一种基于AMBA总线的 NAND FLASH控制接口电路设计

NAND FLASH采用8根I／O信号线复杂的传送控制、地址和数据信息,其控制逻辑需要专门设计。该接口设计基于ARM 7TDMI核,AMBA AHB总线结构,支持1bit ECC校验和位宽转换。接口设计中的状态机由命令字发送状态组完成对NAND FLASH命令字发送,地址发送状态组完成写地址发送,读状态组完成读操作,写状态组完成写操作。该设计已通过仿真和芯片验证测试,功能符合NAND FLASH操作规范。     

基于Multi-Capture结构的扫描链优化算法

提出了一种基于多扫描链Multi-capture结构的扫描链优化算法,通过构造具有最小相关度的多扫描链结构,并利用Multi-capture内部响应复用为激励以侦测故障的原理,达到极大压缩测试向量长度的目的。实验结果表明,该优化算法平均优化率可以达到30％左右。     

基于软件模型的SDRAM指令FIFO的性能评估

针对SDRAM的读写操作具有一定的流水特性,“Garfield”的EMI(外部存储接口)设计中加入了指令缓冲(先入先出,FIFO),充分利用SDRAM的Burst模式．在处理器进行指令预取时,减少指令读取的平均等待时间。但这种方法的关键问题在于．如何选择恰当的指令缓冲深度．从而最大可能地提高整个芯片的执行效率。本文提出了一种基于软件模型来评估。首先介绍了为什么要在基于ARM7TDMI的外部存储器接口中插入指令FIFO,及如何通过软件建模的方法,用指令集模拟器和存储子系统模型模拟真实硬件环境。然后探讨了采用什么标准去评估指令执行效率的提高,最后通过实验数据得到对SDRAM指令FIFO的性能的评估。     

基于SEP4020处理器的远程自动售货系统

叙述了一个基于SEP4020处理器的远程自动售货系统,并详细叙述了硬件设计框架和软件各个模块的设计思路。实现了静态页面的访问、动态数据以及数据库的访问,图形界面模拟售货流程等。     

双滚轮-导轨式渐开线测量仪的空间几何误差补偿方法

为解决1级齿轮渐开线样板的精密测量难题,提出了一种基于双滚轮-导轨式渐开线测量仪的空间几何误差补偿新方法.首先,建立了空间几何误差与渐开线齿廓偏差之间映射关系的数学模型;然后,基于该模型对齿轮渐开线样板、基圆盘与芯轴的综合安装误差和基圆盘的圆度误差进行了具体分析;最后,通过改变渐开线展开长度对应的基圆盘使用圆弧段、综合...     

流量积算仪用于能源计量时需探讨的几个问题

文章基于JJG 1003—2005《流量积算仪》检定规程和JJG640—1994《差压式流量计》检定规程对流量积算仪的生产和使用现状进行分析,给出几个合理使用的建议。     

基于SEP4020的Linux NandFlash驱动设计

本文首先给出了NandFlash的硬件特点,分析了LinuxMTD层(Memory Technology Device)的特性,基于东南大学国家ASIC中心自主设计的嵌入式微处理器芯片SEP4020,给出了Linux下NandFlash驱动的详细设计方案。实验结果表明,基于这种驱动方案的NandFlash能进行有效的文件管理和稳定、快速的读写功能,非常适合于嵌入式产品的应用。     

疲劳试验机同轴度产生的原因及调整方法

0引言 拉、压疲劳试验机主要用于材料的力学性能试验。由于设计、加工、安装、使用等多方面因素的影响，试验机不可避免地存在同轴度误差。同轴度误差的存在使材料作拉伸试验时引入附加弯矩，从而影响到试验结果的准确性。拉、压疲劳试验机的上、下液压夹头同轴度指标是影响材料疲劳寿命的一项重要技术参数，因此需要对上、下液压夹头不同轴产生原凶进行分析，然后进行调整，达到符合规程要求的同轴度，保证实验结果可靠性。     

环境温度对双滚轮-导轨式渐开线测量仪的影响

双滚轮-导轨式渐开线测量仪是一种无阿贝误差、误差源少、测量精度高的渐开线测量仪器,常用来测量高精度标准齿 轮和齿轮渐开线样板。 本文研究了环境温度对双滚轮-导轨式渐开线测量仪及齿轮渐开线样板的影响,发现当双滚轮-导轨式 渐开线测量仪的滚轮与待测齿轮渐开线样板的热膨胀系数相同时,环境温度的变化不会带来齿廓倾斜偏差,而滚轮与齿轮渐开 线样板的热膨胀系数不同时,在 20℃ ±5℃范围内环境温度的变化带来的齿廓倾斜偏差是随环境温度线性变化的,而且上述两 种情况环境温度的变化均只带来纳米量级的齿廓形状偏差,可以忽略。 通过 ANSYS 进行了渐开线样板、滚轮和导轨的热膨胀 仿真验证,并通过 GCr15 钢和 SiC 陶瓷材料的滚轮对材料为 GCr15 钢的渐开线样板的同一齿面进行了不同环境温度下的齿廓 偏差测量实验,环境温度变化时,GCr15 钢材料滚轮测得的齿廓倾斜偏差未发生明显改变,SiC 陶瓷材料滚轮测得的齿廓倾斜偏 差的变化量为 0. 71 μm/ ℃ ,与理论值 0. 73 μm/ ℃基本一致,两种材料滚轮测得的齿廓形状偏差均未发生明显改变。     

基于关键路径和面积预测的软硬件划分方法

本文提出了一种基于关键路径和面积预测的软硬件划分方法,这种划分方法将软硬件映射和任务调度合而为一,在调度过程中同时完成软硬件的映射,充分发挥了任务调度的作用.在实验过程中,我们对比了基于模拟退火算法的软硬件划分方法(SA)和基于路径分析的软硬件划分方法(PA).实验结果表明,我们提出的方法在成功率以及结果的优化程度上都能取得更好的效果.