技术创新绩效评价的优化——DEA方法的具体应用

为了进一步有效地对技术创新绩效进行评价,运用数据包络(DEA)理论与方法,构造出决策单元评价模型,弥补了企业内部各部门技术创新绩效评价的局限性,为各部门绩效的评价提供了可靠的科学依据,以便及时调整各部门的投入与产出,从而大大降低了技术市场化的风险。     

专用大型车轮动平衡机研制

车轮动平衡机是检测轮胎质量分布的绍了车轮动平衡机的结构原理、支承系统的特点,重点分析影响平衡精度的关键因素-弹性元件,同时阐述了电测系统,并对系统软件进行设计.     

110kV GIS变电所进线电缆末端雷电过电压研究

气体绝缘开关装置(GIS)已广泛应用于城市供电网中。阐述了导线参数、GIS参数、雷电侵入波模型及参数、避雷器参数以及电气设备参数等的设置,运用ATP-EMTP搭建雷电侵入波作用下的架空线与电缆进线相连、包括架空线与电缆连接处安装的避雷器和部分电气设备(GIS、变压器)在内的单相简化模型,仿真计算断路器不同状态下,不同电缆长度的电缆末、首端雷电过电压。总结了电缆末、首端雷电过电压比值与电缆长度之间的关系,通过具体仿真表明,当电缆长度大于70 m时,仅电缆首端装设避雷器已经无法满足保护要求,需要考虑在GIS内部配置避雷器。     

用于芯片电容精确测量的在片开路方法研究

为实现芯片电容参数测量过程中的有效开路,提高在片电容测量的准确性及一致性,针对在片电容开路方法开展了研究工作。通过对标准电容器及开路器原理结构进行分析,结合半导体芯片工艺测试实际需求,设计并制作了在片开路器。在完成在片电容测试系统搭建基础上,分别利用传统悬空开路法和在片开路法对1pF量值的在片电容进行了测量。实验数据显示,同悬空开路法相比,在片开路法电容测量结果的准确性及一致性有显著提升,测量重复性可达0.01%,为芯片电容计量测试工作提供了有效开路手段。     

地空导弹目标截获概率分析

在地空导弹射程增加和作战环境变化的影响下,以往单一主动的传导方式越来越难保证地空导弹的制导精确度.美国的"爱国者"PAC-3和俄罗斯的S-300、S-400地空导弹系统已经采用了末端雷达"发射后截获"进行复合制导.     

用于在片测试系统整体校准的电阻标准件

为解决在片测试系统中1～1000Ω电阻无法进行整体校准问题,通过采用GaAs材料作为衬底,利用半导体工艺中薄膜溅射法,使用轰击离子Ar~+与靶材作用形成反应层,激发出的溅射原子NiCr打至GaAs表面,制作薄膜电阻。采用方块电阻为50Ω/块,通过调节长与宽的比值,研制出1～1 000Ω电阻标准件。为消除电阻测量过程中芯片内部回路引线的影响,研制出相对应的短路器。通过组建具有温度控制系统的定标装置,在-40～100℃温度下对标准件进行定标,定标结果表明电阻标准件的阻值与温度具有良好的线性关系,短期重复性RSD优于0.05%,年稳定性RSD优于0.1%,可以有效解决现有在片测试系统低值电阻参数的整体校准问题。     

湘西苗族服饰文化内蕴的“穿”承研究

目的研究湘西苗族服饰文化内蕴及在现代服饰中的"穿"承设计。方法引入苗族服饰的纹样、款式、工艺特征以及苗族服饰元素的"穿"承设计技法,对"穿"承设计技法的应用进行理论分析。结论在"穿"承设计技法中关注消费者的审美需求,如何提高传统服饰的服用舒适度,建立湘西苗族服饰自主品牌;分析刺绣、扎染、蜡染、剪纸等传统服饰工艺瑰宝,追寻本土设计师的设计理念,提高人们对苗族服饰的审美情趣,生产符合都市人审美需求的现代服饰,使越来越多的人愿意继续穿着和欣赏苗族服饰,从而使湘西苗族服饰代代"穿"承。     

单层钎焊CBN砂轮表面形貌重构与磨粒切厚分布特征研究

为了更加准确地研究磨削加工机理及预测磨削结果,测量并重构单层钎焊CBN砂轮的表面形貌,并以此为基础研究不同工艺参数下的单颗磨粒切厚分布特征。结果表明:试验砂轮表面磨粒高度的分布形态并不符合正态分布特征,需要采用Johnson变换重构整个砂轮表面的磨粒高度分布特征;单颗磨粒切厚分布特征受磨削参数和砂轮磨损的影响较大。      

钛合金扭叶片与工业汽轮机极限转速关系探讨

长期以来,我国引进型反动式工业汽轮机的转速由于受到低压扭叶片材料的限制,不能满足某些特定运行场合高转速的要求。论述了用钛合金低压扭叶片提高工业汽轮机极限转速的可行性。     

PCM设备电容参数整体校准方法研究

半导体行业中普遍使用的工艺过程监控设备(PCM设备),是芯片产品中测环节必不可少的测量设备。PCM设备电容参数的准确测量，是保证与电容制作相关工艺参数的重要手段。针对国内PCM设备电容参数暂无溯源途径现状，根据其测试原理，研究了基于在片电容标准件的整体无损校准方法。采用增加绝缘层的半导体工艺，研制了高稳定性、频响至1 MHz、电容低至0.5 pF的在片电容标准件，满足了国内PCM设备电容参数自动校准需求，测量不确定度优于1%。研究了PCM设备电容参数溯源方法，从而保证了芯片产品PCM图形电容量值测量结果的准确一致，提高了计量效率。