500kV大跨越高塔电梯更新的若干问题

对500kV大胜关长江大跨越高塔原电梯的故障进行了分析,提出了电梯更新的解决方法,在新电梯选型的技术问题和安全问题上提出了相应的见解。     

大口径拼接压缩光栅波像差研究

为了研究大口径拼接压缩光栅的固定像差和随机像差对光学拼接的影响,采用数值模拟的方法,理论分析了参考光栅的衍射光斑特性。在有效判据的基础上,得到了光栅的拼接精度。结果表明,当拼接子光栅的波像差为1.0λ时,其最大拼缝偏差约为0.26个光栅周期,采取人工干预后,最大拼缝偏差增加到0.42个光栅周期。与此同时,最大角度偏差约为0.71μrad,两种特性参量均比无像差时的拼接要求大幅度降低。这一结果对高能量皮秒激光装置的改进有一定的积极意义。     

大功率短波发射系统天馈线阻抗匹配的解决方案

本文通过由于变换频率引发短波天线驻波上升、阻抗不匹配的问题,探讨短波天线系统阻抗匹配问题的解决方案。     

全息拼接光栅的误差研究

为了制作大面积拼接光栅,对全息光栅拼接误差进行了分析。利用参考光栅与光场光栅形成的莫尔条纹来控制拼接光栅位置和误差,确定了参考光栅莫尔条纹间距、倾斜度及相位与拼接光栅位置之间的关系。研究了参考光栅面和拼接光栅基片不平行时莫尔条纹与拼接光栅条纹的相位一致性,计算了光程差漂移对拼接光栅相位对准误差的影响,分析了工作平台移动对光栅拼接误差的影响。得出光栅拼接总误差为0.15λ,该误差接近光栅拼接精度要求,通过实验验证了全息光栅拼接误差分析的正确性。结果表明,利用参考光栅进行全息光栅拼接是可行的。全息拼接光栅的误差分析为制作米量级高精度拼接光栅提供了理论支持。     

一种改进图像融合算法

一、引言图像融合是将两个或两个以上的传感器获得的图像信息进行综合以便形成一幅数据更精确、更丰富的图像。图像融合由低到高分为三个层次:像素级融合,特征级融合和决策级融合。小波变换是目前图像融合中比较常用的方法,研究表明,在高维情况下,小波变换并不是最优     

Shipley光刻胶性能研究

基于曝光和显影理论对shipley光刻胶显影速度随曝光量的变化进行研究，得到其数学表达式．通过改变激光波长以及曝光量，显影液的温度、浓度、显影时间等，经台阶实验得到其实验数据．由拟合实验数据得到显影速度随曝光量变化的曲线，并通过对曲线的分析比较认识光刻胶的性能，以期为制作高质量、符合要求的光栅掩模工艺提供有价值的参数．     

拉曼光谱测量中的荧光抑制方法综述

拉曼光谱是物质的特征结构谱,但是在许多情况下,除了激发出拉曼散射光之外,还会激发出强度远大于拉曼散射的荧光,从而限制了拉曼光谱的应用。因此在拉曼检测中对荧光采取抑制措施是十分必要的。在过去的几十年里发展了多种荧光抑制方法,包括荧光淬灭剂法、光漂白法、红外/紫外激发法、偏振调制法、移频激发法、高频调制法、门控法、数值处理法、非线性效应法等。文中概括性地介绍了上述各种技术方法的原理,并扼要地分析比较了各自的性能特点。     

一种提高光谱仪中线阵CCD信噪比的方法

分析了CCD延长积分时间后各像元光生电荷的变化及其相互之间的影响．在此基础上。结合CCD输出信号的信噪比随积分时间延长而提高的原理,提出了根据CCD各像元接收到的光照度不同而采用不同积分时间的方法。即分段积分法．该方法的显著特点是。可以允许CCD中部分像元达到饱和．实验测量的结果表明。该方法可以有效抑制随机噪声,提高信噪比。并且有利于扩大CCD的光谱测量范围．     

表面粗糙度对 GCr15 / 35 CrMo 摩擦副摩擦磨损特性的影响

在3号锂基脂润滑条件下,研究了35CrMo试块粗糙度对GCr15/35CrMo摩擦副摩擦磨损性能的影响。借助扫描电子显微镜分析了不同粗糙度的试块磨损后的表面形貌,结合35CrMo支撑轴与无内圈滚针轴承的接触工况,分析了粗糙度影响该摩擦副的磨损机理。结果表明:试块表面粗糙度存在一个最佳的范围,在此范围内,摩擦系数和磨损率均相对较小;试块表面粗糙度过高或过低时,磨损率均比较大;粗糙度较大时,试块损伤以粘着损伤为主。     

便携式光谱仪的CCD智能检测器设计

光谱仪是一种重要的光电检测仪器,CCD光谱仪正朝着小型化甚至微型化的方向发展.针对便携式光谱仪的特点及要求提出一种光谱仪CCD智能检测器设计方案,它结合了单片机智能化控制的特点和CPLD时序准确、可编程的优点.并且该检测器集成了USB数据接口,可通过计算机软件进行光谱采集,并能实时控制积分时间,实现了光谱仪CCD检测器的小型化、智能化和集成化.