙烯(PP)薄膜处于均匀电场中,进行电老化试验。采用了红外分析、热重分析和光电导技术分析了老化前后介质化学结构的微观变化。试验结果表明,PP的击穿强度随老化时间的增加而降低,其原因在于老化使PP发生降解,产生大量自由基和裂解成小分子,生成低密度区。且聚丙烯材料内电荷的深陷阱密度增加。     

硅橡胶中空间电荷的形成机理

文中采用电声脉冲法，在不同的直流电场作用下，测量了硅橡胶中空间电荷的分布，并分析了其与加压时间的关系。同时测量了短路电极时空间电荷分布的变化，讨论了电极短路试样中残留电荷的分布及其影响。研究发现，在场强相对较低(5kV／mm)与较高(60kV／mm，70kV／mm)时，电极附近介质中的电荷分布均为异极性电荷，但其形成机理完全不同；而在中场强(10kV／mm，30kV／mm)下可出现同极性电荷。文章还讨论了Al和Cu电极在不同电场强度下的电子或空穴注入现象以及其在空间电荷形成中的作用。     

小型纳秒级电压脉冲发生器的研制

研制了一台体积小 ,重量轻的新型 ns级电压脉冲发生器 ,可用于电声脉冲法测量空间电荷的试验装置中。该发生器采用以开关电路为基础的电源代替原来的工频整流电源 ,以湿簧管代替火花间隙 ,使得电源的重量下降到原来的 1/5 ,体积也大缩小。经试验可输出脉冲宽度为 2 0 ns,幅值最高为 2 0 0 0 V的可调纳秒级脉冲电压     

有机硅等离子体聚合薄膜制备及其强场特性研究

本文运用射频辉光放电的低温等离子体在基底上沉积出均匀、透明的聚六甲基二硅气烷（HMDSO）聚合膜，用红外光谱揭示了材料的化学结构。通过击穿和伏安特性研究了等离子体聚合膜的强场特性，发现其导电机理为场助热离子跃迁。此外还分析了退火工艺对薄膜结构和击穿性能的影响。     

聚合物中水树的研究现状

介绍了对水树概念的最新认识 ,总结了对水树的分类、水树发生和进展中的许多问题进行了讨论。从实际应用角度出发 ,文章最后简要的介绍了由水树引起的绝缘老化的诊断方法。     

第四届国际电介质材料性能与应用会议综述

1会议概况国际电介质材料性能与应用会议，每隔三年举行一次。第一次会议是由IEEE电介质及电气绝缘学会，中国电工学会和我校联合主办的，于1985年在西安举行，我校刘永玉教授担任会议总主席。第二次和第三次会议分别于1988年和1991年在北京和日本东京举行，我校刘子玉教授和绝缘专业的有关同志任会议联合主席或国际顾问委员会成员。第四次会议由IEEE电介质及电气绝缘学会和澳大利亚昆士兰大学联合主办，干1994年7月3日至7月8日在昆士兰大学举行，24个国家近300名专家、学者（其中日本7O名、澳大利亚6O余名）参加了会议。此次会议开幕式…     

用全息摄影术测量XLPE高压电缆绝缘中杂质颗粒的研究

应用Fraunhofer全息技术发展了一种测量交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘中杂质颗粒的方法。通过对被硅油加热透明的电缆绝缘内杂质颗粒的全息记录、全息图再现,可测得4.0cm长,任意大直径的一段交联电缆绝缘内的杂质颗粒。新方法比起传统的显微镜下切片测量法大大地增加了测量体积,使抽样检查的样本数增加,提高了测得结果的统计学可信度。该方法获得全场内50μm的分辨力和优于8％的精度。本文对新方法的原理进行了描述,实验结果进行了介绍,并进行了验证性对比实验。     

国产交联聚乙烯电缆绝缘介电性能的试验研究

<正> 国产35千伏交联聚乙烯电缆已批量生产。为了提高产品的缘绝质量,1981年我们研究了国产35千伏蒸气交联聚乙烯电缆的介电性能及其影响因素,并与西德产品作了比较,分析了提高国产交联聚乙烯电缆绝缘性能的可靠途径蒸气交联聚乙烯中微孔较多,尺寸较大,吸湿性是这种工艺的一大缺点。吸湿使其在运行中发生树枝化,导致电缆击穿。虽然树枝化也可以在没有水份的条件下生成,但大量的树枝化与水份的存在有很大关系。所以     

TSC/TSL联合谱在绝缘聚合物电老化研究中的应用

该文测量了纯聚乙烯和含自由基清除剂的聚乙烯试样老化过程中的TSC/TSL联合谱。通过测得的谱图查明了聚乙烯在电老化过程中陷阱和发光中心的密度变化，并分析了老化过程中聚乙烯分子链的运动形式的变化。根据视在陷阱总量和发光中心总量的计算，表明在电老化过程中陷阱的密度变化比复合光中心的更明显。这种自由基清除剂主要是通过抑制老化过程中陷阱的产生，尤其是深陷的产生，实现抑制电老化的功效。这对今后研究提高聚乙烯耐电老化的途径有明显的指导意义。     

激光扫描式高压交联聚乙烯电缆料杂质颗粒测量装置的研制

本文介绍了用于高压交联聚乙烯电缆绝缘料杂质颗粒测量的激光扫描系统的研制情况，详细地论述了激光扫描杂质颗粒的信号产生、处理、伪颗粒识别等技术及在国内首次得到的电缆料大体积抽样现场测试结果。系统分辨率６０μｍ，１２０μｍ及以上颗粒检出率１００％。